基于机器视觉的STN-LCD表面缺陷检测系统研究

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时间:2019-03-14

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1、广东工业大学硕士学位论文(工学硕士)基于机器视觉的STN-LCD表面缺陷检测系统研究萧达安二○一八年五月分类号:学校代号:11845UDC:密级:学号:2111501148广东工业大学硕士学位论文(工学硕士)基于机器视觉的STN-LCD表面缺陷检测系统研究萧达安指导教师姓名、职称:朱铮涛副教授学科(专业)或领域名称:仪器科学与技术学生所属学院:机电工程学院论文答辩日期:2018年5月ADissertationSubmittedtoGuangdongUniversityofTechnologyfortheDegr

2、eeofMaster(MasterofEngineeringScience)ResearchonSTN-LCDSurfaceDefectInspectionSystemBasedonMachineVisionCandidate:XiaoDaanSupervisor:ZhuZhengtaoMay2018SchoolofInformationEngineeringGuangdongUniversityofTechnologyGuangzhou,Guangdong,P.R.China,510006摘要摘要液晶显示屏是

3、良好人机交互的重要设备,由于其功耗低等原因而广泛使用。显示器的质量是重要的指标,因此对显示器缺陷的检测受到了越来越多生产部门的重视。近年来,由于计算机技术与机器视觉的快速发展,基于图像处理的工业检测所具有的优势越来越突出,例如效率高、成本低、稳定性强等。由于液晶显示器存在表面显示亮度不均匀、缺陷面积小、对比度低等问题,给基于图像处理的自动化检测带来了困难。传统的对液晶显示屏检测主要是基于模板匹配对位,然后计算图像中每个区域的平均值或方差等统计信息提取缺陷,而这种检测方法存在耗时长、实时性低、对图像的位置有严格标

4、准等局限。针对传统检测方法的不足,本文提出一种局部CV模型方法提取缺陷,通过几何矩描述缺陷形状并通过分类算法对其分类。本文主要的研究工作和创新点概括如下:1、研究缺陷区域的提取方法,针对缺陷对比度较低、缺陷面积小的特点,本文采用局部CV模型方法提取缺陷区域,该方法首先通过模糊求差法提取候选缺陷区域,即对图像进行模糊处理,并与原图像进行作差处理,将候选缺陷区域有效地提取出来并用于后续处理;接着采用基于水平集的CV模型寻找候选缺陷区域的轮廓,经过一定的迭代次数后,若轮廓清晰可见,则为真缺陷;反之,若轮廓消失,则为伪

5、缺陷。2、针对缺陷的类型将缺陷分为点状缺陷和线状缺陷。形状是物体差异的重要特性,针对表面缺陷形状的特征,通过几何矩对缺陷形状进行描述,并将具有平移、旋转和比例缩放不变性的7个不变矩作为特征向量,使用k-近邻分类算法对点状和线状缺陷进行分类。该方法有效地描述了缺陷区域的形状特征,提高了缺陷分类的准确率。3、对摄像机进行标定操作,计算出每个像素代表的尺寸,用于测量缺陷的尺寸。根据液晶显示屏检测的实际需求,设计并建立了一套液晶显示屏检测系统,该系统具有缺陷提取、缺陷分类以及缺陷尺寸测量的功能,能有效地解决传统检测方法

6、耗时长、实时性低等问题。本文的创新之处是采用局部CV模型方法提取缺陷区域,该方法有效避免背景I广东工业大学硕士学位论文亮度分布不均匀的影响,并且能够基于缺陷的邻域像素对缺陷作进一步的有效提取;在点状缺陷和线状缺陷分类的过程中,主要根据缺陷的形状,通过几何不变矩对缺陷的形状进行描述,并将其作为特征向量对缺陷进行分类。关键词:液晶显示屏;表面缺陷;局部CV模型;几何矩;k-近邻IIAbstractAbstractLiquidcrystaldisplaysareimportantdevicesforgoodhuman

7、-computerinteractionandarewidelyusedduetotheirlowpowerconsumption.Thequalityofthedisplayisanimportantindicator,sothedetectionofdisplaydefectshasreceivedmoreandmoreattentionfromtheproductiondepartment.Inrecentyears,duetotherapiddevelopmentofcomputertechnology

8、andmachinevision,industrialinspectionbasedonimageprocessinghasbecomemoreandmoreprominent,suchashighefficiency,lowcost,andstrongstability.Duetotheproblemsofunevendisplaybrightness,smalldefectarea

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