高速adc dac 测试原理及测试方法

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1、高速ADC/DAC测试原理及测试方法随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的

2、真正性能指标。一、ADC的主要参数ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有：?DifferentialNon-Linearity(DNL)?IntegralNon-Linearity(INL)?OffsetError?FullScaleGainError动态指标主要有：?Totalharmonicdistortion(THD)?Signal-to-noiseplusdistortion(SINAD)?EffectiveNumberofBits(ENOB)?Signal-to-noiseratio(SNR)?Spuri

3、ousfreedynamicrange(SFDR)二、ADC的测试方案要进行ADC这些众多指标的验证，基本的方法是给ADC的输入端淙胍桓隼?想的信号，然后对ADC转换以后的数据进行采集和分析，因此，ADC的性能测试需要多台仪器的配合并用软件对测试结果进行分析。下图是一个典型的ADC测试方案：PulseGeneratororSignalGenerator10MHzReference8113xAESGSamplingClockSignalConditioningBoardLatchingClockFilterADCNbitsData1690

4、0seriesPowerSupplySineWaveSignalGeneratorESGPSGGP-IBPC(withGPIB)AgilentVEELAN*YellowcoloredblocksareNOTincludedinthissolution如图所示，由Agilent的ESG或PSG做为信号源产生高精度、高纯净度的正弦波信号送给被测的ADC做为基准信号，ADC会在采样时钟的控制下对这个正弦波进行采样，变换后的结果用逻辑分析仪采集下来。ESG或PSG是非常纯净的模拟源，其相噪特性非常优异，因此可以产成非常纯净的正弦波，以下是PSG

5、的相噪特性：对于高精度ADC的测试来说，测试中需要对ESG或PSG产生的信号进行进一步的滤波以滤去谐波和杂散信号，滤波器的参数要根据用户实际使用的信号频率范围选择。对于高精度的ADC来说，采样时钟的抖动对于测试结果的影响非常大，因此测试中还需要高质量的码型发生器或信号发生器来产生ADC的采样时钟。采用码型发生器的好处是可以直接输出差分的方波信号，和ADC芯片接口比较方便。以下是8113X码型发生器的主要时钟指标：码型发生器由于是数字源，其时钟抖动很难控制到1ps以下，因此对于有12bit或更高精度的测试要求时，需要使用ESG或PSG作为

6、时钟源，ESG或PSG是高质量的模拟源，所以其相噪指标非常好.抖动相当于相噪的积分，因此PSG产生的时钟抖动可以<1ps。但由于ESG/PSG只能产生单端正弦波信号，所以和ADC接口时有时需要相应的转换电路，这个可参考芯片厂家的参考设计。由于ADC的模拟部分对于数字噪声非常敏感，因此ADC的供电要模拟和数字部分分开，PCB板上还要对模拟部分电源做充分滤波。测试中需要采用高质量的线性电源供电，Agilent的E363X或E364X系列都可以满足要求。ADC转换后的结果要通过逻辑分析仪采集下来，逻辑分析仪工作在状态采样模式，需要使用的

7、通道数取决于ADC的位数，状态采样率取决于ADC的采样率，存储深度取决于采样率和要分析的频率分辨率，同时逻辑分析仪还要能在高速数据传输率下提供可靠灵活的连接。Agilent的16900系列逻辑分析仪配合高性能的16950B采集模块和SoftTouch探头是一个很好的选择。三、ADC测试结果的分析ADC的静态指标是对正弦波的采样数据进行幅度分布的直方图统计间接计算得到，如下图所示，理想正想波的幅度分布应该是左面的形状，由于非线性等的影响，分布可能会变成右边的形状，通过对直方图分析可以得出静态参数的指标。以下是DNL和INL的计算公式：AD

8、C的动态指标是对正弦波的采样数据进行FFT频谱分析间接计算得到。一个理想的正弦波经A/D采样再做频谱分析可能会变成如下图的形状，除了主要的正弦波分量以外还产生了很多噪声、谐波和杂散，通过对这些分量的运算，可