gsm上行干扰排查指导

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时间:2018-07-27

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1、GSM上行干扰排查指导书1概述本文通过三门峡上行干扰排查,对造成上行干扰的原因和排查方法进行总结,指导现场用服人员,合作方督导,维护人员对上行干扰的排查工作。2上行干扰表现及原因2.1上行干扰判断上行干扰带是话统中判别上行干扰的一项重要指标。它是利用载频RSSI电平上报这一功能,在空闲时隙上统计机顶口功率电平来判别上行信号受干扰的程度。因为空闲时隙是没有业务的,此时检测到任何电平都可以认为是对有用信号的干扰,这种干扰可能来自网内同频干扰、外界干扰或基站内部的互调干扰等。在无干扰的情况下,上行干扰带的统计等级都为1。上行

2、干扰带等级的定义如下:干扰带等级电平值范围干扰带1-110~-100dBm干扰带2 -100~-95dBm干扰带3 -95~-90dBm干扰带4 -90~-85dBm干扰带5 -85~-47dBm如下图所示,TRX9和TRX124级干扰带占绝大部分,这时即存在上行干扰现象。1.1上行干扰因素产生上行干扰的主要原因有:1)无源互调2)直放站干扰3)C网干扰4)网内同临频干扰5)载频问题6)其它外部干扰其中无源互调属于基站及天馈系统内部干扰,直放站干扰和C网干扰属于外部干扰。2上行干扰原因及排查方法2.1无源互调上行干扰最

3、多的就是基站和天馈系统(包括天线)的无源互调。无源互调特性(PIM)是指接头、馈线、天线和滤波器等无源部件在多个载波的大功率信号条件下,由于部件本身存在非线性而引起的互调效应。通常认为无源部件是线性的,但是随着基站功率和载波数的增加,无源部件都不同程度地存在一定的非线性,这种非线性主要是由以下因素引起的:不同材料的金属的接触;相同材料的接触表面不光滑;连接处不紧密;存在磁性物质,器件功率容量不足等。互调产物会对通信系统产生干扰,特别是落在接收带内的互调产物将对系统的接收性能产生严重影响。无源互调判断方法:凌晨话务较少时

4、,先统计小区的干扰带,然后小区所有载频发送空闲burst,再统计小区干扰带,如果干扰带有明显上升,比如原先为1,发射后出3级或以上干扰带,则可证明存在上行互调干扰。这里发送空闲BURST是为了让多个载波大功率信号作用于天馈系统,把隐藏的上行互调问题暴露出来。1.1.1无源互调排查方案一:上图为基站系统结构图,基站发射信号通道中的所有无源器件,都可能产生无源互调,包括基站系统中的双双工器DDPU和DDPM;合路单元DCOM和DFCU;室内天馈部分的滤波器,避雷器和下跳线;室外天馈部分的上跳线和天线;馈线等。系统产生的无源

5、互调无法直接判断出是哪一个部件出的问题,只能进行分段排查,排查每一段时观察干扰带变化(比较空闲时隙测试前后频谱)。在确定存在互调现象后可采用如下排查方法:步骤-:检查基站设备及天馈系统基本情况1)进入机房后,请先检查基站设备及天馈系统的基本情况。2)检查载频和空腔的射频连线是否正确;3)检查基站空腔发射口的接头、跳线与馈线的接头是否松动;检查利旧部件各个接头是否锈蚀,接头是否存在碎屑等制作不良。1)检查部分跳线塑胶表皮是否裂开,跳线和馈线是否弯折过大等。2)检查现场是否安装了为了抗C网干扰而添加的滤波器,由于它们自身体

6、积大质量重,且受力不对称,很容易在安装和维护过程中受力过大而损坏,产生互调干扰。各个地方都曾大批发现此类问题。步骤二:判断互调通路在S8配置下,一个小区有两个DFCU,每一个连接4路下行信号并输出4路上行信号,任意一路出现互调都会影响整个小区的上行信号,因此需要判断是哪一路出现互调,连接图如下文档。判断方法根据是否使用频谱仪分为两种:使用频谱仪用下面的方法:在进行空闲时隙测试时使用频谱仪分别测试两个DFCU输出的上行信号,根据跨柜和不跨柜分为两种情况。1、不跨柜模式:取RX5或者RX6口进行测试,若上行信号出现频谱抬升

7、现象则说明存在互调干扰。2、跨柜模式:取RX1或者RX6进行测试,若RX1输出的上行信号出现频谱抬升现象则说明此通路存在互调干扰,若RX6输出的上行信号出现频谱抬升现象则说明另一个通路存在互调干扰。不使用频谱仪用下面的方法:1、不跨柜模式:拔掉任意一个DFCU的RX1~RX4输出端,进行空闲时隙测试,若此时干扰带恶化消失,则此路存在互调;若此时干扰带依旧存在恶化,则另一路存在互调。2、跨柜模式:将一个DFCU的HL_IN和HL_OUT断开,进行空闲时隙测试,哪个DFCU下的4个载波干扰带发生恶化,说明哪一路存在互调干扰

8、。步骤三:检查基站设备及天馈系统的连接质量摇晃各个接头并通过BSC观察干扰带变化。若此时干扰带出现恶化,则接头处存在连接不良的情况,此时需要重新进行安装或者重做接头;若没有恶化则进行下一步。步骤四:倒换正常小区和干扰小区的天馈系统将正常小区和干扰小区的天馈系统从馈线处互相倒换(例如1小区有干扰,3小区正常),发空闲Burst测试;

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