rccm 3卷 中文版-部分）

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1、MC2000超声波检验MC2100总则MC2110适用范围本章阐述的一般要求适用于本规则规定的超声波检验。这些要求适用于单探头（具有一个或两个压电晶片）反射法。超声波检验涉及到的参照技术，除非另有规定，均以手工来完成。在实施之前，也可向承包商提出给出的总结结果至少是等效的其它技术。提交的技术应附有符合MC2170的支持性说明。MC2120一般要求MC2121检验人员资格超声波检验应由按MC8000规定取得资格证书的人员来实施。MC2122超声波检验文件超声波检验必须按照一系列适当确认的文件（操作规程、工序卡、细则卡）所规定的要求进行。这些文件应符合适用章节的要求，并至少包括以

2、下内容：——被检验物项的类型、尺寸、范围和所用材料的类型；——本规则和其它适用文件的相关章节的编号；——检验设备：脉冲发生器、探头、耦合介质、自动检验仪器（如使用）、标定试块和对比试块。——检验实施条件：试验区域和表面条件；——检验规程：波的传播角度和传播方式（接触法或浸液法）、扫查条件（表面、方位和检验方向）；——记录水平；——验收准则。MC2130超声波检验设备MC2131超声波检验仪器脉冲反射型发生器：可配用标称频率为1～6MHZ的探头，此频率适应相关技术规范的要求。在示波幅度于示波屏全高的至少80%内，垂直线性误差不超过示波幅度的5%。在整个示波屏有效宽度内的水平线性

3、误差不超过时间基准的2%，测量应该按照NFA09-320标准中的规定进行。每台设备在下列情况下均应该进行校验：——设备验收时；——修理后；——至少每年一次。MC2132探头探头的标称频率和压电晶片的尺寸，应根据被检验的材料的类型和尺寸选定，并应符合有关章节的要求。纵向波和横向波的频率一般在1～6MHz之间。    频率和折射角应在采购技术规范中逐一加以规定。必要时，也可使用其它参数值。    压电晶片可以是圆形或矩形(手工检测探头矩形晶片的长和宽之比应≤1.5)。    压电晶片的最大允许尺寸在10～30mm之间。    在普通探头不适用的特殊情况下，可采用特殊探头(双晶体探

4、头、折射纵波探头、可变角探头、小型探头等)。MC2133耦合介质    可使用的耦合介质有： ——掺润湿剂或不掺润湿剂的水； ——糊剂； ——油； ——油脂； ——掺水的纤维素胶等。    耦合介质的性能，在整个试验中应保持稳定。    试验结束后，如果耦合介质有碍后续的加工或检验工作，则应予以清除。对于完工的奥氏体钢或镍基合金零件，应将表面上的耦合介质清除掉。MC2134标定试块和对比试块MC2134.1  标定试块采用的标定试块应按AFNOR标准NF A09—310的规定。MC2134.2对比试块对比试块可用来自下列各项的材料制造：    ——被检验件的延长部分；    

5、——材料和热处理状态均与被检验件相同的边角料；    ——声学特性接近于被检验材料的产品。    对比试块的扫查面应经过机加工，表面粗糙度Ra不超过6.3μm。对比试块的几何形状、反射体的尺寸和位置(需要时)均在本规则的相关章节中予以规定。需要时，反射体的位置和数量。应使被检零件的整个厚度都能受到检查。    采用底面回波法的对比试块，其厚度应与被检验件厚度相等，其允许误差：    ——厚度≤50mm的，为±20％；    ——厚度>50mm的，为±10mm。MC2140检验实施要求MC2141  表面准备    扫查面应无油漆、无疏松氧化皮、无干耦合介质、以及无所有其它可能

6、影响超声波在被检测件中传播、或有碍探头自由移动、或引起判断误差(由于声波转换造成的干扰波)的表面杂质和不平整。    除非另有规定外，表面粗糙度Ra按MC7200要求测定，不得超过12.5μm。MC2142探头的校正与时基校准    斜探头波束入射点的测定，采用MC2134.1规定的标定试块。    时间基准的校准和特别是斜探头折射角的测定(测得角度与检验文件规定值间的偏差不得超过2°)按下述规定进行：——铁素体钢零件，采用MC2134.1规定的标定试块；——奥氏体钢和高镍合金：采用装于试验件上的人工反射体；试验件材料的声学特性接近于被检验的材料。采用这种方法达到的精度，应与

7、铁素体钢采用标定试块时所达到的精度为同样范围。用直探头检测时，可在被检验件上具有两个平行表面的一段上进行时间基准校准。    每次检验之前都应进行上述操作。MC2143灵敏度调节应利用响应脉冲来调节灵敏度，该响应脉冲来自远离探头的那一面(底面回波)，或来自人工反射体(圆柱形孔的侧面、圆形平底孔和槽)。    这些调节应通过将放大器阈值调到零时同时进行。在调节时，应选取增益和功率(当可调时)，以获得最佳信号—噪声比。    在每次检测开始之前，应调节灵敏度，并在检测一小时后和此后每两小时进行校验。当操作人