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时间:2020-03-22
《高精度紧缩场的机械精度检测与电性能验证.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、2014年1月北京航空航天大学学报January2014第40卷第1期JournalofBeijingUniversityofAeronauticsandAstronauticsV01.40No.1高精度紧缩场的机械精度检测与电性能验证栾京东李晓星周国锋王魁奎(北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京100191)摘要:根据天线型面精度的确定依据,建立了以半光程差为最小量的型面精度计算模型,据此编写了天线面板测调程序,对高精度紧缩场的型面精度进行了检测,并采用自由拟合的方法对馈源进行了定位,通过机械精度检测,该紧缩
2、场反射面型面静区精度达到26斗m,机械精度达到理论和设计要求.最终的电气测试结果表明该紧缩场在26~110GHz时具有优良的电气性能,验证了天线机械精度检测结果的正确性.该方法使机械装调效率显著提高,具有重要的工程应用价值.关键词:紧缩场;半光程差;坐标转换;型面精度;电气性能中图分类号:TB22;TN82文献标识码:A文章编号:1001-5965(2014)01-0104—06Mechanicalaccuracymeasuringandelectricalperformancevalidationforhigh-p
3、recisioncompactantennatestrangeLuanJingdongLiXiaoxingZhouGuofengWangKuikui(SchoolofMechanicalEngineeringandAutomation,BeijingUniversityofAeronauticsandAstronautics,Beijing100191,China)Abstract:Basedonthedeterministicbasisofthesurfaceaccuracyfortheantenna,comput
4、ationalmodel—ingwiththesemi-opticalpathdifferenceasminimumvaluewasestablished.Asaresult,asoftwareprogramforsurfacemeasurementandadjustmentofreflectorantennawasdeveloped.TheSurfaceaccuracyofthehigh-precisionreflectorantennawasmeasuredandantennafeedwaspositionedu
5、singfreefixing.Thesurfaceaccu—racyofcentralzoneforthelargeparabolicreflectorantennais26仙m.Electricalperformancetestresultsshowthatthecompactrangehasexcellentelectricalperformanceinthefrequencyof26~110GHz,andverifythecorrectnessofthemechanicalaccuracytestresults
6、.Thistechniquenotonlyimprovestheefficiencyofmechan-icalalignmentsignificantly,butalsopossessespotentialapplicablevalueinengineering.Keywords:compactantennatestrange;semi—opticalpathdifference;coordinatestransformation;sur’faceaccuracy:electricalperformance紧缩天线试
7、验场(CATR,CompactAntennaTestRange)简称紧缩场或紧凑场,可以在近距离上提供一个性能优良的平面波测试区,利用这个测试区可以对被测天线的幅射和分散散射特性进行测量¨。J.因为紧缩场系统可以架设在微波暗室中,所以具有全天候测试、操作方便、保密性好等特点‘41.紧缩场机械精度检测主要涉及天线的几何特性量的测量,通常包括天线反射面型面精度和馈源定位精度两部分,而天线的机械精度与电气性能密切相关.机械精度的调整不仅要达到理论和设计要求,而且其最终精度检测结果需要由电气性能测试验证.与一般天线测试不同,
8、紧缩场静区场检测要求测试系统具有更高的机械定位精度和幅相测试精度"。,高精度反射面和精确的馈源定位是保证紧缩场质量的基础。天线面板的安装调整水平成为影响天线反射面精度的主要因收稿日期:2013-03-29;网络出版时间:2013.06-2817:28网络出版地址:WWW.enki.net/kems/detail/11.2625.V.201306
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