晶体管共射极单管放大电路

晶体管共射极单管放大电路

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1、晶体管共射极单管放大电路一、  实验目的       1.学习如何设置放大电路静态工作点及其调试方法。       2.研究静态工作点对动态性能的影响。       3.进一步掌握低频信号发生器、晶体管毫伏表、电子示波器等常用电子仪器的正确使用方法。二、  原理说明在实践中,放大电路的用途是非常广泛的,单管放大电路是最基本的放大电路。共射极单管放大电路是电流反馈工作点稳定电路,它的放大能力可达到几十到几百倍。不论是单级或多级放大器它的基本任务是相同的,就是对信号给予不失真的、稳定的放大。1.              放大电路

2、静态工作点的选择 当放大电路仅提供直流电源,不提供输入信号后时,称为静态工作情况,这时三极管的各电极的直流电压和电流的数值,将在三极管的特性曲线上确定一点。这点常称为Q点。静态工作点的选择十分重要,它影响放大器的放大倍数、波形失真及工作稳定性等。静态工作点如果选择不当会产生饱和失真或截止失真。一般情况下,调整静态工作点,就是调整电路有关电阻(如RB1),使UCEQ达到合适的值。由于放大电路中晶体管特性的非线形或不均匀性,会造成非线形失真(又称固有失真),在单管放大电路中不可避免,为了降低这种非线形失真,必须使输入信号的幅值较小

3、。2.              放大电路的基本性能当放大电路静态工作点调好后,输入交流信号ui,这时电路处于动态工作情况,放大电路的基本性能主要是动态参数,包括电压放大倍数、频率响应、输入电阻、输出电阻。这些参数必须在输出信号不失真的情况下才有意义。基本性能测量的原理电路如图1-1所示。 (1)      倍数AU的测量用晶体管毫伏表测量图1-1中Ui和Uo的值。即:                    Au=Uo/Ui(2)                                输入电阻ri的测量如图1-1所示,

4、放大器的输入电阻ri就是从当大气输入端看进去的等效电阻。即:      ri=Ui/Ii通常测量ri的方法是:在放大器的输入回路串一个已知电阻R,选用R≈ri (这里的ri为理论估算值)。在放大器输入端加正弦信号电压u/i,用示波器观察放大器输出电压uo,在放大不失真的情况下,用晶体管毫伏表测电阻R两端对地的电压U/i和Ui(见图1-1),则有:                    (3)输出电阻ro的测量如图1-1所示,放大电路的输出电阻是从输出端向放大电路方向看进去的等效电阻,用ro表示。测量ro的方法是在放大器的输入端

5、加信号电压,在输出电压uo不失真的情况下,用晶体管毫伏表分别测量空载时(RL=∞,即③、④两点不连线)放大器的是出电压uo 值和带负载(RL=5.1k,即③、④两点连线)时放大器的输出电压UOL值,则输出电阻:                 (4)频率响应的测量 放大器的频率响应所指的是,在输入正弦信号不变的情况下,输出随频率连续变化的稳态响应,即对不同频率时放大倍数的测量。测试方法有逐点测量法和扫频法两种。三、实验内容       1. 调整静态工作点(1)      按共射极单管放大电路(如图1-2所示)接线。仅接直流电

6、源+12V,  不接信号发生器。 (2)          调节点位器Rp,使RB1=40kΩ,然后按表1-1内容测量静态工作点,将所测数据与路论估算值进行比较。注意测电阻时应断电,断RB1上的并联回路。                        表1-1  放大器静态工作点 UB (V)UBE (V)UCE (V)RB1 (kΩ)IB (µA)Ic(µA) β理论估算值  0.7  40   50 实际测量值       2. 测量放大器交流参数(1)      将图1-2中输入端①、②两点用导线接上。保持前面的静态工作

7、点不变,信号发生器输出信号街道放大器的输入端Ui′(要求:Ui=10mV,f=1kHz)。用示波器观察Ui′与UO的波形,并记录于图1-3中。                                                    图1-3 画放大器输入、输出波形(2)    用晶体管毫伏表分别测量U/i、Ui、Uo的值,数据填写在表1-2中(注意波形相位相反时数据加负号),并计算电压放大倍数Au,输入电阻ri和输入电阻rO。                               表1-2测量放大器的交流参

8、数项目工作条件    实测数据          计    算U/I(mV)Ui(mV)Uo(V)      Auri(kΩ)ro(kΩ) 空载 10 Uoo=理论   实测  接负载(RL=5.1k) 10 UoL=理论 实测 3. 观察静态工作点对动态性能的影响(1)  

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