HTBS-V变压器空载负载特性测试仪结构外观.docx

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1、文档HTBS-V变压器空载负载特性测试仪结构外观液晶显示界面主要有十三屏，包括主菜单、十二个子功能界面，下面分别加以详细介绍。1.主菜单界面主菜单界面如图三所示图三主菜单界面主菜单共有十二个可选项，包括：参数设置、三相短路、三相空载、单相短路、单相空载、测试结果、记录查询、零序阻抗、波形显示、频谱分析、备用菜单、系统校准。当光标指向哪一个功能选项时，哪个图标就变为反白显示，可见图四界面中选中项为‘参数设置’功能，按上下左右键可改变光标指向的选项。此时，按‘12/12文档’键进入选中的功能显示屏。2．设置参数界面在

2、选中‘设置参数’功能时进入特性测试参量设置屏（如图四所示），在此屏中可对变压器特性测试的必要的参数进行设置，包括：试品编号、PT变比、CT变比、设置容量、高额电压、低额电压、高压直阻、低压直阻、当前温度、校正温度、校正指数、校正方式、设置日期、设置时间。共十二个项目。图四设置参数屏各项参数的含义和作用如下：Ø试品编号：为了区分所测试的变压器，人为的为其编号（共6位数），以便在查阅时不会将几组结果混淆。Ø12/12文档电压变比，电流变比：当采用外接电压、电流互感器进行扩展量程试验时，需要将参数设置为相应的数值。例如

3、：采用10KV/400V时，应将电压变比设置为25。Ø设置容量：被测变压器的额定容量值，用于确定被测变压器的额定电流等参数。Ø高额定电压：指被试变压器高压侧的额定电压值，用于区别不同输入电压等级的变压器。Ø低额定电压：指被试变压器低压侧的额定电压值，用于区别不同输出电压等级的变压器。Ø高压直阻：被测变压器的高压侧绕组的直流电阻值，在这里取3个线电阻平均值。Ø低压直阻：被测变压器的低压侧绕组的直流电阻值，在这里取3个线电阻平均值。Ø当前温度：输入当前的被测变压器的本体温度，用于对测试结果自动做温度校正，Ø校正温度：

4、短路试验数据折算的标准温度；因国标给定的短路试验数据都是在规定的标准温度的情况下测试得出，不同类型的变压器的标准温度也不同，例如：油浸式变压器的标准温度为75℃。Ø校正指数：数值决定于铁芯硅钢片种类，热轧的取1.8，冷轧的取1.9~2。Ø校正方式：指短路试验进行温度校正的方式，分为普通温度校正和直阻式温度校正（带附加损耗温度校正）两种。Ø设置日期：对当前日期（年月日）进行设置，设置方法为直接输入相应的数字后按确定即可。12/12文档Ø设置时间：对当前时间（时分秒）进行设置，设置方法为直接输入相应的数字后按确定即可

5、。3．三相短路参数测量界面在选中‘三相短路’项目时，进入三相三线法测量特性的短路参数测量屏，如图五所示：图五三相短路屏屏幕显示出短路试验各相的实际电压、电流、功率以及平均电流、阻抗电压、校正到额定条件的阻抗电压、负载损耗、校正到额定条件的负载损耗；并提示出锁定条件的电流值。当施加测试电源后（用调压器加压，根据实测电流来调节，将其调到铭牌中高压侧额定的数值），待数据稳定时按F1键将数据锁定（屏中会提示“已锁定”），如果三相平均电流的数值达到锁定目标值（图中为2.89A）将自动锁定，并得出最终结果。4．三相空载参数测

6、量界面12/12文档在选中‘三相空载’项目时进入三相三线法测量空载参数测量屏，如图六所示：图六三相空载屏屏幕显示出空载试验各相的实际电压、电流、功率以及平均电压、空载电流、空载损耗、校正到额定条件的空载损耗；并提示出锁定条件的电压值。当施加测试电源后（用调压器加压，根据实测电压来调节，将其调到铭牌中低压侧额定的数值），待数据稳定时按锁定键将数据锁定（屏中会提示“已锁定”），如果三相平均电压的数值能达到锁定目标值（图中为0.4KV）将自动锁定，并得出最终结果。5．单相短路测量界面在选中‘单相短路’项目时进入单相法测

7、量特性的短路参数测量屏，如图七所示：12/12文档图七单相短路屏屏幕显示出单相法测量变压器短路损耗的实测参数，包括：电压、电流、功率、阻抗电压、短路损耗、短路损耗校正值；测量单相变压器的短路损耗参数时也用这个界面。6．单相空载测量界面在选中‘单相空载’项目时进入单相法测量特性的空载参数测量屏，如图八所示：12/12文档图八单相空载屏屏幕显示出测量单相变压器空载损耗的实测参数，包括：电压、电流、功率、空载电流百分比、空载损耗校正值；测量单相变压器的空载损耗系列参数时也用这个界面。7．测试结果界面测试结果屏用来查看刚

8、进行的特性试验的各种数据，如图九所示：12/12文档图九测试结果屏当做完三相短路和三相空载试验并锁定数据后，进入此界面仪器根据实测数据对被测变压器的各参数进行误差计算。可显示出实测的阻抗电压、校正到额定条件下的阻抗电压、实测负载损耗、校正到额定条件下的负载损耗、实测的空载电流百分比、校正到额定条件下的空载电流百分比、实测空载损耗、校正到额定条件的空载损耗，当前测试的温度和