集成电路芯片测试仪设计

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1、40摘要集成电路（IC）测试是伴随着电子技术的发展而来的，数字集成芯片在使用过程中容易被损坏，用肉眼不易观察。早期的人工测试方法对一些集成度高，逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手，因而逐渐被自动测试所取代，因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试

2、。关键字：测试仪；数字集成电路；单片机40ABSTRACTIntegratedcircuit(IC)testisaccompaniedwiththedevelopmentofelectronictechnology,Digitalintegratedchipiseasilydamagedduringuse,anddifficulttoobservewiththenakedeye.Earlymanualtestmethodsforsomehighintegration,thelogicofcomplexd

3、igitalintegratedcircuitsbecomedifficult，thusgraduallyreplacedbyautomatedtesting,soitisnecessarytodesignatestinginstrumenttodistinguishtheCommonchipsisgoodorbadconveniently.ThesystemiswithAT89C52microcontrolleratthecore,includingthechiptestsocket，theindep

4、endentbutton,74HC573drivesan8-bitdigitaldisplay,5VDCpowersupplycontrolmoduleandothercomponents,etc.AccordingtothecharacteristicsofdigitalICpinsandthetruthtablewriteintegratedchiptestprogram.Thesystemcanbecompletedwithin14feetcommonTTL74,54seriesdigitalin

5、tegratedchipfunctionaltest.Keywords:tester;digitalintegratedcircuit;microprocessorcontrolunit40目录1系统总体方案…………………………………………………………………………..12系统硬件电路设计……………………………………………………………..............22.1硬件系统电路原理框图…………………………………………………………...22.2硬件系统电路各模块设计…………………………………………………

6、………22.2.1MCS-52单片机最小系统……………………………………………………22.2.2独立按键模块………………………………………………………..............32.2.3芯片测试模块……………………………………………………………......42.2.4显示模块………………………………………………………......................52.2.5电源供电模块…………………………………………………………..........73系统软件设计…………………………………………………

7、…………………..........83.1测试对象TTL74系列芯片简介……………………………………………………83.2测试原理……………………………………………………………………….........83.3程序流程图…………………………………………………………………….........93.4模块程序关键代码…………………………………………………………….......113.4.1主程序………………………………………………………………………113.4.2独立按键扫描程序…………………………………………

8、………………113.4.374HC573控制数码管显示程序…………………………………………….153.4.4信号检测程序………………………………………………………………174系统仿真测试……………………………………………………………………........19总结………………………………………………………………………………………..21致谢………………………………………………………………………………………..22参考文献……………………………