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时间：2018-07-17
《笔记本三代内存(槽)测试点》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、笔记本三代内存（槽）测试点A.电压：(5种)+1.5V（+1.5V_SUS）+1.5V75、76、81、82PIN+0.75V(0.75V_DDR_VTT)+0.75V203、204PIN+SMDDR_VREF_DQ0+0.75V1PIN+SMDDR_VREF_DIMM0+0.75V126PIN+3.3V(+3.3V_RUN)+3.3V199PINB.关键信号：200pin：SMBDATA+3V1.240202pin：SMBCLK+3V1.24030pin：DDR3_DRAMRST#198pin：PM_EXT
2、TS#0注：SMBDATA和SMBCLK信号线上的两个开关MOS管较易损坏，引起内存无法识别。现象是：跑代码不过内存，内存排阻上无波形跳变。（自检不过内存）以上信号名称在不同图纸中会有不同标示，但电压值都是一样。以上是参考DELL的图纸。
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