《数字电子技术基础》实验

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1、实验一门电路逻辑功能测试一、实验目的1．熟悉门电路的逻辑功能。2．熟悉常用集成门电路的引脚排列及其使用。二、实验设备和器件1．直流稳压电源、信号源、示波器、万用表、面包板2．74LS00四2输入与非门74LS04六反相器74LS86四2输入异或门三、实验内容1．非门逻辑功能（1）熟悉74LS04的引脚排列，如图1（a）所示，其内部有六个非门。图174LS04引脚图与实验电路（2）取其中的一个非门按图1（b）所示接好电路。（3）分别将输入端A接低电平和高电平，测试输出端F电压，并转换成逻辑状态填入表1。表1非门逻辑功能输入输出AF电压（V）F012．与非门逻辑功能（1

2、）熟悉74LS00的引脚排列，如图2（a）所示，其内部有四个2输入端与非门。图274LS00引脚图与实验电路22（2）取其中的一个与非门按图2（b）所示接好电路。（3）分别将输入端A、B接低电平和高电平，测试输出端F电压，并转换成逻辑状态填入表2。表2与非门逻辑功能输入输出ABF电压（V）F000110113．异或门逻辑功能（1）熟悉74LS86的引脚排列，如图3（a）所示，其内部有四个2输入端异或门。图374LS86引脚图与实验电路（2）取其中的一个异或门按图3（b）所示接好电路。（3）分别将输入端A、B接低电平和高电平，测试输出端F电压，并转换成逻辑状态填入表3

3、。表3异或门逻辑功能输入输出ABF电压（V）F000110114．与或非门逻辑功能（1）利用与非门和反相器可以构成与或非门，其原理图如图4所示。图4与或非门原理图（2）按照原理图，将74LS00和74LS04接成与或非门。22（3）当输入端为表4中各组合时，测试输出端F的结果并填入表4。表4与或非门逻辑功能输入输出ABCDF电压（V）F0000000100110101011111115．与非门对输出的控制（1）任取74LS00中的一个与非门，按图5所示接好电路。输入端A接一连续脉冲，输入端B分别接高电平和低电平。图5与非门对输出的控制（2）观察两种情况下的输入、输出

4、波形，并将结果用文字总结表述。四、实验报告1．根据表格记录测试数据。2．写出各门电路的逻辑表达式，与测试数据相验证并整理实验结果。五、思考题1．查阅数据手册，几种TTL集成门电路的UOH和UOL的典型值是多少？2．如何判断门电路的逻辑功能是否正常？3．与非门如何实现对输出的控制作用？22实验二组合逻辑电路一、实验目的1．掌握组合逻辑电路的一般分析方法。2．熟悉组合逻辑电路的设计方法。二、实验设备和器件1．直流稳压电源、万用表、面包板2．74LS00四2输入与非门74LS86四2输入异或门74LS04六反相器74LS32四2输入或门74LS08四2输入与门3．1kΩ电

5、阻、发光二极管三、实验内容1．组合逻辑电路功能测试（1）利用74LS00、74LS04、74LS32组成图1（a）所示电路，输出端接LED以便于观察。74LS32引脚排列如图1（b）所示，内部有四个2输入端或门。图1组合逻辑电路功能测试（2）分别将输入端A、B、C按表1所示组合接高、低电平，观察输出端状态，将测试结果填入表1。表1组合逻辑电路功能测试表输入输出ABCF000001010011100101110111（3）写出F的逻辑表达式，将运算结果与测试数据相比较。2．半加器逻辑功能测试（1）利用74LS08、74LS86组成如图2（a）所示半加器。74LS08引

6、脚排列如图2（b）所示，内部有四个2输入端与门。22图2半加器逻辑功能测试（2）按表2要求改变输入端状态，观察输出端变化，将测试结果填入表2。表2半加器逻辑功能测试表输入输出AiBiSiCi000110113．全加器辑功能测试（1）全加器原理图如图3所示，利用74LS08、74LS86、74LS32组成全加器。图3全加器逻辑功能测试（2）按表3要求改变输入端状态，观察输出端变化，将测试结果填入表3。表3全加器逻辑功能测试表输入输出AiBiCi-1SiCi000001010011100101110111224．设计一个四位奇偶校验器，当A、B、C、D四位数中有奇数个1

7、时输出F为0，否则输出为1。（1）根据电路要求，列出真值表。（2）写出逻辑表达式。（3）化简并利用已有集成门电路组成实验电路进行验证。参考电路如图4所示。图4四位奇偶校验器四、实验报告1．根据表格记录测试数据。2．整理实验数据和图表，对实验结果进行分析讨论。3．对组合逻辑电路的分析方法和设计方法进行总结。五、思考题1．是否可以采用其他逻辑门电路实现半加器、全加器和四位奇偶校验器？2．在进行组合逻辑电路设计时如何选择实现方案？22实验三组合逻辑电路应用一一、实验目的1．熟悉集成译码器逻辑功能和应用。2．熟悉显示译码器的工作原理。3．了解中规模数字集成电路的性能和使