氧化铱薄膜的脉冲激光沉积、结构控制及其性能研究

氧化铱薄膜的脉冲激光沉积、结构控制及其性能研究

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时间:2019-02-06

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1、武汉理工大学博士学位论文摘要IrO:薄膜具有导电性好,耐腐蚀能力强,并能有效的阻挡高温下元素问(O、zr、Pb、Ⅱ等)的扩散等特点,已成为高密度动态随机存储器(DRAMs)和非挥发性铁电随机存储器(FeRAMs)电极的优选材料。而且,作为pH电极材料,Ir02薄膜能够弥补传统玻璃电极存在的阻抗高、易破损、在高碱性情况下存在“钠误差”以及对100℃以上的溶液pH值不能有效测量的缺陷。论文基于脉冲激光沉积(PLD)技术,设计了两种Ir02薄膜的制备方法(up通过先沉积Ir薄膜再后续氧化和在氧的气氛中,原位

2、反应沉积Ir02薄膜),分别在Si(100)、Si02/Si(100)以及石英玻璃衬底上制备Ir02薄膜。重点研究了氧分压、衬底温度、激光输出能量、靶.衬底间距等PLD工艺参数和后续退火对其结构和性能的影响,以得到高质量的Ir02薄膜,并基于其应用背景,对Si(100)上沉积的Ir02薄膜在高温低氧以及高于100℃的酸碱溶液中的稳定性进行了研究。结果表明:在Si(100)上沉积的Ir薄膜表面粗糙度都低于lnm,对其在空气中、700~850℃范围内氧化后发现:除Ir02外,还有Ir存在。得到的Ir02薄

3、膜表面粗糙度随氧化温度的升高逐渐增大;衬底材料对薄膜的表面结构影响较大,通过对衬底的预处理,可有效改善薄膜的表面结构,在750。C、Si02/Si(100)上氧化的Ir02薄膜的表面粗糙度为3.7nm(1×1/.tm)。以Ir为靶材,采用PLD在SiUoo)上原位反应沉积Ir02薄膜的过程中,工艺参数对于薄膜的物相和结构影响很大。通过分析氧分压、衬底温度和激光输出能量得到了Ir02薄膜的最佳制备条件:氧分压20Pa、衬底温度500℃、激光输出能量140mJ。在此条件下沉积的Ir02薄膜沿(101)取向

4、生长,厚度均匀,界面清晰,与硅衬底表面结合良好,其表面粗糙度为39nm,室温电阻率为41uQ·cm。对Si(100)上沉积的Ir02薄膜在600~750℃范围内退火后,Ir02薄膜的晶粒没有明显长大,但是颗粒与颗粒之间结合更紧密,显示出IrO:薄膜对温度良好的结构稳定性。适当的退火处理可以提高Ir02薄膜的导电性能,在750℃空气中退火30min后,其电阻率达到最小值37p_Q·cm。在25~500℃范围内,Ir02薄膜的高温电阻率随着温度的升高呈线性关系逐渐增大,呈现出类似金属的导电特征。而且,退火

5、以后,这种线性关系更明显,其电阻率也趋于稳定,显示出IrO:薄膜的导电性能随温度变化的稳定性。通过对样品进行电阻率和Hall效应联合测量发现,在250~400℃沉积的Ir02薄膜载流子的类型为P型;但是,沉积温度较高(500。c)时或在更高温度退武汉理工大学博士学位论文火处理后,以电子导电为主。晶粒间界在IrO:薄膜的导电机制中发挥重要的作用。IrO:薄膜在可见光范围内具有较高的透过率,且随薄膜厚度的减小,其透过率增加,在400~800nm波长范围内,可达80%f厚度为65nm)。提高沉积温度以及退火

6、处理都可以减少薄膜表面的缺陷,从而降低对光的吸收和散射,因而可以提高Ir02薄膜的透过率。对Si000)衬底上沉积的Ir02薄膜在1Pa氧分压环境中的稳定性研究表明:Ir02能够在低于650。C的温度范围内稳定存在,与热力学计算结果基本一致。退火后,IrO:薄膜表面结构保持不变,显示出IrO:薄膜在此条件下良好的稳定性;在此温度范围内退火后,Ir02薄膜的电阻率有所升高,但是增幅都在109f1’cm以内。能够满足Ir02薄膜在DRAMs中对于底电极材料的使用要求。对Si(100)上沉积的Ir02薄膜在

7、pH=3和pH=10的溶液中的稳定性研究表明:Ir02薄膜可以在100~150℃范围内稳定存在,处理前后,其微观结构保持不变。在此温度范围内保温5h后,Ir02薄膜电阻率随着温度的升高略有增加,但是增幅都在5uQ·cm以内,显示出Ir02薄膜良好的耐酸碱腐蚀的性能,可以满足作为pH电极的使用要求。关键词:Ir02电阻率透过率稳定性脉冲激光沉积(PLD)武汉理工大学博士学位论文ABSTRACTInadditiontothelowresistivity,superanti—corrosion,Ir02th

8、infilmspossesssomeotherinterestingproperties,suchasexcellentdiffusionbarrierpropertiespreventingthediffusionofelements(O,Zr,Pb,Ti)athightemperatureandattractiveelectrochemicalproperties.Fromapracticalapplicationpointofview,Ir02th

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