溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究

溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究

ID:32705916

大小:2.09 MB

页数:64页

时间:2019-02-14

溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究_第1页
溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究_第2页
溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究_第3页
溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究_第4页
溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究_第5页
资源描述:

《溶胶—凝胶法制备al掺杂zno(azo)薄膜及其性能研究》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、溶胶.凝胶法制备Al掺杂ZnO(AZO)薄膜及其性能研究摘要透明导电氧化物薄膜因其具有低的电阻率和在可见光范围内高的透射率,在太阳能电池、液晶显示等领域获得了广泛应用。透明导电氧化物薄膜主要包括Sn02、In203、ZnO及上述氧化物的掺杂系列。ZnO薄膜由于具有优异的压电、光电、气敏、压敏等特性,近年来受到广泛关注。Al”掺杂的ZnO(简称AZO)薄膜因其具有优良的光电性能已成为研究热点之一。本文以二水合醋酸锌(Zn(CH3COO)2·2H20)作为前驱体,乙二醇甲醚(C3HB02)作为溶剂,乙醇氨(HOCH2CH2NH2)作为稳定剂,

2、采用溶胶一凝胶法在玻璃基体上制备了AZO薄膜。主要研究了掺杂浓度(0%-12%)、退火温度(400"12~600℃)以及退火气氛(空气、氢气和氩气)对薄膜晶体结构、透射率及电阻率的影响。利用X射线衍射(xRD)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线光电子能谱(XPS)、光谱仪、四探针测试仪等对制备的AZO薄膜进行了表征和性能研究。研究表明:采用溶胶一凝胶法所制备的AZO薄膜为纤锌矿型结构,退火温度为500℃时薄膜择优取向最强。不同浓度的A13+掺杂0at%~12at%)均能提高其导电性能,掺杂浓度为2%时,薄膜电阻率最低。退火温度与退火气氛对

3、薄膜的电阻率也有明显的影响。掺杂浓度为2%时,空气中不同温度下退火处理,500℃下薄膜电阻率最低,为5.180×10“Q·cm;500℃下不同气氛处理,氢气中退火处理的薄膜电阻率最低,为2.238x10“Q·cm。退火温度与退火气氛对薄膜的透射率影响不大,薄膜在可见光区的透射率均在85%到90%左右。关键词;AZO薄膜;溶胶.凝胶;A13+掺杂;退火处理;光电性能PREPARATlONoFAL.DoPEDZNoFlLMSBYSOL.GELMETHODANDSTUDYoFTHEIRPRoPERTIESAbstractTransparentc

4、onductiveoxidethinfilmsexhibitlowresistivityandhightransmittanceinthevisiblelightrange.Itwaswidelyappliedtovariousdevicesincludingsolarcell,liquidcrystaldisplayastransparentandconductiveoxideelectrodes.TransparentconductiveoxidethinfilmsmainlyincludeSB02,In203,ZnOandtheir

5、dopedsystem.ZnOthinfilmshaverecentlygainedmuchattentionduetotheirgoodpiezoelectric,photoelectric,gassensitivityandstresssensitivitybehaviors.TheA13+.dopedZnO(AZO)thinfilmshavebecomeoneofthefocusesresearchbecauseofitsexcellentopticalandelectricalproperties.Inthispaper,theA

6、1’+dopedZnOthinfilmsweredepositedonglasssubstratesbysol-gelmethod.Thecrystalstructure,transmittanceandresistivityofthinfilmsweremainlyresearchedwithdifferentdopantconcentration(1at%一12at%),annealingtemperaturesandatmospheres.Therangeofannealingtemperatureswerefrom400℃to60

7、0℃.andtheannealingatmosphereswereair,H2andAt.X·raydiffraction(XRD),scanningelectronmicroscope(SEM),X—rayphotoelectronspectroscopy(xPs),spectrophotometerandfour-pointprobemethodswereemployedtocharacterizeandanalyzethefilms.TheresultsshowedthatAZOthinfilmspreparedbysol-gelm

8、ethodhavepolyerystallinehexagonalwurtzitestructure.Thethinfilmsannealedat500"Cintheairhavethestr

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。