半导体物理习题解答

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1、3-7.(P81)①在室温下,锗的有效状态密度Nc=1.05×1019cm-3,Nv=5.7×1018cm-3,试求锗的载流子有效质量mn*和mp*。计算77k时的Nc和Nv。已知300k时,Eg=0.67eV。77k时Eg=0.76eV。求这两个温度时锗的本征载流子浓度。②77k,锗的电子浓度为1017cm-3,假定浓度为零,而Ec-ED=0.01eV,求锗中施主浓度ND为多少?[解]①室温下,T=300k(27℃),k0=1.380×10-23J/K,h=6.625×10-34J·S,对于锗:Nc=1.05×1019cm-3,Nv

2、=5.7×1018cm-3:﹟求300k时的Nc和Nv:根据(3-18)式:根据(3-23)式:﹟求77k时的Nc和Nv:同理:﹟求300k时的ni:求77k时的ni:②77k时,由(3-46)式得到:Ec-ED=0.01eV=0.01×1.6×10-19;T=77k;k0=1.38×10-23;n0=1017;Nc=1.365×1019cm-3;3-8.(P82)利用题7所给的Nc和Nv数值及Eg=0.67eV,求温度为300k和500k时,含施主浓度ND=5×1015cm-3,受主浓度NA=2×109cm-3的锗中电子及空穴浓度为

3、多少?[解]1)T=300k时,对于锗:ND=5×1015cm-3,NA=2×109cm-3:;;;;2)T=300k时:;查图3-7(P61)可得:,属于过渡区,;。(此题中,也可以用另外的方法得到ni:求得ni)3-11.(P82)若锗中杂质电离能△ED=0.01eV,施主杂质浓度分别为ND=1014cm-3及1017cm-3,计算(1)99%电离,(2)90%电离,(3)50%电离时温度各为多少?[解]未电离杂质占的百分比为:;求得:;∴(1)ND=1014cm-3,99%电离,即D_=1-99%=0.01即:将ND=1017c

4、m-3,D_=0.01代入得:即:(2)90%时,D_=0.1即:ND=1017cm-3得:即:;(1)50%电离不能再用上式∵即:∴即:取对数后得:整理得下式:∴即:当ND=1014cm-3时,得当ND=1017cm-3时此对数方程可用图解法或迭代法解出。3-14.(P82)计算含有施主杂质浓度ND=9×1015cm-3及受主杂质浓度为1.1×1016cm-3的硅在300k时的电子和空穴浓度以及费米能级的位置。[解]对于硅材料:ND=9×1015cm-3;NA=1.1×1016cm-3;T=300k时ni=1.5×1010cm-3:

5、;∵且∴∴[毕]3-18.(P82)掺磷的n型硅,已知磷的电离能为0.04eV,求室温下杂质一般电离时费米能级的位置和磷的浓度。[解]n型硅,△ED=0.044eV,依题意得:∴∴∴∵∴[毕]3-19.(P82)求室温下掺锑的n型硅,使EF=(EC+ED)/2时的锑的浓度。已知锑的电离能为0.039eV。[解]由可知,EF>ED,∵EF标志电子的填充水平,故ED上几乎全被电子占据,又∵在室温下,故此n型Si应为高掺杂,而且已经简并了。∵即;故此n型Si应为弱简并情况。∴∴其中[毕]3-20.(P82)制造晶体管一般是在高杂质浓度的n型

6、衬底上外延一层n型的外延层,再在外延层中扩散硼、磷而成。①设n型硅单晶衬底是掺锑的,锑的电离能为0.039eV,300k时的EF位于导带底下面0.026eV处,计算锑的浓度和导带中电子浓度。[解]①根据第19题讨论,此时Ti为高掺杂,未完全电离:,即此时为弱简并∵其中[毕]4-1.(P113)300K时,Ge的本征电阻率为47Ω·cm,如电子和空穴迁移率分别为3900cm2/V·S和1900cm2/V·S,试求本征Ge的载流子浓度。[解]T=300K,ρ=47Ω·cm,μn=3900cm2/V·S,μp=1900cm2/V·S[毕]4

7、-2.(P113)试计算本征Si在室温时的电导率,设电子和空穴迁移率分别为1350cm2/V·S和500cm2/V·S。当掺入百万分之一的As后,设杂质全部电离,试计算其电导率。比本征Si的电导率增大了多少倍?[解]T=300K,,μn=1350cm2/V·S,μp=500cm2/V·S掺入As浓度为ND=5.00×1022×10-6=5.00×1016cm-3杂质全部电离,,查P89页,图4-14可查此时μn=900cm2/V·S[毕]4-13.(P114)掺有1.1×1016cm-3硼原子和9×1015cm-3磷原子的Si样品,试

8、计算室温时多数载流子和少数载流子浓度及样品的电阻率。[解]NA=1.1×1016cm-3,ND=9×1015cm-3可查图4-15得到Ω·cm(根据,查图4-14得,然后计算可得。)[毕]4-15.(P114)施主浓度分

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