熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素

熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素

ID:14481848

大小:186.50 KB

页数:5页

时间:2018-07-29

熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素_第1页
熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素_第2页
熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素_第3页
熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素_第4页
熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素_第5页
资源描述:

《熔融制样x射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、熔融制样X射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素应晓浒曹国洲(宁波出入境检验检疫局,宁波,315012)摘要:采用熔融制样X射线荧光光谱法测定钠长石和钾长石中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、Fe2O3、Rb、Sr、Y、Zr、Ba14个成分的含量,所得结果与化学分析结果相符,各组分测定33次的RSD在0.10%~4.67%。在试验过程中,对功率为1kW和4kW的两种波长色散型X射线荧光光谱仪的灵敏度和检出限进行了比较,并对仪器的精密度和长期稳定性进行了考察。关键词:X射线荧光光谱;熔融制样;

2、长石中图分类号:O657.34文献标识码:B长石中的化学成分一般采用湿法化学分析法[1]分析,存在操作复杂、分析时间长等缺点,文献[2]采用压片制样X射线荧光光谱法测定钾长石的化学成分,获得了较满意的结果,但是由于是压片制样,样品的矿物和粒度效应较严重,要求校准样品和待测样品为同一矿源,获得一套好的校准样品有一定难度。本文采用X射线荧光光谱仪同时测量钠长石和钾长石中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、Fe2O3、Rb、Sr、Y、Zr、Ba14个成分的含量,制样方法采用熔融制样以消除样品的矿物效

3、应和粒度效应,同时应用可变理论α影响系数校正元素间的吸收增强效应,提高测量结果的准确性。考虑到目前市场上波长色散型X射线荧光光谱仪的种类较多,本文选择了两种功率不同的仪器进行了比较,以指出不同仪器进行长石日常分析时所选取的不同的测量条件。1实验仪器S4Pioneer型顺序式X射线荧光光谱仪,铑靶X光管,功率4kW;S4Explore型顺序式X射线荧光光谱仪,铑靶X光管,功率1kW。此两款仪器均由德国BrukerAXS公司制造。仪器的测量条件见表1,每条谱线的测量时间根据测量要求由软件自动优化获得;VAA2型半自动燃气熔样炉,烧丙烷和氧

4、气,温度可达1700℃。表1X射线荧光光谱仪的测量条件Tab.1MeasurementConditionofX-rayFluorescenceSpectrometer组分Composition谱线Line晶体CrystalS4Pioneer(4kW)S4Explore(1kW)电压V(kV)电流I(mA)计数器Detector电压V(kV)电流I(mA)计数器DetectorNa2ONaKαOVO5527150F-PC2050S-PCMgOMgKαOVO5527150F-PC2050S-PCAl2O3AlKαPET27150F-PC2

5、050S-PCSiO2SiKαPET27150F-PC2050S-PCP2O5PKαPET27150F-PC2050S-PC收稿日期:2002-10-17;修订日期:2003-2-18作者简介:应晓浒(1968年-),男,浙江省宁波市人,高级工程师,从事光谱分析工作。5K2OKKαLiF2005081F-PC5020S-PCCaOCaKαLiF2005081F-PC5020S-PCTiO2TiKαLiF2005081F-PC5020S-PCFe2O3FeKαLiF2005081SC5020SCRbRbKαLiF2006067SC

6、5020SCSrSrKαLiF2006067SC5020SCYYKαLiF2006067SC5020SCZrZrKαLiF2006067SC5020SCBaBaLα1LiF2005081F-PC5020S-PC2实验结果及分析2.1试料片的制备称取7.5gLi2B4O7,1.5g试料于铂黄坩埚中,用玻璃棒混匀,放入半自动熔样炉中熔融,熔融过程中熔样炉自动进行摇匀。10min后倒入已预热的铂黄模具中,风冷5min,试料片与模具自动剥离,取出待测。2.2测量和基体效应的校正按所定的测量条件测定10个欧洲、美国和中国的长石标准样品,按公式1

7、进行回归,求出校准曲线的斜率、截距和谱线重叠校正系数,用随机分析软件SpectraPlus中的可变理论α影响系数法进行基体效应校正。表2是基体效应校正前后的校准曲线标准偏差的变化,由于样品经熔融稀释,因此基体效应不严重。Ci=s×(Ii+βij×Ik)×(1+∑αij×Cj)+b……(1)式中Ci、Cj:测量元素和影响元素的浓度S、b:校准曲线的斜率和截距Ii:测量元素的X射线荧光强度βij:谱线重叠校正系数Ik:重叠谱线的理论计算强度αij:影响元素对测量元素的可变理论α影响系数表2基体效应校正前后的校准曲线标准偏差的比较Tab.2

8、ComparisonofStandardDeviationofCalibrationCurvesBeforeandAfterMatrixCorrectionWB/10-2组分Composition含量范围Contentr

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。