7、是为什么很多器件厂家测试同样的产品,今天测和明天测结果会大相径庭的原因。解决办法参见图4的耦合器测试装配方式。 利用图4的配置可以一次得出器件的回损和方向性参数,以及器件PDL和平均IL。由于测试激光光源为偏振光源,这样对于器件插损测试就有一个PDL值大小系统测试的不确定性,如果器件本身PDL较大会比较成问题,所以采用去偏振器进行平均损耗测试。 这种测试方法的优点是测试稳定准确,基本排除了理论或系统误差,甚至抑制了随机误差,如插损采用无源去偏振器测试,缺点是需要搭建三个工位。EXFO公司资深专家、国际电联PMD组主席Andre G