单片机原理及接口技术实验

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1、单片机原理及接口技术实验实验一熟悉实验系统及51指令练习实验二汇编语言程序设计练习实验三MCS-51内部接口实验实验四MCS-51外部接口实验实验五综合实验实验一熟悉实验系统及51指令练习一．实验要求1.指定存储器中某块的起始地址和长度，要求能将其内容置1。2.将给定的一个二进制数转换成BCD码。3.给出一个十六进制数，将其转换成ASCⅡ码值。二．实验目的1.熟练运用Keil开发软件调试汇编语言程序。2.掌握存储器读写方法。3.掌握简单的数值转换算法。4.了解十六进制数和ASCⅡ码值的区别。三．程序框

2、图二进制数转换成BCD码流程图存储单元清零流程图十六进制数转换ASCⅡ码流程图实验报告要求1.写出51汇编程序运行过程(简单些)。2.写出在调试过程中出现的错误(包括语法错误和逻辑错误，至少3条)。3.简单叙述三个程序运行结果的正确性。实验二汇编语言程序设计练习一．实验要求1.将指定源地址和长度的存储块移到指定目标位置。2.在多分支结构的程序中，能够按调用号执行相应的功能，完成指定操作。3.给出一组随机数，将此组数据排序，使之成为有序排列。二．实验目的1．掌握内存块的移动方法。2．了解程序的多分支结构

3、。掌握多分支结构程序的编程方法。3．了解数据排序的简单算法。三．程序框图内存块的移动流程图分支结构程序流程图数据排序流程图排序程序1.在程序运行前，在20h单元开始随机存放10个数。2.程序运行后，查看20h开始的10个单元的数据是否有序。ORG0HLOOP3:MOVR0,#20HMOVR2,#9CLR0F0HLOOP:MOVA,@R0MOV30H,AINCR0MOVA,@R0CJNEA,30H,LOOP1LOOP1:JNCLOOP2XCHA,30HMOV@R0,ADECR0MOV@R0,30HINC

4、R0SETB0F0HLOOP2:DJNZR2,LOOPJB0F0H,LOOP3SJMP$END实验二报告要求:在结果分析中：1.写出调试程序过程中出现的错误（3处）。2.对3个程序运行结果分析是否正确。3.写出第二个程序运行过程的pc值。若（20H）=8，结果如何？能不能实现多分支转移？实验三MCS-51内部接口实验一．实验要求（一）P1口输入/输出实验1.p1口做输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。2.P1口既做输入又做输出，将两个开关的状态在四个发光二极管上显示出来。（二）外

5、部中断实验用单次脉冲申请中断，在中断处理程序中对输出信号进行反转。（三）定时器实验用8031内部定时器，每0.1秒钟T1溢出中断一次。P1口的P1.0～P1.7分别接发光二极管的L1～L8。要求编写程序模拟一循环彩灯。二．实验目的1．掌握p1口的使用方法和延时子程序的编写及使用。2．进一步学习多分支结构程序的编程方法。3．学习外部中断技术的基本使用及中断处理程序的编程方法。4．学习8031内部计数器的使用和编程方法，掌握中断处理程序的编写方法。三．实验说明1.P1口做输出口的实验说明2.延时程序编写（

6、1）软件延时本实验系统晶振为6.144MHZ，则一个机器周期为12÷6.144us即1÷0.512us=2us。现要写一个延时0.1s的程序，可大致写出如下：MOVR7，#X2usDEL1：MOVR6，#2002usDEL2：DJNZR6，DEL24usDJNZR7，DEL14usRET4us(2us+4us×200+4us)×X+2us+4us=0.1×106us（2）硬件延时3.P1口既做输入又做输出实验说明程序运行后输入与输出的关系4.中断程序实验说明5.定时器实验说明由8031内部定时器1按方

7、式1工作，即作为16位定时器使用，每0.1秒钟T1溢出中断一次。P1口的P1.0～P1.7分别接发光二极管的L1～L8。要求编写程序模拟一循环彩灯。彩灯变化花样可自行设计。例程给出的变化花样为：L1、L2、…L8依次点亮；L1、L2、…L8依次熄灭；L1、L2、…L8全亮、全灭。各时序间隔为0.5秒。让发光二极管按以上规律循环显示下去。学生可以任选一个变化花样。四．程序流程图八只发光二极管循环点亮流程图P1口既做输入又做输出流程图开始设置初始状态设置中断控制寄存器中断允许等待中断中断入口保护现场状态位

8、取反状态位输出恢复现场中断返回INT0初始化流程图INT0中断服务程序流程图开始设置T1工作方式设置T1计数初值开T1中断等待中断00A或01A1TR1启动计数中断入口保护现场调用小灯亮子程序小灯亮的方式送P1口重设设置T1计数初值中断返回定时器初始化流程图定时器中断服务程序流程图实验四MCS-51外部接口实验一．实验要求（一）利用74LS244做为输入口，读取开关状态，并将此状态通过发光二极管显示出来。（二）利用8255A可编程并行接口芯片，重复