电法勘探（电剖面）ppt课件.ppt

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1、地球物理勘探电法勘探方法与应用第一篇电阻率法第2章电剖面法电剖面法的特点是：采用固定极距的电极排列，沿剖面线逐点供电和测量，获得视电阻率剖面曲线，通过分析对比，了解地下勘探深度以上沿测线水平方向上岩石的电性变化。在水文地质和工程地质调查中能有效地解决有关地质填图的某些问题：如划分不同岩性的陡立接触带、岩脉；追踪构造破碎带、地下暗河等，并可发现浅部的局部不均匀体（溶洞、古窑等）。电阻率剖面法简称电剖面法，根据电极排列的不同，主要有（1）联合三极装置剖面法，简称联合剖面法；（2）对称四极装置剖面法，简称对称剖面法；（4）偶极剖面法；（5）中间梯度法等几种类型。第2章电剖面法

2、本章介绍电剖面法的不同排列形式的装置特点，极距选择原则及各种方法视电阻率异常曲线的解释方法。电剖面法主要任务是研究倾角较大的或水平方向电性变化较大的地电断面。由于各种装置相对于不均匀体的位置有比较复杂的关系，因此曲线的正演运算相当复杂。所以，在解释过程中主要是进行定性解释。在研究方法上，主要是通过已知断面的物理或数值模拟结果，分析曲线的异常特征，确定其解释方法。在叙述各种方法时，以联合剖面法为重点。§1.2.1电剖面法概述一、电剖面法各种装置形式及极距的选择供电极距（L=AB/2）选择主要考虑下列因素：覆盖层厚度（H）及电阻率，地电断面的产状、规模、相邻地质体的影响及其它

3、干扰情况等。通常对联合剖面法，L一般取（5~10）H；对对称四极法，L取（3~5）H；对中间梯度法，L取（35~40）H；对偶极剖面法，OO’取（3~5）H。MN距离通常等于点距或两倍点距，且满足：二、电剖面法的测网布置根据地质任务、工作比例尺，常用的比例尺和测网密度（线距×点距）见下表。待测工区所布置的测线应相互平行，并垂直主要构造走向。比例尺线距（米）点距（米）1：250002501001：10000100~20050~801：500050~10020~401：200020~4010~20三、电剖面法测量首先根据设计及野外试验，确定装置类型和极距后，计算相应的装置系数

4、K值（单位为米）；测量及I，按视电阻率公式计算s值：点号KIUMNs备注测区：——测线：——日期：———装置：——AB：———MN：———s§1.2.2联合剖面法联合剖面法是由两组三极装置联合进行探测的一种视电阻率测量方法，具有分辨能力高。异常明显的优点，但也有装置较笨重、地形影响大等缺点。它在水文地质和工程地质调查中获得广泛的应用，是山区找水常用的、效果显著的方法。无穷远极C通常设在测区基线方向离测区最边缘的测线大于五倍AO的距离处。如果因为地形或地物障碍无法在基线方法布极，那么C极在平行测线方法布置，距测区边缘点的距离应大于十倍AO。联合剖面法的纪录及作图点号

5、KIBUMNsB备注点号KIAUMNsA备注测区：——测线：——日期：——装置：——AB/2：——MN：——ssAsB测点正交点反交点一、典型地电断面上联合剖面视电阻率曲线的异常特征垂直和倾斜接触面、低阻脉、高阻脉、良导球体等（一）两种岩石陡立接触面上的ρs曲线1、视电阻率表达式设点源A（I）、观测点M、N均位于地表，，测线x轴垂直于接触面，A与接触面的距离为d，AM间距为x。垂直接触面两边岩石的电阻率分别为ρ1和ρ2。ρ1ρ2A（+I）虚电源A’反射电流K12I透射电流（1-K12）IMxd使用镜像法求解两种岩石陡立接触面上的ρs表达式A、M都在介质1ρ1

6、ρ2A（+I）虚电源A’K12IM(x)xA在介质1、M在介质2ρ1ρ2A（+I）（1-K12）IMx0d两种岩石陡立接触面上的ρs表达式从ρ1至ρ2接触面的电性反射系数：ρ1ρ2A（+I）虚电源A’MxdA、M都在介质2反射电流K21I透射电流（1-K21）I两种岩石陡立接触面上的ρs表达式两种岩石陡立接触面上的ρs表达式MN、B位于接触面不同位置时的视电阻率表达式2、两种岩石陡立接触面上的联合剖面装置ρs视电阻率曲线2、两种岩石陡立接触面上的联合剖面装置ρs视电阻率曲线（1）当MN在分界面左侧，且离界面足够远处介质为的地表上，界面的影响可以忽略，相当于均匀半空间的情况

7、。（2）MN逐渐向右移动，接近分界面时，电流线被低阻介质吸引，电流密度将大于j0，因此s>MN；且当MN位于介质边缘（MN尚未过界面）时，出现极大值。2、两种岩石陡立接触面上的联合剖面装置ρs视电阻率曲线（3）当MN跨界面，MN由1变为2，而界面上，根据电流密度法向分量连续的边界条件，所以在界面两侧jMN不变化，由于1>2，使曲线在过界面以后产生跃变：（4）当A经过界面移向2时，由于1的排斥作用逐渐减弱，jMN也逐渐趋近j0，因而2、两种岩石陡立接触面上的联合剖面装置ρs视电阻率曲线SA和SB曲线不重合，