EL跟踪测试汇总报告课件.ppt

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1、EL跟踪测试实验汇总报告2010-01-10一.实验目的二.实验步骤三.数据汇总四.裂纹组件EL图举例五.各工序产生裂纹分布图六.各工序产生裂纹原因初步分析和改善建议七.结论目录目的：通过对同一批组件在生产线各个工序时的EL测试，找出导致组件裂纹产生的主要工序，以便针对性的找出降低组件裂纹率的办法。实验目的我们分别对跟踪组件在层压前、层压后、总装后、和包装前进行EL测试，示意图如下。实验步骤层压EL测试总装电性能测试清洗包装层压准备EL测试EL测试EL测试实验从2009.12.2日起至2009.1

2、2.26日结束，共跟踪了949Pcs组件，其中裂纹组件共71Pcs.总裂纹比率为7.48%.跟踪组件总数裂纹组件总数裂纹总比率层压前裂纹组件数比率层压后裂纹组件数比率总装裂纹组件数比率包装前裂纹组件数比率949717.48%111.16%161.69%636.64%717.48%数据汇总具体各个工序产生裂纹比率如下图所示。数据汇总数据汇总根据6车间12月份投产情况，我们跟踪的组件电池片信息及裂纹比率情况如下。电池供应商型号档次栅线数抽测数裂纹组件数裂纹比率CSI6A-P15.50%三栅线11714

3、11.97%6P-P15.50%三栅线105109.52%6P-P15.75%三栅线15474.55%晶澳6P-P15.50%两栅线5435.56%6P-P15.75%两栅线60711.67%6P-P16.00%两栅线15742.55%6P-P16.25%两栅线5235.77%MD6P-P15.60%两栅线10565.71%6P-P15.80%两栅线991010.10%顺风5A-M17.30%两栅线46715.22%数据汇总各电池片厂商总的裂纹比率情况如下：裂纹举例以下为跟踪时发现的一些裂纹组件及

4、电池片。（列举事例4个）总装后（MD-15.6%)0609521261537层压前（CSI-15.75%)06094910014000609521220819层压后(晶澳15.5％）0609521251023裂纹电池片裂纹电池片包装前（CSI-15.50%)下面是各工序产生的裂纹分布情况。层压前共产生裂纹组件10Pcs,产生裂纹比率为1.05%,其中裂纹电池片10片。下图是层压前的组件裂纹分布，从图中我们可以看出，裂纹主要分布在组件中间电池片位置。层压前跟踪组件EL图中增加裂纹分布图1098765

5、43211111111111接线盒位置123456图1裂纹分布图层压后跟踪组件EL图中增加裂纹分布图1098765432111113接线盒位置层压后产生裂纹组件6Pcs,产生裂纹比率为0.63％，其中裂纹电池片7片。下图是层压后的组件裂纹分布，图中所示裂纹分布并不规律，主要分布在组件边侧电池片位置。图2裂纹分布图总装产生裂纹组件47Pcs,产生裂纹比率为4.95％，其中裂纹电池片74片，下图是总装后的组件裂纹分布图，图中表现出来的裂纹多且分布广，但靠近接线盒的第二列位置电池片裂纹特别严重，尤其是2

6、*3、2*4和2*5位置的电池片，多次反复出现裂纹。图3裂纹分布图图4包装前产生裂纹组件8Pcs,产生裂纹为0.84%,其中裂纹电池片11片。下图是包装前的组件裂纹分布图，从图中看，裂纹少，但分布较为有规律，在组件中心位置的两侧电池片上。裂纹分布图从我们跟踪的组件裂纹比率来看，组件的裂纹情况比较的严重，从各工序增加裂纹的统计表中可以看出，总装工序产生的裂纹最为严重，占了总裂纹组件数量的65.21％。从电池片的厂家类别来看，单晶电池片组件的裂纹依然偏高于多晶电池片，而多晶电池片中，CSI电池片组件裂

7、纹率仍然较高。从裂纹电池片的分布情况来看，各个工序的裂纹分布情况，分别反映了目前各自工序中导致组件裂纹产生的一些问题，有抬动时组件的弯曲问题，有操作方面问题，机器设置合理性问题等等。初步分析1.层压前工序分析：层压前工序主要有单焊，串焊，层压准备，和目测检验工序，从组件电池片产生裂纹的分布来看，主要集中在组件中部电池片位置，分析为与抬动组件时组件中间部分弯曲有关。建议：目前是大约两台层压准备桌对应一台目测架，忙的时候由于来不及目测，层压准备人员将来不及目测的先放置在放置架上，目测人员再从放置架上抬

8、出进行目测，建议再增加目测架，达到一台层压准备桌对应一台目测架，这样就可以将来不及目测的组件先放在空着的目测架上，而目测人员看完后可以直接进行再次目测，而不必再从放置架上抬出进行目测。如下图所示，图5为目前层压前组件目测前后的搬运路线，图6为建议改动增加后。比较明显，改动后的搬运距离减少，避免了来回搬运，相应的也会减少组件由于搬运产生裂纹的几率。放置架目测架层压准备桌①③②图5目测架放置架层压机层压机图6①②分析及改善建议层压准备桌层压准备桌层压准备桌目测架分析建议2.层压工序分析