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1、198年第6期物理测试永磁材料测量中尚存的若干问题华瑛,上海上海钢铁研究所2(X刃40摘要本文对永磁,测量技术中尚存在的不足与问题作了一些探索与讨论旨在使目前的永磁测量技。术朝着更趋于完善的方向发展:;;关键词永磁体磁化场磁特性丁heestiMurntMeth记ofPenentM兴笋etMateriQu姗foreas~na山周比坛舰;eocea户侧蛇h,,ct仆tec抽d叮ofntfor伴ntm唱搜titomak即the甲圈石叨axedisc世曰刃侧巨h五lerPti飞develo碘沈nt~词~thafhatOnit.ywonls:址m唱叱~怕;m吧茂血西明6
2、dd;浏唱沈UCrties价谬Pro伴~:,”nt”廿tUte,1,HuaY吨S腼妙aihandSel凡,ea叨h五3翻目‘1佣9401前言,。,对永磁材料的磁参量进行准确测量一直是磁学工作者探讨和追求的目标近几年来我,,、、国在永磁测量领域里取得了较大的进展在测量设备测量方法人员素质方面得到了很大的。。进步但在永磁测量技术中仍还存在着不少间题本文对永磁测量技术中尚存在的不足与问。,、题作了一些探讨通过这些讨论使人们的思想意识能从解决测量手段到追求准确性高可比,;性的方面转换从解决材料的磁特性测量方法到进一步加强产品的质量检验手段的方向发展。使永磁测量技术能朝
3、着更趋于完善的目标迈进2样品的端面平整度问题,,,由于工艺上的原因常规试样的端面往往出现不很平整有一些表面缺陷光洁度不高等。,、、r问题为了分析端面平整对磁性能影响的程度我们取了2J632J64FeCovC三种材料的样品,,比较它们磨平前后的磁性能测量结果,对其磨平前与磨平后进行了十八组对比实验发现,。样品的端面平整度对测量结果有很大的影响磨平后的磁性能较磨平前高矫顽力可以高.,.14。:。24%剩磁可以高27%分析其原因是由于样品在测量磁路中漏磁通的大小所造成的,。,因为据电磁学原理在磁路中安培环路定理成立而永磁磁路的总磁通是由两部分组成的通I过漏磁间隙的漏
4、磁通(用漏磁通密度B表示)和通过有效间隙的有效磁通(用有效磁通密度。。,,B表示)在实际测量过程中随着试样与电磁铁距离的变化磁路中的磁通分布以及总磁导。、。都要发生变化而漏磁通的分布是随磁路长短接合处情况和工作间隙的大小而变化的当:177收到稿件日期9年月26日:,,华瑛女35岁工程师物理测试1卯8年第6期,。,。,,,,:试样与电磁铁接触面接合处间隙的距离愈小B增大B减小反之距离愈大B增大Bu。减小3表面场测量问题,,。目前永磁材料应用广泛制成的产品几何尺寸各异有些产品很难按照工业标准方法测,,。量全部的磁特性参数但为了实现对产品的质量控制必须对其中的某些参
5、数进行测试多数。情况下是用霍尔磁强计来测量样品的表面磁场强度霍尔磁强计是根据霍尔效应原理来进行’,。〔〕即是利用霍尔传感器来测量因磁场不同而产生的不同霍尔电动势测量的这种方法对于,,产品的质量控制可以起到一定的作用但由于测量结果受到各种因素的影响可比性和可靠性,。都比较差单用这一个参数对产品的质量进行控制仍然存在着不少技术上的问题3.1造成测量误差的因素分析,,,实验分析造成测量结果误差的原因是在一般情况下永磁体表面场的分布是不均匀的,:,,用同一霍尔传感器测量同一磁体的同一面有如下规律¹轴向取向圆片圆心处最低边缘,。,,最高圆心部位的表面场只有边缘表面场的6
6、0%左右º各向同性圆片圆心处表面场最低,。,,圆边最高圆心处表面场是边缘处表面场的70%左右»轴向取向圆环靠近内外圆边处高。、,,,。、,中间处低¼方块四角最高其它按短边方向中间低两边高½圆周内外多极磁单面,,。多极磁表面场的分布由充磁技术决定可呈正弦分布或马鞍形分布,,对于各向异性磁体除了同一面表面场不均匀外取向方向上不同面的表面场还存在较大。,,,的差异因此若不进行材料性能的测试单凭表面场来判断磁体性能的情况下测试位置很。关键,,。,除了测量位置外还有一个重要的问题就是测量仪器的问题同一磁体划定传感器大,。,小的测试位置不同型号的仪器测试结果往往不相同经分
7、析测量仪器方面引起的误差主要,由霍尔传感器的结构尺寸即霍尔传感器的保护套的厚度和霍尔传感器的有效面积尺寸的大。小所造成4饱和磁化场问题,,,从原理上讲图实现磁性材料的饱和磁化在实际测量中是一件比较困难的事情特别是,,当样品趋于饱和磁化状态时外磁场的变化对材料磁化状态的改变已经非常小甚至超过了测。,,量仪器灵敏度或对测量结果的不确定度已无明显影响因此从测量的角度讲有必要规定一,,个磁场强度值当外磁化场强度达到这一值时测量得到的结果与饱和状态下得到的值无明显,,。差别该磁场强度称为饱和磁场强度Hs所对应的磁化状态为技术磁饱和状态在测量高内察矫顽力材料的样品时可以观
8、察到磁化强度随外磁化场强度的增加而降低
