自动光学检测设备市场现状与发展趋势预测

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1、自动光学检测设备2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告报告编号:1851588中国产业调研网www.cir.cn了解更多,欢迎访问:中国产业调研网 http://www.cir.cn/自动光学检测设备2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告  行业市场研究属于企业战略研究范畴,作为当前应用最为广泛的咨询服务,其研究成果以报告形式呈现,通常包含以下内容:投资机会分析市场规模分析市场供需状况产业竞争格局行业发展现状发展前景趋势行业

2、宏观背景重点企业分析行业政策法规行业研究报告  一份专业的行业研究报告,注重指导企业或投资者了解该行业整体发展态势及经济运行状况,旨在为企业或投资者提供方向性的思路和参考。  一份有价值的行业研究报告,可以完成对行业系统、完整的调研分析工作,使决策者在阅读完行业研究报告后,能够清楚地了解该行业市场现状和发展前景趋势,确保了决策方向的正确性和科学性。  中国产业调研网Cir.cn基于多年来对客户需求的深入了解,全面系统地研究了该行业市场现状及发展前景,注重信息的时效性,从而更好地把握市场变化和行业发展趋势。了解更多,欢迎访问:中国产业调研网 ht

3、tp://www.cir.cn/自动光学检测设备2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告一、基本信息报告名称:2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告报告编号:1851588   ←咨询时,请说明此编号。优惠价:¥6750元  可开具增值税专用发票Email:kf@Cir.cn网上阅读:http://www.cir.cn/R_JiXieDianZi/88/ZiDongGuangXueJianCeSheBeiShiChangDiaoYanYuQianJingYuCe.html温馨提示:如需英文、

4、日文等其他语言版本,请与我们联系。二、内容介绍  《2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告》依据国家权威机构及自动光学检测设备相关协会等渠道的权威资料数据,结合自动光学检测设备行业发展所处的环境,从理论到实践、从宏观到微观等多个角度对自动光学检测设备行业进行调研分析。  《2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告》内容严谨、数据翔实,通过辅以大量直观的图表帮助自动光学检测设备行业企业准确把握自动光学检测设备行业发展动向、正确制定企业发展战略和投资策略。  中国产业调研网发布的2016年版中国

5、自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告是自动光学检测设备业内企业、相关投资公司及政府部门准确把握自动光学检测设备行业发展趋势,洞悉自动光学检测设备行业竞争格局,规避经营和投资风险,制定正确竞争和投资战略决策的重要决策依据之一。正文目录第一章AOI工作原理 第一节AOI概述  一、定义  二、主要特点  三、原理简图了解更多,欢迎访问:中国产业调研网 http://www.cir.cn/自动光学检测设备2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告 第二节分析算法 第三节图像识别  一、图像分析技术  二、运算法则

6、  三、统计建模技术  四、柔性化技术  五、立体视觉成像技术第二章AOI设备在应用领域及发展趋势 第一节AOI设备的应用领域  一、PCB行业检测  二、IC行业检测  三、LCD行业检测  四、PCBA检测应用 第二节AOI设备发展趋势  一、图形识别法成为应用主流  二、AOI技术向智慧化方向发展  三、AOI与SPC的进一步结合  四、真正的彩色图像处理技术  五、电子组装综合测试技术第三章自动光学检测技术研究进展 第一节FPC外观缺陷自动光学检测关键技术研究  一、FPC裸板缺陷检测拟解决关键问题分析  二、焊盘纹理粗糙度分析与缺陷识

7、别  三、机器视觉的FPC检测设备的开发了解更多,欢迎访问:中国产业调研网 http://www.cir.cn/自动光学检测设备2016年版中国自动光学检测设备市场专题研究分析与发展前景预测报告 第二节面向PCB检测的AOI系统关键技术研究  一、PCB图像的去噪与分割研究  二、基于特征的PCB图像拼接算法研究  三、PCB图像精确对准研究  四、PCB缺陷检测技术研究与系统实现 第三节硅太阳能电池制备过程的全自动视觉检测设备关键技术研究  一、视觉检测系统方案设计  二、图像获取与预处理研究  三、缺陷特征提取与检查算法 第四节多目机器视觉

8、的光学薄膜表面缺陷在线检测技术研究  一、光学薄膜缺陷成像研究  二、光学薄膜缺陷检测算法流程  三、缺陷图像分割算法研究  四、光学薄膜缺陷检测原型

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