光学测试技术复习资料

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1、光学检测原理复习提纲第一章基本光学测量技术一、光学测量中的对准与调焦技术1、对准和调焦的概念(哪个是横向对准与纵向对准？)P1对准又称横向对准，指一个目标与比较标志在垂轴方向的重合。调焦又称纵向对准，是指一个目标像与比较标志在瞄准轴方向的重合。2、常见的五种对准方式。P2压线对准，游标对准。。。。3、常见的调焦方法最简便的调焦方法是：清晰度法和消视差法。p2二、光学测试装置的基本部件及其组合1、平行光管的组成、作用；平行光管的分划板的形式（abcd）。P14作用：提供无限远的目标或给出一束平行光。（a）

2、"+"字或"+"字刻线分划板；（b）分辨率板；（c）星点板；（d）玻罗板组成:由一个望远物镜（或照相物镜）和一个安置在物镜焦平面上的分划板。二者由镜筒连在一起，焦距1000mm以上的平行光管一般都带有伸缩筒，伸缩筒的滑动量即分划板离开焦面的距离，该距离可由伸缩筒上的刻度给出，移动伸缩筒即能给出不同远近距离的分划像（目标）。2、什么是自准直目镜（P15）（可否单独使用？），自准直法？一种带有分划板及分划板照明装置的目镜。Zz自准直：利用光学成像原理使物和像都在同一平面上。3、；高斯式自准直目镜（P16）、

3、阿贝式自准直目镜（P16）、双分划板式自准直目镜（P17）三种自准直目镜的工作原理、特点。P15—p17（概念，填空或判断）1高斯式自准直目镜缺点--分划板只能采用透明板上刻不透光刻线的形式，不能采用不透明板上刻透光刻线的形式，因而像的对比度较低，且分束板的光能损失大，还会产生较强的杂光。2阿贝式自准直目镜---特点射向平面镜的光线不能沿其法线入射，否则看不到亮“+”字线像。阿贝目镜大大改善了像的对比度，且目镜结构紧凑，焦距较短，容易做成高倍率的自准直仪。主要缺点：直接瞄准目标时的视轴（“+”字刻度线中

4、心与物镜后节点连线）与自准直时平面镜的法线不重合；且视场被部分遮挡。3双分划板式自准直目镜--要求两块分划板都要位于物镜焦面上，且二者刻线中心应位于同一条视轴上。特点这种自准直目镜能实现视轴与平面镜法线重合，且像的对比度好。但光能损失较阿贝目镜大，结构较复杂；其中一块分划板若有垂轴方向移动则造成自准时平面镜法线与视轴不重合，故不如高斯目镜可靠。三、光学测量误差1、误差的来源归结为4个方面……；误差的分类3个：定义。P20—P21误差的来源：a、设备误差（标准器件误差、装置误差）；b、环境误差（温度、湿度

5、、振动、照明等与标准状态不一致；电磁干扰；某些高能粒子对光电探测器干扰等）；c、人员误差（人眼分辨率有限，操作水平不高或固有习惯、感觉器官的生理变化等引起的操作和观测误差）；d、方法误差（采用的数学模型不完善，采用近似测量方法或由于对该项测量研究不充分等）。误差的分类：a、系统误差测量条件改变时，按照确定规律变化的误差称为系统误差。包括仪器的制造误差、校准或调整误差、标准件的量值误差等。b、偶然误差（随机误差）在相同的测量条件下，多次测量同一量时，误差的绝对值和符号以不可预测的方式变化的误差称为偶然误差

6、。c、粗大误差超出在规定条件下预期的误差称为粗大误差。四、焦距和顶焦距的测量p321、测负透镜焦距时，焦距与显微镜工作距离关系。由于负透镜成虚像，用测量显微镜观测这个像时，显微镜的工作距离必须大于负透镜的焦否则看不到刻线像。若显微物镜的放大率为β，通过测量显微镜读得y″，则得y″=y′*β，即被测透镜的焦距：2、使用的分划板灵活应用公式进行焦距计算43、思考题：要测量一镜片的焦距，已知玻罗板上某刻线对的间距为30mm，测量显微物镜放大倍率10x，平行光管物镜的焦距1200mm，通过测量显微镜的目镜测得玻

7、罗板上刻线像的间距为4mm，试求出该镜片的焦距。（注经过显微镜后存在放大倍率问题）第二章   光学准直与自准直技术一、激光准直与自准直技术激光束有很高的亮度和相当好的方向性。可利用倒装望远镜对激光束再进行细化和准直。二、自准直法测量平面光学零件光学平行度1、第一光学平行度θⅠ、第二光学平行度θⅡ定义。P48角度误差造成两平面在入射光轴截面内的不平行，称为第一光学平行度θI棱差则造成垂直于入射光轴截面内的不平行，称为第二光学平行度θII。三、自准直法测量球面曲率半径和焦距1、自准球径仪（图2-12）的工作

8、原理（要求会画原理图）。P50—51一、自准直法测量球面曲率半径以抛光的被测球面作反射面，当投射到球面上的光线沿球面法线方向入射时，反射光线按原方向返回，在物体（被照明的分划板）所在平面C′上生成自身的清晰像。2、自准直显微镜测量焦距、顶焦距（定义）的测量原理。（夹持器作用）P53—54作业当自准直显微镜3调焦在被测透镜2的焦点F′上时，从自准直显微镜射出的光束经被测透镜后成平行光射向平面镜1.调节平面镜使它垂直于入射光束，则反射光按原路返