SPC计算公式32976.ppt

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1、技術篇1.SPC的品質指標技術篇1.統計學名詞組距(R):一組數據中的最大值減最小值R=MAX-MIN平均數(Mean,但通常用Xbar或X表示):把一組數據全部相加,再除以該組數據的個數.X=(X1+X2+……Xn)/n中位數(Median,通常用M表示):把一組數據先按大小順序排列起來,然后取最中位的一位,如若該組數據為奇數,則取最中間一位,如若該組數據為偶數,則取中間兩位的其中一位X(I+1)/2(I為奇數時)M=或Xi/2或(I/2+1)(I為偶數時)1.SPC的品質指標技術篇1.統計學名詞方差(σ2,有時也用S來表示):由該組數據中每個數據減實際平均

2、數平方的和再除以該數組數據的個數(n).∑(Xi-Xbar)2σ2==Sn-1注:有些書上可能是除以n(是樣本數達50以下時)標準差(σ,有時也用s表示):可直接由方差開平方得來1.SPC的品質指標技術篇1.統計學名詞有兩種名稱都標準差概念,一個是規格標準差(用σs表示),另一個是製程標準差(用σa表示也就是用前面公式計算出來的),σa是統計上的標準差概念,即是按上述公式計算出來的σs是為了在品管中有一個相對比較值而引進的,計算方法是σs=(USL-LSL)/61.SPC的品質指標技術篇2.管製界限管製中心線(CenterLine):即實際數據的平均值(即Xb

3、ar)CL=Xbar管製上限(UpperControlLevel,縮寫為UCL):由Xbar加上三倍的標準差UCL=Xbar+3σ=CL+3σ.管製下限(LowControlLevel,縮寫為LCL):由Xbar減去三倍的標準差.LCL=Xbar-3σ=CL-3σ1.SPC的品質指標技術篇2.管製界限LCLUCLCLSLLSLUSLSLLSLUSLLCLUCLCL3σ6σ1.SPC的品質指標技術篇3.品質指標Ca—準確度CapacityofAccuracy等級Ca值ABCD|Ca|≦12.5%12.5%<|Ca|≦25%25%<|Ca|≦50%50%<|Ca|

4、Ca=k=

5、(USL+LSL)/2-Xbar

6、(USL-LSL)/2等級評定後之處置原則(Ca等級之處置)A級:作業員遵守作業標準操作,並達到規格之要求,須繼續維持。B級:有必要可能將其改進為A級。C級:作業員可能看錯規格,不按作業標準操作或檢討規格及作業標準。D級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因,必要時得停止生產。以上僅是些基本原則,在一般應用上Ca如果不良時,其對策方法是製造單位為主,技術單位副,品管單位為輔單邊規格沒有Ca1.SPC的品質指標技術篇3.品質指標Cp—精密度表示製程特性的一致性程度,值越大越集中,越小越分散Capacityofpr

7、ecisionA.雙邊規格規格上下限距離除以6倍的標準差.Cp=(USL-LSL)/6σa=(USL-LSL)/(UCL-LCL)=(USL-SL)/(UCL-CL)=(SL-LSL)/(CL-LCL)SLLSLUSLLCLUCLCLB.單邊上限規格Cp=(USL-CL)/3σa=CpUSLUSLLCLUCLCL1.SPC的品質指標技術篇3.品質指標製程能力指數(Cpk):A.雙邊規格Cpk=(1-Ca)*CpB.單邊上限規格CPK=CPU=CpC.單邊下限規格CPK=CPL=Cp1.SPC的品質指標技術篇3.品質指標等級評定後之處置原則(Cp等級之處置)A級

8、:此一製程甚為穩定,可以將規格容差縮小或勝任更精密之工作。B級:有發生不品之危險,必須加以注意,並設法維持不要使其變壞及迅速追查。C級:檢討規格及作業標準,可能本製程不能勝任如此精密之工作。D級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時應停止生產。以上也是與Ca一樣,僅是一些基本原則,在一般上Cp如果不良時,其對策方法是技術單位為主,製造單位為副,品管單位為輔。等級Cp值ABCD1.33≦Cp1.00≦Cp<1.330.83≦Cp<1.00Cp<0.83C.單邊下限規格Cp=(CL-LSL)/3σa=CpLSLLSLUSLLCLUCLCL1.SPC的

9、品質指標技術篇3.品質指標百萬分之不良PPM:有些地方叫DPPM,它是一人概率的概念A.計數值之PPM計算:不良數PPM=╳1000000抽樣數B.計量值之PPM計算動態:PPM=Max{Φ[(LSL-Xbar)/σ+1.5]+Φ[(USL-Xbar)/σ+1.5],Φ[(LSL-Xbar)/σ-1.5]+Φ[(USL-Xbar)/σ-1.5]}靜態:PPM=Φ[(LSL-Xbar)/σ]+Φ[(USL-Xbar)/σ]5.計量值概念基礎篇4.所用的圖形:單品質特性圖1.Xbar-RChart平均數與全距管製圖2.Xbar-sChart平均數與標準差管製圖3.

10、XMid-RChart中位數與全距管製

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