基于单片机的温室智能测控系统的设计

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1、!74!!!!!!!!传感器与微系统（"#$%&’()*#$%’+,)#-&.&/*0"*)1%-2-3,*&）!!!!!!!!!4556年第47卷第7期基于单片机的温室智能测控系统的设计徐志如8，4，崔继仁4（!9东北林业大学机电学院，黑龙江哈尔滨!"###!；$9佳木斯大学信息电子技术学院，黑龙江佳木斯!"%##&）摘!要：在传统的温室自动化监测系统的基础上，针对目前温室面积不断增大，温室内传感器种类及数量不断增多等情况，采用新型传感器设计出基于单片机的温室环境智能测控系统。该系统实现对温室环境参

2、数数据的显示、存储、查询、统计、控制等。通过控制不同时期作物生长所需要的最佳环境参数，实现了温室的智能化管理。具有操作简便、自动化程度高和良好的人机交互功能，提高了产品质量和生产效率。实验结果表明：系统运行稳定、可靠。关键词：单片机；探测器；控制程序中图分类号：":484!!!文献标识码：;!!!文章编号：8555<=>?>（4556）57<5574<5@’()*+,-.+/((,0-1)(*,2(33*+(,24(5)1/*,+5,67-,2/-33*,+)8)2(495)(6-,)*,+3(:70

3、*;4*7/-7-4;12(/ABC1,D#(8，4，EBFG,D#*%4（!<=-33(+(-.>(705,*7)5,6?3(72/*7*28，@-/20(5)2A-/()2/8B,*C(/)*28，D5/9*,!"###!，=0*,5；$<’(;5/24(,2-.E,.-/452*-,5,6?3(72/-,*7F(70,-3-+8，G*541)*B,*C(/)*28，G*541)*!"%##&，=0*,5）H9)2/572：F%/1*)$&*-H/1$//1*I,%’$%’%(0J*#-H/#

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7、5T?5U，测量精度为V597U；湿度量程为5WT855WRX，测量精度为V7WRX；EY4量程为（5T@755Z85<6）；测量精度为V7Z85<6；光照量程为（5T85）Z85S2Q，测量精度为85W。!K系统设计898!下位机系统设计89898!下位机组成下位机主要实现对温室环境参数的现场采集、显示、控制及与上位机进行数据传递。如图8所示，环境探测器由收稿日期：4557方数据图!K下位机系统结构框图A*+!KL2/1721/(6*5+/54-.3-752*-,4570*,()8)2(4环境温、

8、湿度探测器、土壤湿度探测器及EY4和光照探测器组成，各探测器将传感器的非电量转化成随环境参数改变的电量，进而传送给微处理器进行处理。微处理器实现对各探测器输出的循环采集，并根据其与环境参量的对应关系转换成相应的环境温度、土壤湿度及EY4浓度值，并通过通信接口将数据向上位机传送。同时，通过通信接口，　万<84<4S第!期"""""""""""""徐志如等：基于单片机的温室智能测控系统的设计""""""""""""""!3下位机接收上位机的控制指令，实现相应