材料复介电常数超高温测试技术研究

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1、UNIVERSITYOFELECTRONICSCIENCEANDTECHNOLOGYOFCHINA.硕士学位论文MASTERTHESISde:-亏论文题目材料复介电常数超高温测试技术研究学科专业电磁场与微波技术学号201221020257作者姓名王依超指导教师李恩教授独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导F进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示谢

2、意。作者签名:五依段曰期:上<年<月/,曰论文使用授权本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘,允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。(保密的学位论文在解密后应遵守此规定)分类号密级注1UDC学位论文材料复介电常数超高温测试技术研究(题名和副题名)王依超(作者姓名)指导教师李恩教授电子科技大学成都(姓名、职称、单位名称)申请学位级别硕士学科专业电磁场与微波技术提交论文日期2015.3.30论文答

3、辩日期2015.5.15学位授予单位和日期电子科技大学2015年6月答辩委员会主席评阅人注1:注明《国际十进分类法UDC》的类号。RESEARCHOFULTRA-HIGHTEMPERATUREMEASHREMENTTECHNIQUEFORCOMPLEXPERMITTIVITYOFMATERIALSAMasterDissertationSubmittedtoUniversityofElectronicScienceandTechnologyofChinaMajor:ElectromagneticFieldandMicrowaveTechnologyAuthor:WangYichao

4、Advisor:LiEnProfessorSchool:SchoolofElectronicEngineering摘要摘要微波材料广泛应用于军事、航天航空、通信等众多领域之中,微波材料电磁性能的优劣直接关系到所设计的电子设备及系统性能的好坏。微波材料不仅仅工作在常温环境下,有时会工作在高温甚至超高温环境下。尤其是用于高速飞行的导弹、火箭等飞行器上的天线罩(窗),由于飞行器与大气之间的气动加热,使得天线罩(窗)的温度升高到上千度。因微波介质材料的介电性能会随温度发生变化,当天线罩(窗)的工作环境温度发生变化时,会对飞行器上的通信、制导等电子设备的正常工作造成严重影响。在研制、生产以

5、及应用微波材料的过程中,需要掌握其介电性能在不同温度不同工作频率下的变化情况。因此,搭建一套能够行之有效的对微波材料介电性能进行准确测试的超高温系统具有极其重要的战略意义及实用价值。本文综合考虑微波材料电磁参数的测试技术指标和测试方法,选用了终端短路法对微波材料介电性能超高温测试进行研究。为了能提高测试系统的测试精度,对传统测试系统中的核心测试部件进行了两方面的改进与创新:第一,创新性的提出了采用大反射片波导进行校准,提高了测试系统的测试精度;第二,对短路板进行开孔处理,可以使得待测样品与短路板紧密接触,提高测试精度,同时方便对样品的取、放,这两方面都已申请了国家发明专利。同时设

6、计制作了矩形-同轴模式转换接头、测试子系统用高性能高温测试波导组件,并以测试子系统为核心,将固态感应加热、真空腔、循环水冷、自动温控等子系统进行科学结合及系统调试,搭建完成测试系统。采用自己编制的自动测试软件进行测试,实现了室温~1800℃微波材料介电性能超高温测试。本测试系统的技术指标如下:测试温度:室温~1800℃测试频率:X波段(点频)测试范围:室温:r=1.0~10tan=0.001~1.01800℃:r=1.0~10tan=0.05~1.0测试误差:室温:

7、r/r

8、3.0%,

9、tan

10、18%tan+0.0031800℃:

11、r

12、/r

13、6.0%,

14、tan

15、25%tan+0.01关键词:终端短路法,复介电常数,超高温,微波材料IABSTRACTABSTRACTMicrowavematerialsarewidelyusedinmanyfieldssuchasmilitary,aerospace,communications,electromagneticpropertiesofmicrowavematerialsaredirectlyrelatedtothedesignedelectroni

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