数显卡尺内校管理办法

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1、数显卡尺内校管理办法1.0目的及适用范围1.1目的本管理办法规定了数显卡尺的技术要求、校准条件、校准项目、校准方法、校准结果的处理和校准周期。1.2适用范围本管理办法用于新购置、使用中和修理后的数显卡尺功能的校准。2.0引用文件JJG30-2002通用卡尺检定规程3.0术语和定义不需用4.0一般要求4.1技术要求4.1.1外观及附件。被检卡尺的外观应完好，无影响正常工作的机械损伤，其附件和使用说明书应齐全。4.1.2工作正常性被检卡尺的各开关及显示功能应正常，通电后应能正常工作。4.2校准条件4.2.1环境条件如下：4.2.1.1环境温度：（20±5）℃；4.2.1.2相对湿度

2、：20％～75％；4.2.2校准用设备校准所用标准设备必须经过法定计量技术机构校准合格，并在有效期内。标准设备的测量范围要涵盖被检仪器的测量范围，标准件的精准度最少小于被检卡尺的三分之一。4.2.2.1三等量块4.2.2.2数显千分尺5.0详细要求5.1校准项目5.1.1周期校准项目5.1.1.1外观及附件；5.1.1.2工作正常性；5.1.1.3各量程内的示值误差。5.1.2修理后校准项目修理后的仪器校准时，一般按周期校准的项目进行校准，必要时可视修理情况增加有关的校准项目。5.2校准方法5.2.1外观及附件的检查用目视法检查被检卡尺的外观及附件，其结果应符合4.1.1的规定

3、。5.2.2工作正常性的检查5.2.2.1被校卡尺应在4.2.1规定的条件下放置2h以上。5.2.2.2被检卡尺各开关及功能键的功能应正常。5.2.2.3用被检卡尺外爪，深度尺量测标准量块，用千分尺测量卡尺的内爪。5.3.1选择校准点5.3.1.1选择三个点对卡尺的长度测量进行校准；5.3.1.2数字显示器示值稳定性的校准：将卡尺的固定螺柱拧紧，将卡尺放在一固定位置1小时，示值变化不得超过0.01mm；5.3.1.3示值稳定变动性：将同一量块测量10次，最大值减最小值的差不得超过0.01mm.5.3.1.4用外爪夹持1个人10mm的量块，紧固螺栓后用量块可以滑动但不掉落，用千分

4、尺量测内爪。5.4.1卡尺示意图5.4.1.2选择被检卡尺的适当校准点，由标准量块的标准值，从被检卡尺得到示值；5.4.1.3读取并记录和值在校准原始记录上。5.4.1.4按式（1）、（2）计算被检表的示值误差。公式（1）公式（2）式中：——被检卡尺的示值误差，V；——被检卡尺的相对误差；——被检卡尺示值，V；——标准值，V；5.4.1.5应符合使用说明书的要求。5.5校准结果的处理和校准周期5.5.1校准结果的处理经校准合格的被检卡尺出具校准证书和校准合格证，不合格的被检表出具校准不合格报告,并注明不合各项目。5.5.2校准周期数显卡尺校准周期为一年，修理后校准合格才能使用。

5、5.5.3校准记录结果有校准部门进行保存，保存期限为二年。5.6校准使用表格及标贴5.6.1数显卡尺原始记录表；5.6.2数显卡尺校准报告；5.6.3校准不合格报告；5.6.4校准证（参见“计量设备控制程序”附录二）；5.6.5限用证（参见“计量设备控制程序”附录二）；5.6.6停用证（参见“计量设备控制程序”附录二）；