用椭偏法侧膜厚与折射率实验报告

用椭偏法侧膜厚与折射率实验报告

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时间:2017-07-21

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1、用椭偏法侧膜厚与折射率实验报告实验者:郑立强所在班级:应科院电科07-1学号:0707010121指导教师:焦隆斌完成实验日期:09.10.22摘要随着半导体和大规模集成电路工艺的飞速发展,薄膜技术的应用也越加广泛。因此,精确地测量薄膜的厚度与其光学常熟就是一种重要的物理测量技术。在此次实验中,我们将采用椭圆偏振法,椭圆偏振法广泛的应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。而对于在测量薄膜厚度的同时,也可以完成对折射率的测量。关键词:椭圆偏振法薄膜AbstractWiththesemiconduc

2、torandlagerscaleICtechnologydeveloped,Theusesoffilmtechnologyhasbecamemoreandmorewidely.Someasurethethicknessandopticalparametersofthefilmhasbecameaimportantmeasurement.Inthisexperiment,wewillusetheellipsometry,Ellipsometryiswidelyusedonoptical,mater

3、ials,biology,medicalandsoon.Atthesametimewebothcanmeasurethethicknessalsomeasuretherefractiveofthefilm.KeyWords:EllipsometryFilm一.实验原理椭圆偏振法是利用椭圆偏振光入射到样品表面,观察反射光的偏振状态的变化,进而得出样品表面的厚度和折射率。激光器发出的激光束为单色自然光,经过起偏器P变成线偏振光,其振动方向由起偏器方位角决定,转动起偏器,可以改变线偏振光的振动方向,线

4、偏振光经1/4波片后,由于双折射现象,寻常光和非寻常光产生π/2的相位差,两者振动方向相互垂直,变为椭圆偏振光,其长、短轴沿着1/4波片的快慢轴。椭圆形状由起偏器决定。椭圆偏振光以一定的角度入射到样品表面,反射后偏振光发生改变,从物理光学原理可知道,这种改变与样品表面膜厚度是有关系的。因而可以根据反射光的特征来确定膜层的厚度和折射率。当一束光以一定的入射角射到一个薄膜系统的表面时,光要在多层介质膜的交界面发生多次反射和折射。反射束的振幅和位相变化与薄膜的厚度和折射率有关。如果入射束采用椭圆偏振光

5、,例如把激光器发出的单色光变成椭圆偏振光投射到样品表面,则只要观测反射偏振光状态的变化(包括振幅和位相),就可以定出膜层的厚度和折射率。设在硅片表面上复盖均匀透明的同性薄膜系统,如下图所示,Φ0为入射角,Φ1和Φ2为薄膜和衬底的折射角,no为空气折射率,n1为薄膜折射率,n2为衬底折射率。入射光在两个界面来回反射和折射,总反射光由多光束合成。把光的电矢量和磁矢量各分为两个分量,把光波在入射面上的分量称为P波,垂直入射面的称S波。由菲涅尔反射公式,可以给出P波和S波的振幅反射系数(rP,rS)。对

6、空气一薄膜界面(I):根据折射定律,Φ1和Φ0应满足下面关系:对薄膜硅衬底界面(II),同理有如上述确定的关系式。进而可以算出,任意两相邻反射光间的光程差:由此光程差引起的相邻两级反射光的位相差为2δ,则:由于薄膜上下表面对光多次反射和折射,我们在空气中看到的是多次反射光相干叠加的结果。引入P波、S波的总振幅反射系数:根据多光束干涉理论,我们可以求得总振幅反射系数:定义Ψ,△两个参数:Ψ和△具有角度的量纲,称为椭偏角。tgΨ表征反射光对入射光相对振幅的变化,称为振幅衰减比或相对振幅衰减。△表征经

7、过整个薄膜系统后,P波和S波的位相移动之差,△P和△S表示P波和S波各自的位相移动值,θP和θS表示P波S波的位相。用G表示反射系数比。此式称为椭圆偏振方程,它表示薄膜厚度d和折射率n;与光偏振状态的变化(Ψ,△)之间的关系。薄膜厚度和折射率的测量归结为反射系数比的测量。椭偏法测量薄膜厚度和折射率的基本原理就是由实验测得Ψ和△,再由以上关系定出薄膜厚度d和折射率n1。Ψ,△两个参数定义式包含多个物理量,测量比较复杂。为了使问题简化,通常把实验条件作某些限制:(1)使入射光为等幅椭圆偏振光,P波和

8、S波振幅相等。这样,Ψ只与反射光的振幅比有关,可从检偏器方位角算出。(2)使反射光为线偏振光,即反射光P波和S波的位相差。这样△只与入射光的P波,S波的位相差有关,可从起偏器方位角算出。二.实验仪器在此次实验中,我们采用了“WJZ型多功能激光椭圆偏振仪”,其基本组成部件有:氦氖激光器;分光计;黑色反光玻璃镜和薄膜样品;起偏器;检偏器。WJZ型多功能激光椭圆偏振仪图三.实验内容(一).调整仪器1.调整分光机2.调整水平盘3.调整光路4.调节与固定检偏器读书头的位置1.调节与固定检检器读书头的位置2

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