dsp的总剂量效应研究

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1、代号10701学号1111122735分类号TN4密级公开题(中、英文)目DSP的总剂量效应研究TheResearchonTotalDoseEffectofDSP作者姓名同田仓指导教师姓名、职称刘毅教授学科门类工学学科、专业微电子学与固体电子学提交论文日期二〇一四年一月万方数据西安电子科技大学学位论文创新性声明秉承学校严谨的学风和优良的科学道德,本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知,除了文中特别加以标注和致谢中所罗列的内容以外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果;也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证

2、书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中做了明确的说明并表示了谢意。申请学位论文与资料若有不实之处,本人承担一切相关责任。本人签名:日期西安电子科技大学关于论文使用授权的说明本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定,即:研究生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属西安电子科技大学。本人保证毕业离校后,发表论文或使用论文工作成果时署名单位仍然为西安电子科技大学。学校有权保留送交论文的复印件,允许查阅和借阅论文;学校可以公布论文的全部或部分内容,可以允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。(保密的论文在解密后遵守此规定)本学

3、位论文属于保密在年解密后适用本授权书。本人签名:日期导师签名:日期万方数据摘要摘要随着DSP芯片在航天器和卫星系统中的应用越来越广泛,DSP芯片在空间应用时产生的辐射效应必须重点关注,所以针对DSP芯片总剂量效应的分析和测试方式的研究具有一定重要意义。由于DSP芯片的复杂性,目前国内外针对DSP芯片的总剂量的实验方法和偏置方式还不统一。为了提出一种针对DSP芯片合理的总剂量实验方案,本文以TMS320C6701为研究对象,结合该器件的基本结构和工作原理,首先对基本MOS器件的总剂量效应进行详细的研究,确定了CMOS单元电路的总剂量效应敏感参数和最劣偏置方式,然后对DSP

4、芯片的I/O电路和内核电路从具体的电路形式进行总剂量效应分析,根据分析结果提出DSP芯片静态偏置和动态偏置相结合的总剂量实验方案,并给出具体的实验流程,为DSP总剂量效应测试系统的设计提供重要的理论依据,指导DSP总剂量实验的开展。关键词:DSP总剂量偏置条件I/O电路万方数据万方数据AbstractAbstractWithmoreandmoreextensiveapplicationofDSPinthespacecraftandsatellitesystem,theradiationeffectsofDSPonspaceapplicationneedshighatte

5、ntion.Meanwhile,theresearchonDSPtotaldoseeffectanditstestmethodisalsosignificant.Uptonow,thereisnostandardonDSPtotalionizingdoseeffect'stestmethodandirradiationbiasmodeinthedomesticandoverseas,whichduestothecomplicationofDSP.InordertoputforwardareasonabletestmethodthatcanmainlyfocusonDSP

6、totalionizingdose,thispaperviewsTMS320C6701astheresearchobject,anditisbasedonthefundamentalstructureandoperatingprincipleofTMS320C6701.Firstly,establishtotalionizingdosesensitiveparametersandtheworstbiasonunitcircuitofCMOSthroughadetailedstudyonthetotaldoseeffectoftheMOS.Secondly,giveato

7、talionizingdoseeffectanalysisonDSP'sI/Ocircuitanditscorecircuitintheformofspecificcircuit.Then,makeatotaldoseeffecttestingprogramwhichcombinesstaticbiasanddynamicbiasonDSP.Meanwhile,thedetailedexperimentalprocessshouldbepresentedwhichcanprovidethesignificanttheoreticalbas

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