聚酰亚胺薄膜绝缘材料耐电晕机理研究.pdf

《聚酰亚胺薄膜绝缘材料耐电晕机理研究.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、万方数据第17卷第5期电机与控制学报V01．17No．52013年5月ELECTRICMACHINESANDCONTROLMay2013聚酰亚胺薄膜绝缘材料耐电晕机理研究陈昊1，范勇1’2，杨瑞宵1，王春平1，马鑫3(1．哈尔滨理工大学材料科学与工程学院，黑龙江哈尔滨150040；2．哈尔滨理工大学材料研究与应用黑龙江省高校重点实验室，黑龙江哈尔滨150040；3．哈尔滨理工大学电气与电子工程学院，黑龙江哈尔滨150080)摘要：为了探讨聚酰亚胺薄膜绝缘材料耐电晕机理，对自制纳米杂化聚酰亚胺(PI)薄膜进行不同时间的电晕预处理，并对电晕预处理后的试样

2、分别进行电晕老化与热激电流(TSDC)测试，结果发现在适当的电晕预处理条件下，纳米杂化PI薄膜的耐电晕寿命会得到提高，且薄膜耐电晕寿命、热激电流活化能都与薄膜电晕预处理时间存在一定关系，二者变化趋势大致相同。分析表明纳米杂化PI薄膜的耐电晕寿命与其中受陷载流子的状态有关，当材料中均匀分布能级较深的稳定的裁流子陷阱时，材料表现出较好的耐电晕性能。关键词：纳米掺杂；聚酰亚胺；载流子陷阱；耐电晕中图分类号：TM215文献标志码：A文章编号：1007—449X(2013)05—0028—04Studyonthecorona-resistancemechani

3、smofthepolyimidefilmsCHENHa01，FANYon91一，YANGRui．xia01，WANGChun．pin91，MAXin3(1．SchoolofMaterialScienceandEngineering，HarbinUniversityofScienceandTechnology，Harbin150040，China；2．MaterialsResearchandApplicationKeyLaboratoryofHeilongjiangProvincialUniversity，HarbinUniversityofScien

4、ceandTechnology，Harbin150080，China；3．SchoolofElectricalandElectronicEnsineefing，HarbinUniversityofScienceandTechnology，Harbin150040，China)Abstract：Inordertostudythecorona—resistancemechanismofthepolyimidefilms，thehome·madenano-hybirdpolyimidefilmsweretreatedwithdifferentcoronap

5、re—treatmenttime．Thecorona-resistancelifeandthermallystimulateddepolarizationcurrent(TSDC)ofthetreatedsamplesweretested．Theresultsshowthatthecorona—resistancelifeofthepolyimidefilmsisextendedunderthesuitablecoronapre·treat—mentconditions；thecorona-resistancelifeofthefilmshasrel

6、ationswiththecoronapretreatmenttime，anditiSrelatedwiththestateofthetrappedcarriersinthefilms．Whenleveleven．distributeddeepsta．blecarrierstrapsinmaterial，materialshowsgoodcoronaresistanceperformance．Keywords：nano—composite；polyimide；carrierstrap；corona—resistance收稿日期：2012一10—22基

7、金项目：国家自然科学基金(50373008)作者简介：陈昊(1982一)，男，博士研究生，研究方向为高分子绝缘材料；范勇(1953一)，男，博士，教授，博士生导师，研究方向为电介质材料的研制、基础理论及应用；扬瑞宵(1986一)，男，博士研究生，研究方向为高分子材料；王春平(1986一)，女，硕士研究生，研究方向为高分子材料；马鑫(1988一)，女，硕士研究生，研究方向为高电压与绝缘技术。通讯作者：范勇万方数据第5期陈昊等：聚酰亚胺薄膜绝缘材料耐电晕机理研究290引言一般认为电晕对绝缘材料的损坏是一个缓慢的侵蚀过程，并最终导致产品完全失效¨J，但经实

8、验发现，电晕对绝缘材料介电性能的影响取决于其作用强度与作用时间，电晕的作用并不简单地表现为单调的破坏作用。国