基于gdi%2b的系统可测性建模软件设计与实现

《基于gdi%2b的系统可测性建模软件设计与实现》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。

1、电子科技大学UNIVERSITYOFELECTRONICSCIENCEANDTECHNOLOGYOFCHINA硕士学位论文MASTERTHESIS论文题目基于GDI+的系统可测性建模软件设计与实现学科专业测试计量技术及仪器学号201021070118作者姓名汪郑捷指导教师龙兵副教授万方数据分类号密级注1UDC学位论文基于GDI+的系统可测性建模软件设计与实现（题名和副题名）汪郑捷（作者姓名）指导教师龙兵副教授电子科技大学成都（姓名、职称、单位名称）申请学位级别硕士学科专业测试计量技术及仪器提交论文

2、日期2013.04论文答辩日期2013.05学位授予单位和日期电子科技大学2013年6月日答辩委员会主席评阅人注1：注明《国际十进分类法UDC》的类号。万方数据DESIGNANDREALIZATIONOFSYSTEMTESTABILITYMODELINGSOFTWAREBASEDONGDI+AThesisSubmittedtoUniversityofElectronicScienceandTechnologyofChinaMajor:MeasurementTechnologyandInstrume

3、ntAuthor:WangZhengjieAdvisor:Asst.Prof.LongBingSchool:SchoolOfAutomationEngineering万方数据独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知，除了文中特别加以标注和致谢的地方外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果，也不包含为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示谢意。作者签

4、名：日期：年月日论文使用授权本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文的规定，有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘，允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。（保密的学位论文在解密后应遵守此规定）作者签名：导师签名：日期：年月日万方数据摘要摘要由于制造工艺与设计水平的发展，电子系统的复杂度越来越高，复杂电子系统的故障测试与诊断变得更加困难。为了更好的完成对系统的

5、测试诊断，需在设计阶段就考虑可测性方面的问题，可测性分析软件的重要性也被体现出来。目前国内可测性分析软件建模平台以利用现有绘图工具进行二次开发为主，但现有绘图工具存在模块体积庞大与缺乏可测性针对性等缺点，因此有必要开发一种新的可测性建模软件平台。本文介绍了基于图形设备接口(GDI+)的可测性建模软件平台的设计与实现。本文主要完成以下工作：首先，可测性模型图形单元库的设计与实现。针对于现有建模平台存在的问题并结合电子系统可测性建模的实际需求，选择了GDI+作为整个平台的图形开发方式，设计了可测性模型

6、图形单元库。图形单元库的实现，先设计了一个基础类节点数据结构，图形库中各类节点均从基础类节点中派生；然后依据建模的需求设计了单元库中各类节点的图形外观与功能；其后为图形单元库中各类节点设计其所特有的数据结构，为后续功能的实现预留接口。其次，软件平台功能的设计与实现。由于软件平台的开发是基于GDI+进行的，无可直接使用的图形操作等功能函数，因此需自主实现平台的各项功能。软件平台基本功能主要分为图形操作功能与平台操作功能两个方面，均是以模型树为数据核心，实现了以图形库中各类图形对象移动、绑定、剪切等为

7、代表的图形操作功能和以多层建模、建模文件读写、测试组等为代表的平台操作功能。同时，软件平台的功能实现中增加了自动建模与连接检测功能，提高了用户的使用体验。最后，故障-测试依赖矩阵生成的实现。依赖矩阵作为进行可测性分析的重要数据，文中详细阐述了平台所实现的矩阵生成过程，即首先由图形单元连接关系搜索生成邻接矩阵，然后由该邻接矩阵通过矩阵变换处理后得到可达矩阵，最后在可达矩阵基础上通过测试与信号间的关联关系获得故障-测试依赖矩阵。综上所述，软件平台设计实现了进行可测性建模的各项功能，解决了Visio为代

8、表的建模软件体积庞大与缺乏可测性针对性的问题，为设计人员提供了易用的且交互界面友好的建模平台，满足进行可测性建模的需求。关键词：可测性建模，GDI+，图形单元库，模型树，依赖矩阵I万方数据ABSTRACTABSTRACTInrecentyears,withthedevelopmentofmanufacturingprocessanddesignlevel,mostelectronicsystemshavebecomemorecomplexity.Therefore,faulttes