时延测试向量产生方法的研究

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1、学校代号：10532学号：S11102029密级：普通湖南大学硕士学位论文时延测试向量产生方法的研究m删⋯m圳洲删㈣㈣IIIIlⅢY2605178TheResearchondelaytestVectorgenerationmethodbyDINGShaoweiB．E．(ZhengzhouInstituteofAeronauticalIndustryManagement)201OAthesissubmittedinpartialsatisfactionoftheRequirementsforthedegreeofMasterofEngineeringlnComput

2、erScienceandTechnologyintheGraduateSchoolofHunanUniversitySuperVisorProfessorKUANGJishunMay，2014湖南大学学位论文原创性声明本人郑重声明：所呈交的论文是本人在导师的指导下独立进行研究所取得的研究成果。除了文中特别加以标注引用的内容外，本论文不包含任何其他个人或集体已经发表或撰写的成果作品。对本文的研究做出重要贡献的个人和集体，均已在文中以明确方式标明。本人完全意识到本声明的法律后果由本人承担。作者签名：忑分1粞日期：幻l￡}年6月f日学位论文版权使用授权书本学位论文作者完

3、全了解学校有关保留、使用学位论文的规定，同意学校保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子版，允许论文被查阅和借阅。本人授权湖南大学可以将本学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存和汇编本学位论文。本学位论文属于1、保密口，在年解密后适用本授权书。2、不保密团(请在以上相应方框内打“√”)作者签名：丁穸佛刷谧轹J翠卟＼JL’7-日期：bI牛年6月支日日期：洲年6月占日时延测试向量产生方法的研究摘要集成电路(integratedcircuit，IC)测试是IC产品制造过程中不可缺少的环节。它既要保证IC芯片的正确逻

4、辑，又要保证IC芯片在规定的时间内做出正确的响应。随着IC系统工作频率的不断提高，一个细微的制造误差都可能对芯片的可靠性造成影响。因此，以确保IC时序特征的正确性为目标的时延测试也成为了测试领域的一个热点问题。本文分别针对小时延故障模型和跳变时延故障模型研究时延故障测试。针对小时延故障，研究新的测试产生方法，进一步减少测试产生时间，提高小时延故障覆盖率。针对跳变时延故障，提出一个故障覆盖率较高的测试产生方案。本文创新性的主要工作有：(1)充分利用电路中节点间的相互关系，提出利用统计信息指导测试产生过程的方法。提出的测试产生方法在通路选择上采取通路自增长的方式，缩小

5、了通路的搜索空间。同时，采用超速测试，把电路中的通路合理的进行分组，提高了通路的可测性。提出的统计信息方法，能够在测试产生的回退阶段提前对未知信息做出判断，从而减少由冲突导致的回溯次数，降低测试产生时间，在回溯次数的限定下，提高故障覆盖率。在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明，提出的方法在减少测试产生时间，提高小时延故障覆盖率均有一定的效果，故障覆盖率平均提高1．3％左右。(2)合理地利用固定型故障的测试产生方法，设计出一个具有较高效率的跳变时延故障测试产生方案。采取的方法把单帧电路结构改造为双帧电路结构，使得产生的测试向量满足歪斜负载(1atch．on．s

6、hift，LOS)时延测试向量的要求，并且通过电路结构图的改造，把跳变时延故障的测试产生转化为双固定型故障的测试产生。同时，把电路中节点间的统计信息应用到测试产生的过程中，进一步提高了跳变时延故障覆盖率。在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明，提出的方法提高跳变时延故障覆盖率平均达到1．02％左右。关键词：数字集成电路；小时延故障；测试产生；故障覆盖率；跳变时延故障n硕士学位论文AbStractIntheprocessofICmanufacturing，theIC(integratedcircuit)testistheindispensablelink．Itn

7、otonlyensuresthecorrectlogicofICchips，butalsoensurestomaketherightresponsesduringtheprescribedperiodoftime．WiththeconstantimprovementoftheworkfrequencyinICsystem，asmallmanufacturingerrorcanaf佗ctthereliabilityofthechip．Therefore，thedelaytesttoensuretheaccuracyofICtimingcharacteristicsa

8、lsobe