mocvd外延生长技术简介

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1、MOCVD外延生长技术简介摘要:MOCVD外延技术是国内目前刚起步的技术,本文主要介绍外延的基本原理以及目前世界上主要外延生产系统的设计原理及基本构造。   外延生长的基本原理是,在一块加热至适当温度的衬底基片(主要有红宝石和SiC两种)上,气态物质In,Ga,Al,P有控制的输送到衬底表面,生长出特定单晶薄膜。目前LED外延片生长技术主要采用有机金属化学气相沉积方法。MOCVD   金属有机物化学气相淀积(Metal-OrganicChemicalVaporDeposition,简称MOCVD),1968年由美国洛克威尔公司提出来的一项制备

2、化合物半导体单品薄膜的新技术。该设备集精密机械、半导体材料、真空电子、流体力学、光学、化学、计算机多学科为一体,是一种自动化程度高、价格昂贵、技术集成度高的尖端光电子专用设备,主要用于GaN(氮化镓)系半导体材料的外延生长和蓝色、绿色或紫外发光二极管芯片的制造,也是光电子行业最有发展前途的专用设备之一。 第一章外延在光电产业角色 近十几年来为了开发蓝色高亮度发光二极管,世界各地相关研究的人员无不全力投入。而商业化的产品如蓝光及绿光发光二级管LED及激光二级管LD的应用无不说明了Ⅲ-Ⅴ族元素所蕴藏的潜能,表1-1为目前商品化LED之材料及其

3、外延技术,红色及绿色发光二极管之外延技术大多为液相外延成长法为主,而黄色、橙色发光二极管目前仍以气相外延成长法成长磷砷化镓GaAsP材料为主。MOCVD机台是众多机台中最常被使用来制造LED之机台。而LED或是LD亮度及特性的好坏主要是在于其发光层品质及材料的好坏,发光层主要的组成不外乎是单层的InGaN/GaN量子井Single QuantumWell或是多层的量子井MultipleQuantum Well,而尽管制造LED的技术一直在进步但其发光层MQW的品质并没有成正比成长,其原是发光层中铟Indium的高挥发性和氨

4、NH3的热裂解效率低是MOCVD机台所难于克服的难题,氨气NH3与铟Indium的裂解须要很高的裂解温度和极佳的方向性才能顺利的沉积在InGaN的表面。但要如何来设计适当的MOCVD机台为一首要的问题而解决此问题须要考虑下列因素:1要能克服GaN成长所须的高温2要能避免MO Gas金属有机蒸发源与NH3在预热区就先进行反应3进料流速与薄膜长成厚度均。一般来说GaN的成长须要很高的温度来打断NH3之N-H的键解,另外一方面由动力学仿真也得知NH3和MOGas会进行反应产生没有挥发性的副产物。了解这些问题之后要设计适当的MOCVD

5、外延机台的最主要前题是要先了解GaN的成长机构,且又能降低生产成本为一重要发展趋势。外延片工艺流程衬底——结构设计——缓冲层生长——N型GaN层生长——多量子阱发光层生长——P型GaN层生长——退火——检测(光荧光、X射线)——外延片外延片——设计、加工掩模版——光刻——离子刻蚀——N型电极(镀膜、退火、刻蚀)——P型电极(镀膜、退火、刻蚀)——划片——芯片分检、分级生产工艺流程具体介绍如下:固定:将单晶硅棒固定在加工台上。切片:将单晶硅棒切成具有精确几何尺寸的薄硅片。此过程中产生的硅粉采用水淋,产生废水和硅渣。退火:双工位热氧化炉经氮气吹扫

6、后,用红外加热至300~500℃,硅片表面和氧气发生反应,使硅片表面形成二氧化硅保护层。倒角:将退火的硅片进行修整成圆弧形,防止硅片边缘破裂及晶格缺陷产生,增加磊晶层及光阻层的平坦度。此过程中产生的硅粉采用水淋,产生废水和硅渣。分档检测:为保证硅片的规格和质量,对其进行检测。此处会产生废品。研磨:用磨片剂除去切片和轮磨所造的锯痕及表面损伤层,有效改善单晶硅片的曲度、平坦度与平行度,达到一个抛光过程可以处理的规格。此过程产生废磨片剂。清洗:通过有机溶剂的溶解作用,结合超声波清洗技术去除硅片表面的有机杂质。此工序产生有机废气和废有机溶剂。RCA清

7、洗:通过多道清洗去除硅片表面的颗粒物质和金属离子。具体工艺流程如下:SPM清洗:用H2SO4溶液和H2O2溶液按比例配成SPM溶液,SPM溶液具有很强的氧化能力,可将金属氧化后溶于清洗液,并将有机污染物氧化成CO2和H2O。用SPM清洗硅片可去除硅片表面的有机污物和部分金属。此工序会产生硫酸雾和废硫酸。DHF清洗:用一定浓度的氢氟酸去除硅片表面的自然氧化膜,而附着在自然氧化膜上的金属也被溶解到清洗液中,同时DHF抑制了氧化膜的形成。此过程产生氟化氢和废氢氟酸。APM清洗:APM溶液由一定比例的NH4OH溶液、H2O2溶液组成,硅片表面由于H2

8、O2氧化作用生成氧化膜(约6nm呈亲水性),该氧化膜又被NH4OH腐蚀,腐蚀后立即又发生氧化,氧化和腐蚀反复进行,因此附着在硅片表面的颗粒和金属也随腐蚀层而落入清洗

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