无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究

无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究

ID:33364039

大小:1.69 MB

页数:59页

时间:2019-02-25

无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究_第1页
无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究_第2页
无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究_第3页
无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究_第4页
无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究_第5页
资源描述:

《无铅焊点寿命预测及imc对可靠性影响的研究》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、哈尔滨理工大学工学硕士学位论文无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究摘要目前,球栅阵列封装(BOA)技术正广泛应用于微电子封装领域,表面组装技术(SMT)也逐渐进入BGA组装时代。组装焊点的失效是BGA封装器件的失效的主要原因,伴随着人们环保意识的提高,无铅化是微电子封装业的发展趋势,在服役过程中无铅焊点的可靠性是已学者研究的热点。SnAgCu无铅钎料被认为是最有可能取代传统的SnPb钎料作为表面组装焊点的材料,但是高sn含量的SnAgCu钎料必然会导致与cu焊盘界面金属间化合物(IMC)生长过快的问题,过厚的IM

2、C将会导致焊点界面的弱化甚至开裂。因此,研究BGA组装无铅焊点可靠性及IMC对其可靠性的影响具有重要的理论意义。本文采用统一型粘塑性Anand本构方程描述材料为Sn3.8AgO.7Cu和Sn37Pb焊点在热循环条件下粘塑性行为。采用有限元数值模拟方法,针对PBGA封装器件,建立了1/8三维有限元模型,分析焊点阵列的应力应变分布规律,确定了易发生疲劳失效关键焊点的位置。分析了Sn3.SA90.7Cu关键焊点的失效机制。分别采用基于塑性应变的Co伍n-Manson模型和基于能量的Morrow方程对两种钎料的关键焊点进行热疲

3、劳寿命预测,通过计算比较Sn3.8A90.7Cu关键焊点的疲劳寿命是Sll37Pb的30倍,表明Sn3.SA90.7Cu钎料具有较好抗热疲劳性能。通过对Sn3.SAgO.7Cu与Cu焊盘回流焊接后和老化条件下的界面反应进行研究,回流焊接后,其界面处的IMC层为Cu6Sn5,无Cu3Sn金属间化合物出现,经过125℃,100h的老化试验之后,在靠近Cu焊盘一侧发现了薄薄的一层Cu3Sn。对IMC层厚度的测量结果可知,厚度与时间的平方根之间呈近似的线性关系,较好的符合了Fick扩散定律。通过对关键焊点界面处的IMC层进行合

4、理的简化,进行数值模拟,模拟结果表明,当界面IMC层厚度增加时,IMC层内的等效应力增加;与此相反,钎料内部的应力变化不大,但粘塑性应变量和塑性功累积量动态增加且增加明显,因此IMC厚度增加,将会导致焊点的热疲劳寿命降低。关键词数值模拟;球栅阵列;无铅钎料;金属间化合物;热疲劳鉴玺篓詈三銮兰三兰罂圭耋竺兰三FATIGUE.LIFEPREDICYIoNFoRLEAD.FREESoLDERJoINTSANDSTUDYFOREFFECToFIMCONRELIABILITYOFSoLDERJoINTSAbstractAtpre

5、sent,theballgridarray(BOA)packagesarewidelyappliedtothefieldofmieroelectroniepackaging.∞thesurfacemountingtechnique(SMT)graduallyentersintotheepochofassembliesforBOA.ThefailureofsolderjointsisthemainreasonfordestructionofBGAdevices.Alongwithenhancingofpeople’Sco

6、nsciousnessforenvironmentalprotection,usinglead-freeSOlderwillbethedevelopmenttendencyofthemicroelectronicindustry.Recently,thestudyforreliabilityofSMTlead—freesolderjointsatworkhasattractedgreatattentionbecauseoftheserca$ol娼.Thestudyforreliabilityoflead-freesol

7、derjointshasbeenbecominganutmostconcernbyresearchers,lead-freesolderSnAgCuismostlikelyregardedasasubstitutefortraditionalSnPbsolderasthematerialofSMTsolderjoints.However,SnAgCusolderwithhighcontentofSnisboundtocauserapidlygrowthofIMCbetweensolderandCupads,larger

8、thicknessofIMCwillleadtoweakeninginterfaceofsolderjointandcrackingintheIMClayer.Thus,thestudyforreliabilitiesoflead—freesolderjointsofBGAhastheoreticalsignificance.ht

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。