欢迎来到天天文库
浏览记录
ID：39183312
大小：338.82 KB
页数：10页
时间：2019-06-26
《《集成电路测试》课件》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、数字集成电路测试 与可测试设计思考题测试的对象是什么？测试的目的是什么？测试的内容是什么？测试的方法是什么？测试的工具是什么？测试的平台是什么？测试的未来是什么？第一章引言1.1测试哲学1.2测试的作用1.3数字与模拟VLSI测试1.4VLSI发展趋势对测试的影响1.1测试哲学什么是VLSI测试？在实验中运行被测系统并分析其响应结果，以判断此系统是否正确运转。测试的三个组成部分：1.运行被测系统2.分析其响应3.做出正确判断1.1测试哲学验证、测试和诊断验证（verification）：验证系统级或寄存器传输级功能是否
2、正确测试（testing）：测试裸片（die）或芯片（chip）功能是否满足设计要求诊断(diagnose)：诊断裸片或芯片失效的原因1.1测试哲学测试的风险合格产品PQ不合格产品FQ通过测试的产品P未通过测试的产品FProb（P
3、PQ）Prob（F
4、PQ）Prob（P
5、FQ）Prob（F
6、FQ）1.2测试的作用作用：检验产品是否存在问题。好的测试过程可以将所有不合格的产品挡在到达用户手中之前。测试失败的可能原因：1.测试本身存在错误；2.加工过程存在问题；3.设计不正确；4.产品规范有问题。1.3数字与模拟VLSI测
7、试输入、输出信号测试仪器测试方法和理论失效判别方式DUT输入信号输出响应1.4VLSI发展趋势对测试的影响提升芯片的时钟频率即时测试ATE的成本EMI1.4VLSI发展趋势对测试的影响晶体管密度的增长测试复杂性特征尺寸与功耗电流测试
此文档下载收益归作者所有
