扫描探针显微镜

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时间:2018-10-07

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1、第四章扫描探针显微镜引言所谓扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscopySPM)是用一尖锐的传感器探针在样品表面上方扫描,通过“感触”来检测样品表面性质,并不用物镜来成像,这是与其他显微镜最主要的区别。扫描探针显微镜是一个显微镜的大家族,其中第一个成员是扫描隧道显微镜它是IBM的G.Binning和H.Rohrer博士及其同事于1982年发明的,1986年获诺贝尔物理学奖受扫描隧道显微镜工作原理的启发,人们又研制出一系列工作原理相类似的显微镜,例如:(1)原子力显微镜(AFM)(2)磁力显微镜(MFM)(3)摩擦力显微镜(L

2、FM)(4)化学力显微镜(CFM)(5)静电力显微镜(EFM)我们主要介绍扫描隧道显微镜与原子力显微镜1.扫描隧道显微镜扫描隧道显微镜STM(ScanningTunnellingMicroscopy)是IBM苏黎世实验室的G.Binning和H.Rohrer博士及其同事发明的。STM的研制工作始于1978年1982年在CaIrSn4单晶上获得第一张单原子台阶像1983年获得第一张Si(111)—7×7表面重构像,从而宣告了具有原子级空间分辨能力的新一代显微镜的诞生。1986年G.Binning和H.Rohrer与发明电子显微镜的E.Ruska

3、一道获得诺贝尔物理学奖。STM实验可以在大气、真空、溶液、惰性气体甚至反应性气体等各种环境中进行,工作温度可以从绝对零度到摄氏几百度。用途广泛:(1)可用于原子级空间分辨率的表面结构观测,用于研究各种表面化学过程和生物体系(2)是纳米结构加工的有力工具,可用于制备纳米尺度的超微结构,还可用于操纵原子和分子等1.1扫描隧道显微镜的工作原理及工作模式工作原理:当探针与样品表面间距小到纳米量级﹙﹤1nm﹚时,经典力学认为,由于中间的空气将探针与样品表面隔开,探针与样品表面是不导电的;但从量子力学的观点来看,探针尖端的原子与样品表面的原子具有波动性,

4、两者的波函数会发生重叠,因此探针与表面之间会产生电流,该电流称隧道电流(见图26.1)隧道电流的强度与针尖和样品间距S成指数关系,对间距S的变化非常敏感,STM就是利用这一原理来工作的。它的工作模式有两种:恒高模式恒流模式①恒流模式:探针在样品表面扫描时,通过反馈回路控制隧道电流恒定不变,即探针与样品表面相对距离保持恒定,这时探针沿xy平面内扫描时在z轴方向的运动就反映了样品表面的高低起伏,这种扫描模式叫恒流模式。见图2.2(a)②恒高模式:探针在样品表面扫描时,使探针的绝对高度不变,这时探针与样品表面的相对距离就会改变,即隧道电流会改变,通

5、过测量电流的变化来反映样品表面的高低起伏。这种扫描模式叫恒高模式。(见图2.2(b)恒电流模式是STM常用的工作模式,而恒高模式仅适用于对起伏不大的表面进行成像。当样品表面起伏较大时,由于针尖离表面非常近,采用恒高模式扫描可能造成针尖与样品表面相撞,导致针尖与样品表面破坏。1.2扫描隧道显微镜的装置STM是一种近场成像仪器,针尖与样品之间的距离S通常小于1nm.自从首次STM诞生以来,目前商品化的STM已采用了各种先进技术和多项改进系统.已成为一种先进的形貌观测仪器被广泛应用.但基本组成没有变化.STM由下列几部分组成:①振动隔绝系统②机械传

6、感系统③电子控制系统④探头(隧道针尖)⑤计算机控制系统STM的基本结构如图所示.核心部件:探头,安装于STM主体箱内电子控制系统:用于产生隧道电流并维持其恒定,控制针尖扫描.计算机系统:控制各个系统运动、收集、存贮、处理获得信息和图像。振动隔绝系统:保证系统工作不受外界振动等干扰。(1)振动隔离系统由于STM工作时针尖与样品距离小于1nm,任何振动包括声波振动都会影响仪器稳定性,因此由振动引起的隧道间距变化必须小于0.001nm。STM常用的振动隔离方法有三种:①悬挂弹簧②平板-弹性体堆垛系统③冲气平台悬挂弹簧:具有涡流阻尼的悬挂弹簧系统﹝见

7、图2.5﹙a﹚﹞悬挂弹簧是最为有效的振动隔离系统。如果STM单元有足够的刚性单级悬簧即可。如果STM单元的刚性不够,或者在超高真空和低温环境下工作,则可采用二级悬簧并有涡流阻尼的振动隔离系统。悬簧系统的缺点是尺寸大。(2)平板-弹性体堆垛系统:由橡胶块分割的多块金属扳堆累而成,首先被用于袖珍型STM。其问题是由于小尺寸使固有共振频率在10Hz左右。此种隔离方法仅对较高频率(>50Hz)有效。为了抑制低频振动,需要另外的悬簧。(3)冲气平台:通常用做光学工作台,典型的固有频率为1—1.2Hz。对大于10Hz的振动传递函数可达到0.1。某些系统提

8、供有效的振动隔离仅限于垂直方向,也有对水平方向同样有效的气动平台。缺点:体积庞大,相当笨重,1.2.2机械系统STM的机械系统应满足STM扫描及调整针尖与样品距离等

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