实验一TTL各种门电路功能测试.doc

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1、实验序号实验题目TTL各种门电路功能测试实验时间实验室1.实验元件(元件型号;引脚结构;逻辑功能;引脚名称)1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个2.数字万用表1块3.74LS20双四输入与非门1片4.74LS02四二输入或非门1片5.74LS51双2-3输入与或非门1片6.74LS86四二输入异或门1片7.74LS00四二输入与非门2片(1)74LS20引脚结构及逻辑功能(2)74LS02引脚结构及逻辑功能(3)74LS51引脚结构及逻辑功能(4)74LS86引脚结构及逻辑功能(5)74LS00引脚结构及逻辑功能2.实验目的(1)熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。(2)熟悉万用表

2、的使用方法。3.实验电路原理图及接线方法描述:(1)74LS00实现与电路电路图(2)74LS00实现或电路电路图(3)74LS00实现或非电路电路图(4)74LS00实现异或电路4.实验中各种信号的选取及控制(电源为哪些电路供电;输入信号的分布位置;输出信号的指示类型;总结完成实验条件)5.逻辑验证与真值表填写(1)74LS00实现与电路电路图逻辑分析逻辑运算过程分析:真值表:输入输出AB000010100111(2)74LS00实现或电路电路图逻辑运算过程分析:真值表:输入输出AB000011101111(3)74LS00实现或非电路电路图逻辑运算过程分析:真值表:输入输出AB001

3、010100110(4)74LS00实现异或电路电路图逻辑运算过程分析:真值表:输入输出AB0000111011106.实验总结(安全事注意项,操作要点,实验结果分析)注意事项:1、连接线路时要关闭电源,检查电路连接无误后方可打开电源。2、使用电压表或电流表时,应参考测试参数的规范值及测试电路,正确选择量程3、在安装各种芯片是应注意选择正确的插孔,同时注意芯片的左右不能接反,否则将导致芯片烧毁。4、在使用是严格参照相关芯片的参数图,明确各引脚的作用及接线方式,防止因接错引脚而无法得出真确的运算结果或烧坏芯片。操作要点:1、在接线前应对将使用到的导线进行检查,防止有开路的导线混在其中,接好

4、线后检查很麻烦,影响实验的效率和质量。2、在连接芯片时有半圆缺口的一段朝向左边安装。3、接线时同种类型的接线端使用相同颜色的线连接以便进行线路的检查。结果分析:本实验主要通过74LS00芯片来实现各种逻辑门的运算功能,实验过程中首先应了解74LS00芯片的逻辑运算过程,其次根据摩根定律及相关逻辑代数定力及公式进行推导,列出74LS00芯片实现各种逻辑门的过程以便于进行电路的设计及实现。本实验通过多次的与非运算实现了上述四种逻辑门的运算,具体的运算过程及真值表见上表。教师评语及评分:签名:年月日

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