便携式x射线衍射仪xrd-terra介绍

便携式x射线衍射仪xrd-terra介绍

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时间:2018-08-09

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1、一、XRD-Terra生产厂商以及荣誉客户信息美国Innov-x公司是全球著名的便携式XRD及便携式XRF系统生产商,该公司的产品被欧美的许多科研单位和地矿部门所使用,在便携式XRD及XRF行业具有很高的知名度。作为唯一的销售代理和技术支持供应公司的深圳市莱雷科技发展有限公司注册于深圳市宝安区,从2006年开始面向我国科研单位以及企业部门提供便携式XRD及XRF的销售和技术服务,是一家具有良好技术以及负责人的公司。便携式XRD及XRF的大部分用户是国外研究机构及我国各大地矿部门及研究所,如美国宇航局、美

2、国洛斯阿拉莫斯国家实验室、美国能源部、美国喷气推进实验室、美国中西部研究所、印第安纳大学、马萨诸塞大学、北京科技大学、北京化工大学、中国地质大学、广东省核工业地质局、广州市特种设备检测研究院、四川省冶金地质勘查局、山东省地质矿产勘查院、西南石油大学-成都理工大学油气藏地质及开发工程国家重点实验室、中石化、中石油、深圳市海滨制药有限公司等。二、XRD-Terra原理简介1、XRD-Terra仪器原理XRD-Terra是XRD家族中一款颠覆性的产品,采用最新的2D-XRD技术,与传统大型台式1D-XRD相比

3、较,具有原理构造上的创新,其表现在:1)采用透射衍射几何技术:即X光束直接穿透样品,探测器接收的是透过样品的衍射光束而非传统台式机探测器接收的反射光束。2)采用大面积二维CCD探测器而非传统一维计数器,探测面积为1024x256pixels,且能同步进行XRD和XRF信息采集。3)采用样品振动系统(NASA专利),不使用传统测角仪,在样品检测过程中,X光束和探测器均静止不动,而所检测样品通过磁性连锁装置高速振动,以获取衍射信息。XRD基本原理—布拉格定律XRD-BTX原理构造图XRD-Terra机体2、

4、XRD-Terra测试原理XRD-Terra测试分为三步,启动仪器(无需仪器校正)—制样装样—检测。使用XRD-Terra专门配置的样品制备系统,将样品研磨成粉末(粒径D<150um),然后装填进样品室中(样品量m~15mg),X光束穿透样品,探测器接收衍射光束,形成衍射图谱,得到样品信息。1)样品制备及装填碾碎滤筛取样装填2)样品测试过程X光束照射样品样品对X光束产生衍射探测器接收衍射线形成衍射图谱3)检测结果XRD衍射图谱XRF图谱三、XRD-Terra结构系统X光管、X射线准直器、探测器、冷却系统

5、、样品振动系统、电池电源系统、WIFI生成系统为Terra的主要的部件,其构成了整个BTX系统。X光管为微焦X射线管,靶材标准配置为Cu、Co,并可根据检测样品情况选择使用Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、Wu等。管电压为30kv,管电流为0.3mA,功率为10w。低功率管压保证了射线管长使用寿命,正常使用至少达10年。微焦X射线管保证了X射线良好的聚焦性。X射线准直器采用针孔准直系统,替代传统大型台式机的光学校准部件,光栅作用一致。探测器采用二维CCD探测器,探测面积1024x256pixels,该探测器

6、可有效识别衍射光束和荧光光束,对能量和位置极度灵敏,可同步进行XRD及XRF分析。冷却系统采用Peltier电子制冷,可有效保证探测器正常工作温度(-45°C)样品振动系统(NASA专利)替代传统测角仪,该装置使得样品在样品室中以6000HZ的频率振动,保证样品检测的多角度,同时提高检测样品的统计量。电源系统使用110V/200V电压,电池系统为锂电池,热插拔,独立供电可支持仪器4-6小时工作时间。仪器内部自带WIFI无线生成系统,可通过该装置与笔记本电脑远程连接,实现仪器的操控和数据传输。四、XRD-

7、Terra与同类产品的比较及特点XRD-Terra是世界上首款真正意义上的便携式X射线衍射仪,与传统X射线衍射仪相比较,具有以下特点:XRD-Terra大功率台式机图像原理透射衍射几何技术2D-XRD反射衍射几何技术1D-XRD构造一体机便携式设计二维CCD探测器使用电子制冷,无需水循环冷却系统无测角仪,代之以样品振动系统使用WIFI无线连接,无机械移动部件大型台式机体一维计数器使用水循环冷却系统使用测角仪,步进扫描检测样品使用有线连接,有机械移动部件参数性能对比能同时进行XRF元素分析二维CCD探测器

8、,全谱接收使用环境温度-20°—35°C电子制冷系统样品制备更简单,无需制片,粒径<150um即可样品振动系统,可消除晶体择优取向,增加检测样品的数量,适合大颗粒样品操作使用简单,无需复杂参数设置和校正几无耗材,保养费用较低,无需专业实验室,可满足现场检测使用,可防尘、防雾、防震动只能进行XRD分析一维计数器,步进扫描使用环境温度15℃~+25℃水循环冷却系统制样复杂,样品需刮平打磨压片,粒径<10um样品制备要求较高,必须消除择优取向操作

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