SJT10062-1991电子元器件详细PIN40A，PIN40B和PIN40-C型硅微带PIN开关二极管.pdf

《SJT10062-1991电子元器件详细PIN40A，PIN40B和PIN40-C型硅微带PIN开关二极管.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、免费标准下载网(www.freebz.net)rJ中华人民共和国电子工业行业标准sJ/T10062.10063-91电子元器件详细规范PIN40A、PIN40B和PIN4QC型硅微带PIN开关二极管PIN62A、PIN62B、PIN62C和PIN62D型硅PIN开关二极管1991-04-08发布1991-07-01实施;中华人民共和国机械电子工业部发布免费标准下载网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准下载网(www.freebz.net)中华人民共和国电子工业行业标准电子无器件详细规范PIN4OA,PIN4

2、OB和PIN4OC型SJ/T10062-91硅微带PIN开关二极管DetailspecificationforelectroniccomponentsMicrostricsiliconswitchingPINdiodesfortypesPIN40A,PIN40BandPIN40C本标准适用于PIN40型硅微带PIN开关二极管，它是按照GB12562QPIN二极管空白详细规范》标准制订的，符合GB4589“半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB12560(半导体器件分立器件分规范》的.类要求。中华人民共和国机械电子工业部19

3、91-04-08批准1991-07-01实施免费标准下载网(www.freebz.net)无需注册即可下载一1一免费标准下载网(www.freebz.net)SJ/T10062-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质盆的根据:GB4589.1《半导体器件分立器件和集S]/'r10062-91成电路总规范》和GB12560《半导体器件分立器件分规范》YIN40A,YIN40B和YIN40C型硅微带YIN开关二极管详细规范订货资料，见本规范第7章.2简略说明1机械说明YIN二极管外形图半导体材料:硅封装微带一环氧〔非空腔)应用

4、:天线开关、移相、电调衰减、调制等.亡香I022min3质量评定类别斗“-一一.}!决—1一孽粼岩I类参考数据:V”，，笋300VCtw。i(0.8pF(YIN40A)成O.GpF(YIN40B)成0.弓4pF(YIN40C)丁(工.apt尺寸单位mm免费标准下载网(www.freebz.net)无需注册即可下载一2一免费标准下载网(www.freebz.net)SJ/P10062-914极限值(绝对最大额定值)除非另有规定，这些极限值在整个工作温度范围内适用.数值条文号参数名称符号单位最小值最大值4.1工作环境温度了，em6

5、一55150℃4.2贮存温度了"aig一55150℃4.3击穿电压V-,300V4.5.耗散功率4.5.2最高有效(等效的)结温了飞v户150℃耗散功率尸200.W5电特性(对检验要求见本规范的第8章)特性和条件数值条文号(见总规范的第4章)符号单位试竺Tamb=25C最小值最大值组别5.1反向电流lay1.0产AA2bVa=200V5.2反向电流I=110pAC2bV==20OV,iamb=100'C5.3正向电压V,1.0VA2bl,=lOOmA5.4总电容Clo‘A2bVx=100V,f=1MHzYIN40人0.8PrY

6、IN40B0.6pFYIN40C0.4DF5.5反向恢复时间t"1.0尸，A31,=20.A,Ix=200.A5.7正向微分电阻矛1.0OA2bIr=l00mA,f=lOkH.5.8申联电感vL,0.2nH5.10封装电容1，C,0.1PF5.11热阻pRom-.0.625℃/mw注:1)典型值，不作检验用.6标志61每个器件均放在有参数卡的小包装袋内，参数卡上应有下列资料:6.1.1完整的器件型号。6.1.2与外形图相对应的极性识别符号曰粉)。6.1.3质量评定类别标记(应放在型号后面，如PIN40AI)。6.1.4检验批识

7、别代码。免费标准下载网(www.freebz.net)无需注册即可下载3一免费标准下载网(www.freebz.net)SJ/T10062-916.2包装箱上的标志6.2.1重复参数卡上的器件型号、类别标记和检验批代号。6.2.2标上“怕湿”等字样。6.2.3制造厂商标.7订货资料订货单上应有下列内容:7.1准确的型号。72订货数量。7.3本规范编号。7.4对器件的其它要求。8试验东件和检验要求8.1在本章中，除非另有规定，引用的条文号对应于GB4589.1的条文号，测试方法引自GB65701微波二极管测试方法》。8.2器件构

8、成A组、B组检验批的时间可以为一个月。试验条件和检验要求见下表。A组—逐批全部试验都是非破坏性的(3.6.6)检脸要求条件检验或试验引用标准7'..t二25'C数值单位(见总规范的第4章)最小值最大值LTPDAl分组5外部检验4.2.1.1AN分组0.7不工作器件极性顺倒，I