GBT8014.1-2005-铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分：测量原则.pdf

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1、ICS25.220.40H25荡黯中华人民共和国国家标准GB/T8014.1-2005代替GB/T8014-1987铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则Anodizingofaluminiumanditsalloys-Themeasuringmethodofthicknessofanodicoxidecoatings-Part1:Themeasuringprinciple(ISO2064:1996,Metallicandotherinorganiccoatings-Definitionsandconventionsc

2、oncerningthemeasurementofthickness,MOD)2005-07-04发布2005-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会GB/T8014.1-2005月U青GB/T8014(铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法》分为如下3个部分:—GB/T8014.1-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则—GB/T8014.2-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第2部分:质量损失法—GB/T8014.3-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度

3、的测量方法第3部分:分光束显微镜法本部分为GB/T8014的第1部分。本部分修改采用ISO2064:1996《金属镀层和其他无机涂层—定义和有关测量厚度的规定)(英文版)，并根据ISO2064:1996重新起草。为方便比较，在资料性附录A中列出了本部分章条和对应的国际标准章条的对照一览表。本部分与ISO2064:1996的主要差异在于本部分对厚度测量方法的类别及方法概述、执行标准和适用范围作出了说明，该差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页面空白处。本部分代替GB/T8014-1987(铝及铝合金阳极氧化阳极氧化膜厚度的定义和有关测量

4、厚度的规定》本部分与GB/T8014-1987相比，主要变化如下:—第二章的术语和定义全部按照国际标准ISO2064:1996重新翻译;—重量法改为“质量损失法”，重量改为“质量”，重量损失改为“质量损失”;—第2.7节平均厚度的定义之后增加“注”，对于大批量小零件的平均厚度作出说明;—对厚度测量方法的类别及方法概述、执行标准和适用范围作出了说明。本部分的附录A为资料性附录。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分负责起草单位:北京有色金属研究总院。本部分参加起草单位:广东坚美铝型材厂有限公司、

5、深圳华加日铝业有限公司。本部分主要起草人:朱祖芳、李永丰、戴悦星、谭群燕、熊进平、章吉林。本部分由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本部分所代替历次版本标准发布情况为:-GB/T8014-1987GB/T8014.1-2005铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法第1部分:测量原则范围本部分规定了铝及铝合金阳极氧化膜厚度测量的一般原则。本部分适用于铸造或变形铝及铝合金生成的所有阳极氧化膜。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修改版均不适用于

6、本部分，但鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T4957-1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法(ISO2360-1982,NEQ),GB/T6462-1986金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜f憧方法(ISO1463-1982,NEQ),3术语、定义下列术语、定义适用于本部分。3.1有效表面significantsurface覆有氧化膜或待覆氧化膜的物件表面。其氧化膜对物件的适用性和(或)外观起重要作用，须满足所有规定要求。3.2测f面积mea

7、suringarea在有效表面上作单一测量的面积。对于下列具体测量方法，“测量面积”分别定义如下:a)质量损失法，指氧化膜被除去的面积;b)阳极溶解法，指由密封环围绕封闭的电解池面积;c)显微镜法，指规定放大倍数下的视野;d)无损检验法，指探头或影响读数的面积3.3考察面积referencearea规定作若干次单一测量的面积。3.4局部厚度localthickness在考察面积内作若干次单一测量所得厚度的平均值。3.5最小局部厚度minimumthickness在某一物件的有效表面上测量的局部厚度的最小值。GB/T8014.1-2005

8、3.6最大局部厚度maximumthickness在某一物件的有效表面上测量的局部厚度的最大值。3.7平均厚度'agethickness质量损失法(4.3.1)测量的厚度，或在某物件的有效表面上均匀测量规定