二氧化钛薄膜的制备、改性及其光催化性能研究

二氧化钛薄膜的制备、改性及其光催化性能研究

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时间:2019-05-15

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1、摘要摘要半导体光催化技术是近30年发展起来的新兴研究领域,它具有工艺简单,能耗低,操作条件容易控制,降解物质彻底和无二次污染等特点,在今后的生产和生活中有着广阔的应用前景。在半导体光催化材料中,Ti02以其良好的化学稳定性,抗磨损性,低成本,无毒等特点而成为最具应用潜力的光催化剂。本文概括性地介绍了半导体光催化理论及技术研究背景,讨论了影响光催化性能的因素和提高光催化性能的方法,并对Ti02薄膜的制备技术和方法进行比较,对其应用进行了展望。本文的主要工作:1)首先采用磁控溅射和溶胶.凝胶旋涂法,制备了掺锌Ti02(Zn2+:Ti02)薄膜,通过优化实验参数以期获得优异的光催化性能。2)其次

2、,过渡金属离子掺杂可使其成为光生电子.空穴对的浅势捕获阱,减少了Ti02表面光至电子e-与光至空穴h十的复合,从而提高Ti02的光催化活性。故本文利用溶胶凝胶旋涂法制备了掺铁Ti02(Fe3+:Ti02)薄膜和Zn2+:Ti02薄膜,并对这两种掺杂不同过渡金属离子的Ti02薄膜性能进行了比较。3)再次,考虑到一些半导体薄膜本身具有比Ti02更好的光催化性能,但由于存在光腐蚀,在溶液中稳定性不够,所以往往不能直接作为光催化材料。在其表面覆盖一层稳定性更好的Ti02既可以作为保护层延缓其腐蚀,又可以形成半导体复合,抑制薄膜内光生电子.空穴对的复合提高光催化性能。因而本文利用溶胶凝胶旋涂法制备了

3、Ti02.ZnO和Ti02.Fe203双层复合薄膜,并对比了这两种薄膜的光催化性能。采用场发射扫描电镜,x射线衍射仪,紫外可见光谱仪,台阶仪等分析手段对复合薄膜进行了表征。利用5mg/L的罗丹明B紫外光照下2小时降解率表征其光催化性能。并系统研究了Zn/Ti摩尔比、Fe/Ti摩尔比,退火温度以及双层复合对薄膜表面形貌结构、可见光透光率和光催化性能的影响。结果表明:1)磁控溅射法制备的Zn2+:Ti02薄膜样品光透过率、对罗丹明B分解率随退火温度的增加而增加;溶胶凝胶旋涂法制备的Zn2+:Ti02薄膜只检测出锐钛矿相峰,检测不出ZnO峰;可见光透过率均超过了80%;Eg随着zn含量的增加先增

4、加后减小;当Zn/Ti=5%时,薄膜的光催化性能最好;溶胶凝胶III浙江大学硕十学位论文旋涂法制备的薄膜其(101)晶面取向更加优异,晶粒更大一些,且可见光透过率和光催化能力均强于磁控溅射法。2)用溶胶.凝胶旋涂法制备出的不同铁离子含量Fe3+:Ti02薄膜,其晶相中只有锐钛矿相唯一相,未出现含Fe的衍射峰;可见光透过率均超过了80%;其光学带隙会随着铁离子的加入而出现红移,且随着铁离子含量的增加,红移现象更明显,但达到一定值后会随着铁离子含量的增加,光学带隙反而向短波长方向移动;薄膜对罗丹明B的降解率会随着铁离子含量的增加而增加,但是随着铁含量的进一步增加,薄膜的光催化性能反而有所下降;

5、其中铁离子最佳含量为0.5%,此时的薄膜试样对罗丹明B溶液的降解率约是未掺杂薄膜试样的2倍;而比较Fe3+:Ti02薄膜和Zn2+:Ti02薄膜的光催化性能,Zn2+:Ti02薄膜2h对罗丹明B溶液的降解率是Fe”:Ti02薄膜的2倍;3)对于Ti02.ZnO双层复合薄膜和Ti02.Fe203双层复合薄膜,两者均在不降低薄膜可见光透过率的前提下,得到了比单层Ti02高的光催化性能;比较两者发现以ZnO作为埋层,没有降低Ti02的结晶度,且对Ti02薄膜表面形貌影响不大,而以Fe203作为埋层,会降低Ti02薄膜的结晶度;同时Ti02.ZnO双层复合薄膜的光催化性能明显优于Ti02.Fe20

6、3,我们将此归因于形成的异质结能带的差异。关键词:光催化’9Ti02‘9掺杂;复合薄膜IVAbstractThephotocatalysistechnologyofsemiconductorsisawidelyinvestigatedsubjectduringthepast30years,withtheadvantagesofsimpletechnology,lowenergyconsumption,easytocontroloperatingconditions,degradationofmaterialthoroughlyandwithoutsecondarypollution.Sot

7、herewillbeanattractiveprospectinthefuture.Amongthesemiconductorphotocatalysismaterials,titaniumdioxideisthemostlatentmaterialforitschemicalstability,wearibility,lowcostandinnocuity.Inthispaperthetechnicalbackgrou

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