3D+NoC的测试端口选择优化

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1、密级桂林电子科技大学硕士学位论文题目3DNoC的测试端口选择优化(英文)AnOptimizedTestPortsSelectingMethodon3DNoC研究生学号:112081122研究生姓名:姚永兴指导教师姓名、职务:许川佩（教授）申请学位门类:工学硕士学科、专业名称:测试计量技术与仪器提交论文日期:2014年4月论文答辩日期:2014年6月万方数据万方数据摘要摘要片上网络（NetworkonChip,NoC）作为下一代片上系统的首选结构，尤其3D-NoC将是下一代大规模集成电路设计的主流技术。测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一

2、，同时测试技术影响集成电路的发展。研究一种3D-NoC测试端口选择优化的方法从而高效快速的完成资源内核的测试。首先研究3D-NoC的基本概念以及测试的相关技术，分析影响测试的因素、测试约束条件、测试过程中的NP难问题以及云进化算法的原理与机制。在此基础上设计基于云进化算法的3D-NoC测试端口选择优化方案，在系统功耗和层功耗的双重限制下，以所有内核测试时间最小为目标，选择出最佳的测试端口数量和端口位置，降低总体测试时间，提高测试效率。最后选择ITC´02SoC测试标准电路作为实验对象，对d695、g1023、p93791基准电路进行模拟，验证

3、本文提出的测试方法的性能。通过实验结果的分析比较证明，云进化算法具有并行优化和全局选优的能力，可以快速收敛到最优解。在系统功耗限制下，本文提出的测试端口选择优化方案能够快速有效的完成资源内核的测试，从而减少测试时间，提高测试效率。关键词：3D-NoC；选择优化；云进化算法I万方数据AbstractAbstractNetworkonchip(NoC)isthepreferredstructureofnextgenerationsystemonchip,3D-NoCisconsideredtobethemainstreamofnextgenera

4、tiondesigntechnologyoflargescaleintegratedcircuit.Testingisoneofthekeymeanstoensurethequalityofintegratedcircuit’sperformanceandtestingtechnologyeffectsdevelopmentof3D-NoC.Researchingamethodof3D-NoCtestportsselectingoptimizationforrapidandefficientcompletionofaresourcekerne

5、ltest.Thispaperfirstlystudiedthebasicconceptof3D-NoCandrelatedtechnicaltesting.analyzedoffactorsaffectingthetesting,testconstraintsconditions,testprocessofNPhardproblemandmechanismofCloudModelBasedEvolutionaryAlgorithm(CBEA).designedamethodof3D-NoCtestportsselectingoptimiza

6、tionbasedonCBEA.Undersystempowerconsumptionandlaypowerconsumption,selectedandoptimizedthetestportsforreducingthetesttimeandimprovingtestefficiency.Finally,ITC´02standardSoCtestcircuitwaschosenasexperimentalobject,thed695,g1023andp93791benchmarkcircuitwasusedassimulationplat

7、formtocompletevalidation.theresultsshowthatCBEAwithperformanceofparalleloptimizationandglobaloptimization,canquicklyconvergetotheoptimalsolution.underpowerconstraint,theteststrategyisproposedinthispapertochooseappropriateportnumberandthebestlocationoftheport,forreducingthet

8、esttime,improvingthetestefficiency.Keywords:3D-NoC;TestOptimization;CloudModelBase