延迟测试

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1、1212延迟测试延迟测试2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所1内容内容°延迟测试定义°电路延迟和事件传播°路径延迟测试°非强健测试矢量（Non-robusttest）°强健测试测试矢量（Robusttest）°五值逻辑和测试生成°路径延迟故障(PDF)和其它故障模型°测试应用（施加）方法°组合,增强扫描和正常扫描°可变时钟方法额定时钟方法°全速测试°时序设计和延迟测试°小结2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所2延迟测试定义延迟测试定义°路径延迟测试----在一个时钟周期内可能完成正确的触发操作,即延迟界限位于时钟范围之内,称为无延迟故障,否则存在延迟故障.

2、°当施加输入和在指定的时间观察输出时,通过延迟测试的电路必须产生正确的输出.°对于组合电路或同步时序电路,延迟测试验证组合逻辑延迟的界限.°异步电路的延迟测试问题是复杂的,还没有很好的了解.°延迟故障类型:门延迟故障和路径延迟故障.2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所3数字电路时序数字电路时序输入信号瞬态区瞬态变化输出观察输入组合逻辑输出与时钟同步010－100时间时钟周期2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所4电路延迟电路延迟°开关或惯性延迟是门输入变化和输出变化之间的时间间隔:°取决于输入电容、器件（晶体管）特性和门的输出电容.°也取决于输入上升或下降时

3、间和其它输入的状态(二次效应).°近似:门输出的固定上升和下降延迟(或min-max延迟范围,或单固定延迟).°传播或互连延迟是门之间传播的转变时间:°取决于行程路径的传输线效应(分布R,L,C参数,长度和负载).°近似:模型为门输入的模块延迟.°时序模型2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所5事件传播延迟事件传播延迟单模块惯性延迟模型为每个门PI转变,假设没有时钟歪斜发生PathP1130A1QH246P21KBEGJ023P3C0252004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所6电路输出电路输出¢在信号输出端,每个路径可潜在地产生一个转变.¢通过路径延迟可确定每

4、个时刻输出转变的位置.ClockperiodFinalvalueInitialvalueFasttransitionsSlowtransitionstimeInitialvalueFinalvalue2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所7单可测试路径单可测试路径((非强健测试矢量非强健测试矢量))¢如果测试通过路径传播一转变到一路径目的的,测试目标路径的延迟.¢延迟测试矢量是一组矢量对（V1,V2）,即:°V1称为初始化矢量,在路径输入端产生一转变.°V2称为敏化矢量,产生静态敏化.don’tcareOff-pathinputsV1V2V1V2Targetpath如果仅在

5、电路中不存在其它的路径延迟故障条件下,测试矢量对（V1,V2）才能检测到路径P上的延迟故障,则测试矢量对（V1,V2）称为非强健测试矢量.2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所8强健测试矢量强健测试矢量（（RobustTestRobustTest））¢如果不论电路中是否存在其它的路径延迟故障,测试矢量对（V1,V2）都能检测到路径P上的延迟故障,则测试矢量对（V1,V2）称为强健测试矢量.¢强健测试矢量确保目标路径延迟故障的检测,不管其它路径上的延迟故障.¢强健测试矢量是一组矢量对,（V1,V2）,即满足下列条件:¢测试矢量对（V1,V2）是P的非强健测试矢量.¢如果在V2

6、作用下P的在路输入为控制值,则响应的旁路输入应该V1、V2的作用下都取稳定的非控制值.¢强健测试矢量也是非强健测试矢量.¢强健测试矢量的概念是一般的–可定义其它故障模型的强健测试矢量.2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所9强健测试矢量条件强健测试矢量条件¢目标路径上的实际事件.¢通过目标路径控制事件.V1V2V1V2V1V2V1V2U0U1U0U1U0/F0U0/F0U1/R1U1/R1V1V2V1V2S1S0S1S0U0/F0U0/F0U1/R1U1/R1上升和下降转换的强健路径延迟敏化2004-5-25北京大学微电子学研究院SOC研究所10五值代数学五值代数学¢信号状

7、态:S0,U0(F0),S1,U1(R1),XX.¢On-path信号:F0和R1.¢Off-path信号:F0=U0和R1=U1.Input1Input1ANDS0U0S1U1XXORS0U0S1U1XXS0S0S0S0S0S0S0S0U0S1U1XXU0S0U0U0U0U0U0U0U0S1U1XXS1S0U0S1U1XXS1S1S1S1S1S1U1S0U0U1U1XXU1U1U1S1U1U1Input2Input2XXS0U0X