JB-T10034-1999 光栅角位移测量系统

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1、ICS25.060.20J42中华人民共和国机械行业标准JB/T10034一1999光栅角位移测量系统Gratingangulardisplacementmeasuringsystem1999-05-20发布2000-01-01实施国家机械工业局发布JB/T10034-1999前言本标准是在ZBJ42040-90《光栅角位移测量系统》的基础上修订的。本标准与ZB142040-90的技术内容一致，仅按有关规定重新进行了编辑。本标准自实施之日起代替ZB142040-900本标准的附录A、附录B和附录C都是标准的附录。

2、本标准的附录D是提示的附示。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位:成都工具研究所。本标准主要起草人:李巧。本标准于1990年首次发布。中华人民共和国机械行业标准JB厅10034-1999光栅角位移测量系统代替ZB142040-90Gratingangulardisplacementmeasuringsystem1范围本标准规定了光栅角位移测量系统(以下简称测量系统)的基本参数、技术要求和基本试验方法。本标准适用于分辨率为0.1”一120"的测量系统。2引用标准下列标准所包含的条文，通

3、过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB191一1990包装储运图示标志GB/T6388-1981运输包装收发货标志GB/T6587.2-1986电子测量仪器温度试验GB/T6587.3-1986电子测量仪器湿度试验JB/T6214-1992仪器仪表可靠性验证试验及测定试验(指数分布)导则3定义本标准采用下列定义。3.1光栅角位移测量系统利用光栅副产生光信号的原理，由光栅角位移传感器感受角位移量，并用光栅数显

4、表显示其值的角度测量系统。3.2误差峰一峰值测量系统误差曲线上最高点与最低点之差。3.3测量系统细分误差光栅栅距内莫尔条纹原始信号经测量系统分割或倍频后，分割间距之间的最大误差。4基本参数基本参数及其数值见表to国家机械工业局1999-05-20批准2000-01-01实施lJB/T10034-1999表参数名称参数沮分辨率‘”)0.1;0.2;0.5;1;2;5;10;20;30;60;120100;150;250;256;300;360;400;500;512;600;720;800;1000;1024;10

5、80;1440;1500;1800;2000;2048;2400;2500;3600;4096;5000;5400;7200;8192;9000;栅距数10000;10800;12500;12960;16384;18000;21600;25920;32400;32768;36000;64800;65536;129600响应速度第一系列1;6;15;30;60r/min第二系列600;1000;2000;3000;5000注:第一系列用于精密测量.第二系列用于数字控制。5技术要求5。1工作条件5.1.1测量系统在工

6、作环境温度范围0-450C、相对湿度不大于90%的条件下应正常计数。5.1.2测量系统在工作电压误差为士5%以内，应正常计数。5.2外观及相互作用5.2.1测量系统金属表面不应有锈蚀、碰伤和镀层脱落等缺陷，各种标志和数字应正确、清晰。5.2.2各紧固部分应牢固可靠，各运动部分应灵活平稳，无卡滞和松动现象。5.2.3测量系统整圆周内角度显示和参考零位的显示、清零、置数、辨向等功能均应正常。5.3准确度测量系统准确度共分为10个等级，用误差峰一峰值的二分之一冠以“士”号表示，见表2表2准确度等级00000012345

7、6710.25"t0.5"士10土2"士5"310"t30"士】，土15':30'5.4示值变动性和回程误差测量系统示值变动性和回程误差应不大于表3的规定。表3分辨率示值变动性同程误差(”)脉冲数0.1;0之;0.5221;2;5;10;20;30;60llJB/T10034-19995.5稳定性在室温条件下，测量系统4h内示值稳定度应不大于一个脉冲数。5.6安全性5.6.1电源插座的任一个接线端与机壳之间的漏电流应不大于3.5mAo5.6.2电源插座的任一个接线端与机壳之间的直流绝缘电阻应不小于5Mfl.5.6

8、.3当交流电压为1500V时，机壳耐压lmin，不得有击穿现象。5.，抗干扰性测量系统应具有电磁兼容能力，受干扰时示值变化量应不大于一个脉冲数。5.8可靠性测量系统的平均无故障工作时间(MTBF)应不少于3000h.6基本试验方法6.1工作环境适应性试验按GB/T6587.2和GB/T6587.3的规定进行。6.2工作电压波动试验工作电压波动士5%时.分别测量其测量系统的