CMOS数字IC的版图设计课件.ppt

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时间:2020-07-30

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1、4.4CMOS数字IC的版图设计4.4.1CMOSIC版图设计技巧4.4.2硅栅CMOS版图和工艺的关系4.4.3CMOS电路版图举例14.4.1CMOSIC版图设计技巧一、布局要合理(1)引出端分布是否便于使用或与其他相关电路兼容,是否符合管壳引出线排列要求。(2)特殊要求的单元是否安排合理,如p阱与p管漏源p+区离远一些,使寄生PNP管pnp,抑制Latch-up效应,尤其是输出级更应注意。(3)布局是否紧凑,以节约芯片面积,一般尽可能将各单元设计成方形。(4.4)考虑到热场对器件工作的影响

2、,应注意电路温度分布是否合理。2二、单元配置恰当(1)芯片面积降低10%,管芯成品率/圆片可提高1520%。(2)多用并联形式,如或非门,少用串联形式,如与非门。(3)大跨导管采用梳状或马蹄形,小跨导管采用条状图形,使图形排列尽可能规整。3三、布线合理布线面积往往为其电路元器件总面积的几倍,在多层布线中尤为突出。扩散条/多晶硅互连多为垂直方向,金属连线为水平方向,电源地线采用金属线,与其他金属线平行。长连线选用金属。多晶硅穿过Al线下面时,长度尽可能短,以降低寄生电容。注意VDD、VSS布线,连线

3、要有适当的宽度。容易引起“串扰”的布线(主要为传送不同信号的连线),一定要远离,不可靠拢平行排列。4四、CMOS电路版图设计对布线和接触孔的特殊要求(1)为抑制Latchup,要特别注意合理布置电源接触孔和VDD引线,减小横向电流密度和横向电阻RS、RW。采用接衬底的环行VDD布线。增多VDD、VSS接触孔,加大接触面积,增加连线牢固性。对每一个VDD孔,在相邻阱中配以对应的VSS接触孔,以增加并行电流通路。尽量使VDD、VSS接触孔的长边相互平行。接VDD的孔尽可能离阱近一些。接VSS

4、的孔尽可能安排在阱的所有边上(P阱)。5(2)尽量不要使多晶硅位于p+区域上多晶硅大多用n+掺杂,以获得较低的电阻率。若多晶硅位于p+区域,在进行p+掺杂时多晶硅已存在,同时对其也进行了掺杂——导致杂质补偿,使多晶硅。(3)金属间距应留得较大一些(3或4.4)因为,金属对光得反射能力强,使得光刻时难以精确分辨金属边缘。应适当留以裕量。6五、双层金属布线时的优化方案(1)全局电源线、地线和时钟线用第二层金属线。(2)电源支线和信号线用第一层金属线(两层金属之间用通孔连接)。(3)尽可能使两层金

5、属互相垂直,减小交叠部分得面积。71.阱——做N阱和P阱封闭图形处,窗口注入形成P管和N管的衬底2.有源区——做晶体管的区域(G、D、S、B区),封闭图形处是氮化硅掩蔽层,该处不会长场氧化层3.多晶硅——做硅栅和多晶硅连线。封闭图形处,保留多晶硅4.4.有源区注入——P+、N+区(select)。做源漏及阱或衬底连接区的注入5.接触孔——多晶硅,注入区和金属线1接触端子。6.金属线1——做金属连线,封闭图形处保留铝7.通孔——两层金属连线之间连接的端子4.4.金属线2——做金属连线,封闭图形处保留铝

6、4.4.2硅栅CMOS版图和工艺的关系8NwellPwellCMOS反相器版图流程(1)1.阱——做N阱和P阱封闭图形,窗口注入形成P管和N管的衬底9NdiffusionCMOS反相器版图流程(2)2.有源区——做晶体管的区域(G、D、S、B区),封闭图形处是氮化硅掩蔽层,该处不会长场氧化层10PdiffusionCMOS反相器版图流程(2)2.有源区——做晶体管的区域(G、D、S、B区),封闭图形处是氮化硅掩蔽层,该处不会长场氧化层11PolygateCMOS反相器版图流程(3)3.多晶硅——做硅

7、栅和多晶硅连线。封闭图形处,保留多晶硅12N+implantCMOS反相器版图流程(4.4)4.4.有源区注入——P+,N+区(select)。13P+implantCMOS反相器版图流程(4)4.4.有源区注入——P+、N+区(select)。14contactCMOS反相器版图流程(5)5.接触孔——多晶硅,注入区和金属线1接触端子。共用栅NMOS漏NMOS源PMOS漏PMOS源NMOS源接VSS孔PMOS源接VDD孔15Metal1CMOS反相器版图流程(6)6.金属线1——做金属连线,封闭图

8、形处保留铝inoutVssVDD16viaCMOS反相器版图流程(7)7.通孔——两层金属连线之间连接的端子17Metal2CMOS反相器版图流程(8)8.金属线2——做金属连线,封闭图形处保留铝inputoutput18VDDGNDVDDGNDinverter:Schematic:Layout:inputoutputm1m2m2m1191.有源区和场区是互补的,晶体管做在有源区处,金属和多晶连线多做在场区上。2.有源区和P+,N+注入区的关系:有源区即无场氧化层,在

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