纳米氧化锌常压超高压下的烧结及其结构与性能

《纳米氧化锌常压超高压下的烧结及其结构与性能》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。

1、摘要纳米ZnO以纳米材料和重要半导体氧化物两方面的完美结合吸引了广大的科研工作者，成为近年来研究的热点。本文在成功制各出纳米ZnO陶瓷粉体的基础上，对纳米ZnO粉体的素坯成型，常压烧结行为进行了系统的研究。同时，对纳米ZnO高压下的晶粒演化进行了较为深入的探讨。在常压和高压下，成功的制备出了高密度ZnO纳米块体材料，并对其显微硬度，电性能和光吸收特性进行了研究。采用均匀沉淀法制备纳米ZnO陶瓷粉体。运用干法成型方式系统讨论了致密化过程中素坯密度、烧结温度和时间对ZnO纳米烧结体的微观结构，密度和晶粒尺寸的影响，应用晶粒生长动力学唯象理论计算了纳米ZnO常压烧结晶粒生长的表观活化能、晶粒生长速

2、率常数和晶粒生长的动力学指数。利用六面顶高压设备研究纳米ZnO高压下的晶粒演化行为。运用X射线衍射(XRD)，场发射扫描电子显微镜(FEG)，透射电镜(TEM，HRTEM)，差示扫描量热分析(Dso)等手段对样品的组成，微观结构和形貌进行了分析和表征。采用显微硬度仪，MY．1型三参数测试仪，双光束紫外可见分光光度计测定了ZnO纳米块体材料的硬度，电性能和光吸收特性。研究了微观结构对ZnO纳米块体材料性能的影响。制备的纳米ZnO陶瓷粉体纯度大于99．5％，粒子形貌为球形或类球形、分散性良好，粒度分布均匀，平均粒径尺寸20nm，最大晶粒尺寸35nm，品质符合烧结要求D,x<2D十日。获得了常压烧

3、结制备ZnO纳米块体材料的优化条件：重复成型，700℃烧结2h。烧结体相对密度91．2％，晶粒尺寸50—60nm。纳米ZnO常压烧结晶粒生长的动力学方程为：G6=1．52×1012，exp(--6．4×104／Rr)Din6．h-1冷高压调制下，纳米ZnO中存在着压致晶粒碎化现象。300。C、6GPa制得了晶粒尺寸40-50nm，相对密度大于99％的ZnO纳米块体。计算出300"(2，压力分别为1-3GPa和4-6GPa的激活体积为一5．82cm3／mol，9．66cm3／mol。常压烧结体的显微硬度随烧结温度的升高，呈现出先增大后减小的现象，硬度普遍较低。高压烧结体的硬度与理想致密ZnO的

4、硬度很接近。高密度ZnO纳米烧结体具有非线性伏安特征，且相对密度越高，晶粒尺寸越小，其非线性特征越明显。燕山人学』学博士学位论文纳米ZnO样品在波长200nto附近出现了红移，400nm附近出现了蓝移，其吸收强度均高于粗晶样品，并目+随晶粒尺寸的减小而增大。关键词纳米ZnO陶瓷粉体；烧结；晶粒生长；高压；压致碎化；硬度；，-矿特性光吸收II摘要AbstractInrccentvears，nanosizedZnOhasbeenpaidspecialattentionbecauseofitsimportantsemiconductivecharacteristic．Inthispaper，com

5、pactionandsinteringofZnOnanopowdersunderambientandhighpressureareinvestigated．BulksamplesofnanocrystaUineZnOwithhighdensityaresuccessfullyprepared．Microhardness，electricalpropertiesandlightabsorptionpropertiesofthesamplesarealsomeasured．ZnOnanopowdersarepreparedbythehomogeneousprecipitationmethod．T

6、heinfluencesofdensityofthegreendisks，sinteringtemperatureandtimeonmicrostructure，densityandgrainsizesduringtheprocessofdensificationaresystematicallydiscussed．Theapparentactivationenergyforgraingrowth，thevalueofpre-exponentialconstantandthegraingrowthkineticexponentsal'ecalculatedusingthephenomenol

7、ogicalkineticgraingrowthequation．StudyonevolutionofZnOnanocrystallinegrainsiscarriedoutonacubichigh—pressureapparatus．Thestructures，componentandmorphologyofthesamplesarecharacterizedbyX-raydiffraction，field