现代材料分析方法复习概述

《现代材料分析方法复习概述》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。

1、一、填空及选择1、（）是X射线衍射分析等方法的技术基础；非相干散射在一般情况下则给衍射分析带来不利影响.2、扫描电镜二次电子像的衬度包括磁衬度、成分衬度、（）和形貌衬度。3、X射线检索手册按检索方法可分为两类，一类为字母索引，另一类为（）索引。4、X射线衍射波具有两个基本特征—衍射方向和衍射（），二者与晶体内原子分布规律密切相关。5、多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种，______________一般用于对样品的定量分析。8、DSC曲线是描述试样与参比物之间的____________与温度关系的一种热分析方法。9、X射线检索手册，按检索方法可分为两类，一类为______

2、________，另一类为字母索引。10、扫描电镜通过检测器检测到具有不同能量的信号电子，最常用的信号电子有背散射电子和（）。13、微商热重法是在程序控制温度下，测量物质____________与温度关系的一种技术。14、电子探针仪使用的x射线谱仪有波谱仪和（）两类。15、人射电子照射固体时将与固体中的电子、原子核等作用而发生散射，电子散射有弹性和非弹性散射之分，非弹性散射产生各种激发现象，称为______________。16、电子探针分析有3种基本工作方式，一是____________；二是线扫描分析；三是面扫描分析。19、进行微商热重分析的基本仪器为（）。A、热天平；B、新型热天平；C、

3、差示热电偶20、扫描电镜背散射电子像的衬度包括____________、形貌衬度、成分衬度。21、简单斜方点阵阵胞内阵点数为1，其阵点坐标为____________。22、差热分析曲线受多种因素影响，大体可分为仪器因素和操作因素，仪器因素主要包括：____________、坩埚材料与形状、热电偶性能等。23、透射电镜间接样品的制作涉及复型，按制备方法，复型主要分为一级复型、二级复型和（）复型．24、入射X射线可使样品产生产生很多现象，其中____________是X射线衍射分析方法的技术基础。25、影响衍射强度的其他因素可以引入相应的修正因子，包括多重性因子、吸收因子、___________等

4、。26、晶胞衍射强度Ib=

5、F

6、2Ie，

7、F

8、称为（）。27、目前X射线物相定量分析的仪器主要采用衍射仪，其定量分析方法包括（）。28、原子散射强度Ia=f2Ie，f为（）。29、多晶体x射线衍射方法包括照相法与（）。30、利用投影到荧光屏上的选区衍射谱进行透射电镜成像操作中，包括明场成像、暗场成像和______________。31、透射电镜像衬度从根本上可分为振幅衬度和相位衬度，振幅衬度分为两个基本类型：____________和衍射衬度。32、影响X射线衍射强度的因素中，_______________是等同晶面个数对衍射强度的影响因子。33、多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶

9、梯)扫描两种，步进(阶梯)扫描精度高，并受______________和步进时间影响。34、X射线检索手册，按检索方法可分为数值索引和字母索引，字母索引的第一项内容为_________________。35、电子探针仪使用的x射线谱仪有____________和能谱仪两类。36、透射电镜样品的制作非常复杂，可分为间接样品和（）样品制备。37、扫描电镜二次电子像的衬度包括形貌衬度、成分衬度、电压衬度和（）。38、X射线物相定量分析方法中的内标法，包括K值法、内标曲线法、（）等。A、直接法；B、任意内标法；C、外标法。39、热重曲线与微商热重曲线的对应关系中包括微商热重曲线上的（）与热重曲线的台阶

10、数相等。A、峰数；B、峰顶点；C、峰面积。40、X射线光电子谱用于元素定量分析有()、灵敏度因子法、标样法等各种方法A、微分谱法；B、理论模型法；C、内标法。41、晶胞散射强度Ib=

11、F

12、2Ie，F称为（）。A、极化因子；B、原子散射因子；C、结构因子。42、透射电镜样品的制作涉及复型，按制备方法，复型主要分为一级复型、（）和萃取复型。A、间接；B、二级复型；C、萃取43、入射X射线可使样品产生产生很多现象，其中____________产生光电子，是x射线光电子能谱分析方法的技术基础。44、影响衍射强度的其他因素可以引入相应的修正因子，包括多重性因子、___________、温度因子等。45、

13、透射电镜的成像系统可以由衍射状态变换到成像状态，这种变换是通过改变中间镜的____________实现的。46、多晶体x射线衍射仪的核心部件是（）。47、电子探针分析有3种基本工作方式．一是定点分析；二是线扫描分析；三是（）。48、透射电镜的成像系统可以由衍射状态变换到成像状态，这种变换是通过改变（）的激磁强度实现的。A、中间镜；B、物镜；C、目镜。49、多晶体x射线衍射仪中的辐射测量电路是保证（