子荧光光谱检测法

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1、第四节 氢化物发生———原子荧光光谱检测法  一、氢化物发生———原子荧光光谱法的原理  (一)原子荧光光谱法的原理  原子荧光是原子蒸气受具有特征波长的光源照射后,其中一些自由原子被激发跃迁到较高能态,然后去活化回到某一较低能态(常常是基态)而发射出特征光谱的物理现象。当激发辐射的波长与产生的荧光波长相同时,称为共振荧光,它是原子荧光分析中最主要的分析线。另外还有直跃线荧光。阶跃线荧光。敏化荧光、阶跃激发荧光等。各种元素都有其特定的原子荧光光谱,根据原子荧光强度的高低可测得试样中待测元素含量。这就是原子荧光光谱分析。  (二)HG/AFS法的分析性能与特点  自20世纪60年代初提出原

2、子荧光分析技术以来,该技术已取得了很大进展,尤其是将氢化物发生(HG)与原子荧光光谱(AFS)完美结合而实现HG-AFS分析技术以来,该方法已成为一种高效低耗并具有重要实用价值的分析技术。  HG-AFS法是基于下列反应将分析元素转化为在室温下的气态氢化物:  反应式中的是可以形成氢化物元素的离子;m可以等于或不等于n。  反应所生成的氢化物被引入到特殊设计的石英炉中,并在此被原子化。受光源激发使基态原子的外层电子跃迁到较高能级,并在去激化过程中辐射出特征的原子荧光,根据荧光强度的大小可测定氢化元素在试样中的浓度。  汞离子可以与NaBH4或SnCI2反应而生成原子态的汞,并可在室温下激

3、发产生汞原子荧光,因此,一般称为冷蒸气法或冷原子荧光光谱法(ColdAFS)。  Cd与Zn也可与KBH4反应生成挥发性的物种,经石英炉原子化后也可用原子荧光光谱法加以测定。采用一些间接方法,HG-AFS法还可测定其他一些元素或阴离子。  HG-AFS法自提出以来,因为其对于较难分析的无机污染物如As、Bi、Sb、Se、Te、Pb、Sn、Ge、Hg等所显示出的独特优点而备受分析工作者的青睐。  1.氢化物发生进样方法的主要优点  (1)分析元素能够与可能引起干扰的样品基体分离,消除光谱干扰。  (2)与溶液直接喷雾进样相比,氢化物法能将待测元素充分预富集,进样效率接近100%。  (3)

4、连续氢化物发生装置易于实现自动化。  (4)不同价态的元素氢化物的生成条件不同,所以可据此进行价态分析。  2.HG-AFS法与氢化物—原子吸收光谱法(HG-AAS)的比较  (1)光学系统。采用无色散系统的HG-AFS仪光路简单,光程短,因而光损失少。可以同时测量几条荧光谱线,由于这些荧光谱线的总强度与含量成正比,大大提高了方法的信噪比,降低了检出限。由于这些谱线均位于200nm-290nm之间。正是光电倍增管灵敏度最好的波段,大大提高了方法的灵敏度。  相比之下,%HG-AAS的光路较复杂,光程长,光能损失较严重,特别是对As、Se等元素,波长处于200nm以下,普通空心阴极灯发射较

5、弱,光电倍增管在此波段的灵敏度也较低,因而信噪比较低,检出限较差。  (2)HG-AFS具有多元素同时测定的能力。一般地,HG-AAS一次仅能测定一种元素,而HG-AFS已可以同时测定两种或多种可形成氢化物的元素,不仅大大提高了工作效率,成本也大为降低。  (3)原子化器及原子化机理在HG-AFS中,目前所使用的原子化器具有二次原子化的机会。氢化物经过电加热石英管时先进行分解及初步原子化,然后再进入氩氢焰进行充分的原子化,由于周围空气的渗入,氩氢焰中有足够的氢基来促进原子化过程,并带来以下好处:  A.石英炉内表面性质对原子化过程影响较小,不需经常处理;  B.原子化充分,即使是Ge也可

6、以得到满意的结果。  (4)干扰情况。虽然HG-AAS与HG-AFS两者的液相干扰基本相同,但气相干扰有很大的差别。HG-AFS的干扰要小得多。对于复杂的样品一般不经分离即可直接测定,而HG-AAS法却不行。  (5)线性测量范围。HG-AFS法一般可以达到三个数量级。这样大多数样品就可无需稀释直接测定,不仅操作简便,更重要的是可以减少玷污和稀释误差。  由于测量原理的限制,HG-AAS法一般仅为一个数量级,有些样品就要经过进一步的处理方能测定。  (6)检出限及测量精度。虽然HG-AFS和HG-AAS两者的检出限及测量精度目前基本相同,但对于As、Se等元素,HG-AFS法显然占有优势

7、(表7-8-5)。更重要的是随着光源的改进给HG-AFS带来的好处将远大于EIG-AAS法,因而HG-AFS对可形成氢化物元素的测定灵敏度将全面优于HG-AAS,并具有更大的潜力。          二、用氢化物发生———原子荧光光谱法测食品中铅含量  (一)原理  样品经酸热消化后,在酸性介质中,样品中的铅与硼氢化钠(NaBH4)或硼氢化钾(KBH4)反应生成挥发性铅的氢化物(PbH4),以氩气为载气,将氢化物导入电热石英原子化器

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