实验3 x射线衍射粉末分析

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1、深圳大学实验报告课程名称:仪器分析实验实验项目名称:实验三X射线衍射与晶体物像分析学院:化学与化工学院专业:应用化学指导教师:朱才镇报告人:习雯影学号:2006141075班级:06应化同组人员:习雯影赵倩冯倩张秋吉郑艳萍实验时间:2009-4-22实验报告提交时间:2009-5-6教务处制1实验目的1、了解X衍射的基本原理以及粉末X衍射测试的基本目的;2、掌握晶体和非晶体、单晶和多晶的区别;3、了解使用相关软件处理XRD测试结果的基本方法。2实验原理1、晶体化学基本概念晶体的基本特点与概念:①质点(结构单元)沿三维空间周

2、期性排列(晶体定义),并有对称性。②空间点阵:实际晶体中的几何点,其所处几何环境和物质环境均同,这些“点集”称空间点阵。③晶体结构=空间点阵+结构单元。非晶部分主要为无定形态区域,其内部原子不形成排列整齐有规律的晶格。对于大多数晶体化合物来说,其晶体在冷却结晶过程中受环境应力或晶核数目、成核方式等条件的影响,晶格易发生畸变。分子链段的排列与缠绕受结晶条件的影响易发生改变。晶体的形成过程可分为以下几步:初级成核、分子链段的表面延伸、链松弛、链的重吸收结晶、表面成核、分子间成核、晶体生长、晶体生长完善。Bravais提出了点阵空

3、间这一概念,将其解释为点阵中选取能反映空间点阵周期性与对称性的单胞,并要求单胞相等棱与角数最多。满足上述条件棱间直角最多,同时体积最小。1848年Bravais证明只有14种点阵。图114种Bravais点阵晶体内分子的排列方式使晶体具有不同的晶型。通常在结晶完成后的晶体中,不止含有一种晶型的晶体,因此为多晶化合物。反之,若严格控制结晶条件可得单一晶型的晶体,则为单晶。2、X衍射的测试基本目的与原理X射线是电磁波,入射晶体时基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向。衍射方

4、向取决于晶体的周期或晶胞的大小,衍射强度是由晶胞中各个原子及其位置决定的。由倒易点阵概念导入X射线衍射理论,倒易点落在7Ewald球上是产生衍射必要条件。1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了X射线具有电磁波的性质,成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切

5、相关。这就是X射线衍射的基本原理。衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示:式中d为晶面间距;n为反射级数;θ为掠射角;λ为X射线的波长。布拉格方程是X射线衍射分析的根本依据。X射线衍射(XRD)是所有物质,包括从流体、粉末到完整晶体,重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质结构表征,以性能为导向研制与开发新材料,宏观表象转移至微观认识,建立新理论和质量控制不可缺少的方法。其主要分析对象包括:物相分析(物相鉴定与定量相分析)。晶体学(晶粒大小、指标化、点参

6、测定、解结构等)。薄膜分析(薄膜的厚度、密度、表面与界面粗糙度与层序分析,高分辨衍射测定单晶外延膜结构特征)。织构分析、残余应力分析。不同温度与气氛条件与压力下的结构变化的原位动态分析研究。微量样品和微区试样分析。实验室及过程自动化、组合化学。纳米材料等领域。3仪器与试剂仪器型号及生产厂家:BRUKERAXSGMBH公司D8ADVANCE型衍射仪。测试条件:管电压40KV;管电流40mA;X光管为铜靶,波长1.5417Å;步长0.06°,扫描速度0.3s;扫描范围为20°~80°。试剂:未知样品A、B、C、D。4实验步骤1、

7、打开电脑主机电源。2、开外围电源:先上拨墙上的两个开关,再开稳压电源(上拨右边的开关,标有稳压)。3、打开XRD衍射仪电源开关(按下绿色按钮)。4、开冷却水:先上拨左边电源开关,再按下RUN按钮,确认流量在20左右方可。5、开高压(顺时针旋转45°,停留5s,高压灯亮)。6、打开XRD控制软件XRDCommander。7、防光管老化操作:按照20KV、5mA;25KV、5mA;30KV、5mA;35KV、5mA;40KV、5mA;40KV、40mA程式分次设置电压、电流,每次间隔3分钟。设置方法:电压、电流跳到所需值后点se

8、t。8、设置测试条件:无机材料一般设置扫描角度为20°~80°,步长0.06°,扫描速度0.3s。9、点击Start开始测试。10、降高压:将电压、电流分别降至20KV,5mA后,点击Set确认。11、关高压:逆时针旋转45°,高压灯灭。12、等待5min,再关闭冷却水,先关RUN,再关左

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