GBT20018-2005 金属与非金属覆盖层 覆盖层厚度测量 β射线背散射法.pdf

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1、ICS25.220.20A29)Ga中华人民共和国国家标准GB/T20018-2005/ISO3543:2000金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量p身寸线背散射方法Metallicandnon-metalliccoatings-Measurementofthickness-Betahackscattermethods(ISO3543:2000,IDT)2005-10-12发布2006-04-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会cs/T20018-2005八SO3543:2000目次前言··、。·····························

2、·,····,·····,,,·········,,··········,·················,·······,·····,····⋯⋯I1范围,·,,,,··。··········。··················。·················。·························,,,,··,,···················⋯⋯12术语和定义····································,·.............................................······..........

3、.I3原理···。。································,,,····,,···。。·········································,,,·,,·,·····。。·。·⋯⋯34仪器,............................................=.........................................................,...........35影响侧量不确定度的因素·······,···。。··································

4、····⋯⋯,,二,,,····......⋯⋯46仪器的校准············,······,·,,。···,,················································,·······。,··············⋯⋯77测量程序........................................................................·,,··············,····‘·,,·,。。,,·一78测量不确定度·········,·············,,,···。。,,·········

5、····································...⋯,.O.....⋯⋯89测试报告···························,·,,。。·····。·····································,,,,,,··,··,,,·。,············⋯⋯8附录A(资料性附录)一般信息·,,,,·····」」························,,···········.......·.4···.......⋯⋯10标准分享网www.bzfxw.com免费下载GB/T20018-2005/I503543:

6、2000oli舀本标准等同采用ISO3543:2000(E)《金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量日射线背散射方法》(英文版)。本标准按GB/T1.1的编辑要求,根据ISO3497重新起草。本标准对应ISO3543作了如下修改:—取消了ISO3543的前言内容重新起草了本标准前言;—增加了“目次内容”:—用“本标准”代替“本国际标准”本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国金属与非金属粗盖层标准化技术委员会归口本标准起草单位:机械工业表面覆盖层产品质量监督检测中心。本标准起草人:姜新华、凌国伟、刘建国、钟立畅、宋智玲www.bzfxw.comGS/T200180--2005/ISO35

7、43:2000金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测tp射线背散射方法范围替告测1覆盖层厚度的p射线背散射仪使用各种放射源,尽管这些放射源的强度通常很低,但如果处理不当,对人的健康还是有害的。因此,操作人员必须遵守现行的国际和国家标准及地方法规。本标准规定了应用日射线背散射仪无损测量覆盖层厚度的方法。它适用于测量金属和非金属基体上的金属和非金属覆盖层的厚度。使用本方法,覆盖层和基体的原子序数或等效原子序数应该相差一个适当的数值。注:由于X射线荧光方法的

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