千分尺检定管理规程

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1、东莞培训网www.bz01.com千分尺检定管理规程1.目的本规程规定了千分尺检定规程本规程适用于本公司千分尺计量检定2.技术要求和检定方法2.1外观2.1.1要求2.1.1.1千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，刻线应清晰、均匀。2.1.1.2千分尺应附有调整零位的工具测量上限大于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。2.1.1.3千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。2.1.1.4使用中的和修理后的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。2.1.2检定方法：目力观察。2.2各部分相互作用2

2、.2.1要求2.2.1.1微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象。2.2.1.2可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，锁紧装置的作用应切实有效。2.2.1.3带有表盘的千分尺，表针移动应灵活，无卡滞现象。2.2.2检定方法试验和目力观察2.3测微螺杆的轴向串动和径向摆动。2.3.1要求：测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。2.3.2检定方法2.3.2.1测微螺杆的轴向串动，用杠杆千分表检定，检定时，使杠杆千分表与测微螺杆测微量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N~5N。东莞培训网www.bz01.com1.1.1.1

3、测微螺杆的径向摆动示用杠杆千分表检定，检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再往杠杆千分表测量方向加力2N~3N，然后以相反方向加力2N~3N，这一检定应在相互垂直的两个径向方向检定。1.2测砧与测微螺杆工作面相对偏移1.2.1要求千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于JJG21-95标准中的规定。1.2.2检定方法在平板上用杠杆百分表检定，对于测量范围大于300mm的千分尺用百分表检定，检定时借助千斤顶将千分尺放置在平板上，根据JJG21-95要求，调整千斤顶使千分尺的测微螺杆与平板工作面平行，然后用百分表测

4、出测砧与测微螺杆在这方位上的偏移量x，然后将尺架侧转90°按上述方法测出测砧与测微螺杆在另一方位上的偏移量y，测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量Δ按下式要求的Δ=√x2+y2此项检定也可用其它专用检具检定。1.3测力1.3.1要求千分尺的测力（指工作面与球面接触时所作用的力）应在6N~10N范围内。1.3.2检定方法用分度值不大于0.2N的专用测力计检定，检定时，使工作面与测力计的球工作面接触后进行。1.4刻线宽度及宽度差1.4.1要求固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15~0.20mm，刻线宽度差应不大于0.03mm，刻线盘的刻线宽度为0.2

5、0~0.30mm，刻线宽度差应不大于0.05mm。1.4.2检定方法在工具显微镜上检定，微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽检三条刻线。东莞培训网www.bz01.com1.1指针与刻线盘相对位置1.1.1要求板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30~80%，指针末端上表面至刻度盘表面的距离应不大于0.7mm，指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05mm。1.1.2检定方法指针末端与刻度盘短刻线的相对位置可用目力估计，指针末端上表面至刻度盘表面的距离应用塞尺进行检定，上述检定应在刻度盘上均匀分布的三个位置上进行，指针末

6、端与刻度盘的刻线的宽度差在工具显微镜上检定。1.2微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离。1.2.1要求微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。1.2.2检定方法在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定，检定时在微分筒转动一周内不少于三个位置进行。1.3微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置1.3.1要求当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。1.3.2检定方法

7、当测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量。2.工作面的表面粗糙度2.1要求2.1.1外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.05μm，壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.1μm。2.2检定方法用表面粗糙度比较样块用比较法检定。3.工作面的平面度东莞培训网www.bz01.com1.1要求零级外径千分尺工作面的平面度不大于0.6μm，一级外径千分尺工作面的平面度不大于1μm，壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1.2μm，板厚千分尺工作面

8、的平面度应不大于1μm。1.2检定方法用二级平晶用技术光波干涉法检定，对于使用中的可用1级刀口尺用光隙法检定，工作面直径为