mems电镀铜薄膜疲劳特性和寿命预测的研究

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时间:2019-02-03

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1、摘要MEMS不是传统机械的简单几何缩小,当MEMS构件细微到微纳米尺寸后,其本身的力学、物理性质均有显著变化。在宏观块体下所测得的材料弹性模量、拉伸强度、断裂韧性及疲劳强度等并不一定适用于MEMS的设计。块体机械疲劳现有的研究理论、方法是否适用于微机械还有待进一步研究。本文首先利用微机械加工中的准LIGA工艺,根据准LIGA工艺的要点以及铜薄膜的制作工艺流程,设计并制作了试验用微米级电镀铜薄膜试件,进行了三维视频显微结构观察,试件符合试验要求。然后利用MMT-11N微机械疲劳试验机完成了电镀铜薄膜光滑件和半圆型

2、缺口件的疲劳拉伸试验,获得了光滑件与缺口件的S.N曲线,确定了电镀铜薄膜循环应力应变曲线和应变寿命曲线,并利用局部应力应变法对缺口件寿命进行预测,预测结果较好,表明局部应力应变法在微机械疲劳中具有一定的适用性。研究结果表明,铜薄膜表现出循环硬化行为,其断裂方式以沿晶断裂为主。文中还对粗晶、细晶电镀铜薄膜和块体铜的S-N曲线做了对比。最后本文根据微机械疲劳试验的特点,提出了基于超磁致伸缩原理的微机械疲劳试验装置,设计了拉伸、弯曲、弯扭组合三种试件。由于弯扭组合疲劳试验在微机械疲劳试验中难以实现,因此本文的设计可引

3、导该创新课题的研究,具有一定的创新性。关键词微机电系统;疲劳;电镀铜薄膜;寿命预测;超磁致伸缩原理北京工业大学工学硕士学位论文ABSTRACTMEMSisnotasimplegeometricreductionofthetraditionalmachinery.Ifthecomponentsaccesstomicro-nano—size,themechanicsandphysicalpropertiesofthesematerialswillsignificantlychange.Theelasticmodul

4、us,tensilestrength,fracturetoughnessandfatiguestrengthofmaterialsmeasuredunderthemacro-blockconditionmaynotbeapplicabletoMEMSdesign.WhethertheexistingtheoryandmethodsofbulkmechanicalfatigueCanbeusedinMEMSstillneedstobestudiedfurther.Inthispaper,notchedandsmo

5、othspecimenswereproducedforfree-standingelectroplatedcopperfilms、析thLIGA-likeprocessatmicrondimension.Withtheobservationofthree-dimensionalvideo,thespecimensmetthetestrequirements.ThetensilefatiguetestswerecompletedbyusingMMT-11Nmechanicalfatiguetestingmachi

6、ne.S-Ncurve,cyclica--Ecurveand£一Ncurvewereobtained.Basedonthemodifiedlocalstress-strainapproach,fatiguelivesofnotchedspecimenswerepredicted.Theresultswerefoundingoodagreement、析ththeexperimentalfatiguelives,whichprovedthatsomeofthetraditionalfatigueresearchme

7、thodscouldbealsousedinMEMS.FatiguefractograghyobservationshowedthatfracturemodeWasintergranularfractureform.Cyclichardeningbehaviorwasfoundduringthefatigueprocess.Acomparisonofcoarse—grained,fine—grainedelectroplatedcopperfilmsandbulkcooperisalsodescribedint

8、hepaper.Finally,accordingtothecharacteristicsofmicro-mechanicalfatiguetest,amicro—mechanicalfatiguetestingdevicebasedonmagnetostrictiveprinciplewasinvented.Threekindsoffatiguespecimens,tension,b

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